半導体装置の製造方法、基板処理装置およびプログラム

    公开(公告)号:JP2018186174A

    公开(公告)日:2018-11-22

    申请号:JP2017086443

    申请日:2017-04-25

    摘要: 【課題】基板の表面に形成された凹部を含むパターン上に窒化膜を形成する際、凹部内の窒化膜による埋め込み特性を向上させる。 【解決手段】(a)基板に対して原料ガスを供給することで、第1層を形成する工程と、(b)基板に対して窒化水素系ガスを供給することで、第1層を窒化させて、NH終端された第2層を形成する工程と、(c)基板に対して窒素ガスをプラズマ励起させて供給することで、第2層におけるNH終端の一部をN終端に改質させ、前記NH終端の前記一部とは異なる他の一部をN終端に改質させることなくNH終端のまま維持する工程と、を非同時に行うサイクルを繰り返すことで、基板の表面に形成された凹部を含むパターン上に窒化膜を形成する工程を有し、(c)において、第2層のパターンの凹部上部におけるN終端率を、第2層のパターンの凹部底部におけるN終端率よりも高くする。 【選択図】図1