荷電粒子ビーム源
    1.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2021153051A

    公开(公告)日:2021-09-30

    申请号:JP2021048709

    申请日:2021-03-23

    Abstract: 【課題】重大な劣化なしに、かつ構造の他の要素によって加えられる圧縮力でエミッタを所定の位置にクランプまたは保持する必要なしに、ビーム生成エミッタと荷電粒子ビーム(CPB)システムの光軸との改善された位置合わせ、ならびに高温での長期の安定した信頼性のある動作をする荷電粒子ビーム(CPB)源の提供。 【解決手段】荷電粒子ビーム源は、ベースに連結された導電性支持部材208と、支持部材208に連結されボアを画定する取り付け部材216と、ボア内に受容されたエミッタ部材224であって、エミッタ部材224はボア内のエミッタ部材224の周りに流される固定材料層242によって保持される。 【選択図】図3

    エミッターの作製方法
    9.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2019145443A

    公开(公告)日:2019-08-29

    申请号:JP2018030577

    申请日:2018-02-23

    Abstract: 【課題】エミッターの素材が種々多様な場合であっても、エミッターの先端を好ましい形状に成形することができるエミッターの作製方法を提供すること。 【解決手段】エミッターの作製方法は、導電性のエミッター素材の先端部を電解研磨加工し、先端に向かって漸次縮径するように加工する工程と、当該工程により加工されたエミッター素材における加工部位に荷電粒子ビームを照射してエッチング加工を行い、先端を頂点とした角錐状の先鋭部を形成する工程と、当該工程により当該先鋭部が形成されたエミッター素材の表面をスパッタリング加工し、荷電粒子ビームによるエッチング加工の痕跡を取り除く工程と、当該工程により当該痕跡を取り除かれたエミッター素材の当該先鋭部における先端の結晶構造を電界イオン顕微鏡で観察しながら、当該先端を電界誘起ガスエッチング加工によりさらに先鋭化させ、その最先端を構成する原子数を一定数以下とさせる工程とを有する。 【選択図】図5

    電子源及び電子線照射装置並びに電子源の製造方法

    公开(公告)号:JP2019071260A

    公开(公告)日:2019-05-09

    申请号:JP2017197923

    申请日:2017-10-11

    Abstract: 【課題】多方向に電子を放出可能で電子放出効率の優れた電子源、及びこれを用いた電子線照射装置、並びに電子源の製造方法を提供する。 【解決手段】第1の電極と、絶縁膜からなる電子加速層と、第2の電極とが積層された構造を備える電子源であって、表面が電子放出面を構成する前記第2の電極は、グラフェン膜又はグラファイト膜であり、前記第1の電極及び前記第2の電極の一部又は全部が、曲面を有し、前記電子放出面が曲面である電子源とすることにより、多方向に電子を放出可能とする。 【選択図】図1

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