封裝體及其製造方法
    3.
    发明专利
    封裝體及其製造方法 审中-公开
    封装体及其制造方法

    公开(公告)号:TW201921526A

    公开(公告)日:2019-06-01

    申请号:TW107134220

    申请日:2018-09-28

    IPC分类号: H01L21/56 H01L21/31

    摘要: 一種方法包括將第一封裝組件以及第二封裝組件置放在載體上。第一封裝組件的第一導電柱以及第二封裝組件的第二導電柱面向載體。所述方法更包括將第一封裝組件以及第二封裝組件包封在包封材料中,將第一封裝組件以及第二封裝組件自載體剝離,平坦化第一導電柱、第二導電柱以及包封材料,以及形成重佈線以電耦接至第一導電柱以及第二導電柱。

    简体摘要: 一种方法包括将第一封装组件以及第二封装组件置放在载体上。第一封装组件的第一导电柱以及第二封装组件的第二导电柱面向载体。所述方法更包括将第一封装组件以及第二封装组件包封在包封材料中,将第一封装组件以及第二封装组件自载体剥离,平坦化第一导电柱、第二导电柱以及包封材料,以及形成重布线以电耦接至第一导电柱以及第二导电柱。

    電子裝置及其製造方法
    6.
    发明专利
    電子裝置及其製造方法 审中-公开
    电子设备及其制造方法

    公开(公告)号:TW202008549A

    公开(公告)日:2020-02-16

    申请号:TW108127105

    申请日:2019-07-31

    IPC分类号: H01L23/58

    摘要: 提供一種電子裝置及其製造方法。所述電子裝置包括晶片封裝、設置在晶片封裝上的核心介電層、以及設置在與晶片封裝相對的核心介電層上的天線圖案。晶片封裝包括半導體晶片、密封半導體晶片的絕緣密封體、以及電性耦合到半導體晶片的重佈線結構。重佈線結構包括位在晶片封裝的最外側處的第一電路圖案以及設置在第一電路圖案與絕緣密封體之間的圖案化介電層。核心介電層接觸第一電路圖案。核心介電層與圖案化介電層具有不同的材料。天線圖案電性耦合到晶片封裝。

    简体摘要: 提供一种电子设备及其制造方法。所述电子设备包括芯片封装、设置在芯片封装上的内核介电层、以及设置在与芯片封装相对的内核介电层上的天线图案。芯片封装包括半导体芯片、密封半导体芯片的绝缘密封体、以及电性耦合到半导体芯片的重布线结构。重布线结构包括位在芯片封装的最外侧处的第一电路图案以及设置在第一电路图案与绝缘密封体之间的图案化介电层。内核介电层接触第一电路图案。内核介电层与图案化介电层具有不同的材料。天线图案电性耦合到芯片封装。