半導體封裝件及其製法
    4.
    发明专利
    半導體封裝件及其製法 审中-公开
    半导体封装件及其制法

    公开(公告)号:TW201528389A

    公开(公告)日:2015-07-16

    申请号:TW103101388

    申请日:2014-01-15

    Abstract: 一種半導體封裝件及其製法,該製法係先提供具有相對之第一表面與第二表面的第一基板,該第一表面具有複數第一電性連接墊,且該第一表面上接置有晶片,再藉由複數導電元件將具有相對之第三表面與第四表面及貫穿該第三表面與第四表面之穿孔的第二基板接置於該第一基板的第一表面上,該第三表面具有複數第二電性連接墊,該第二電性連接墊藉由該導電元件電性連接該第一電性連接墊,且令該晶片位於該第一基板與第二基板之間,最後,經由該穿孔將封裝膠體注入至該第一基板與第二基板之間,以包覆該晶片與導電元件。本發明能有效提高產品的信賴性。

    Abstract in simplified Chinese: 一种半导体封装件及其制法,该制法系先提供具有相对之第一表面与第二表面的第一基板,该第一表面具有复数第一电性连接垫,且该第一表面上接置有芯片,再借由复数导电组件将具有相对之第三表面与第四表面及贯穿该第三表面与第四表面之穿孔的第二基板接置于该第一基板的第一表面上,该第三表面具有复数第二电性连接垫,该第二电性连接垫借由该导电组件电性连接该第一电性连接垫,且令该芯片位于该第一基板与第二基板之间,最后,经由该穿孔将封装胶体注入至该第一基板与第二基板之间,以包覆该芯片与导电组件。本发明能有效提高产品的信赖性。

    封裝堆疊結構及其製法
    5.
    发明专利
    封裝堆疊結構及其製法 审中-公开
    封装堆栈结构及其制法

    公开(公告)号:TW201521164A

    公开(公告)日:2015-06-01

    申请号:TW102143690

    申请日:2013-11-29

    CPC classification number: H01L2224/16225

    Abstract: 一種封裝堆疊結構包括第一封裝基板、設於該第一封裝基板上之電子元件、藉由支撐件而疊設於該第一封裝基板上之第二封裝基板、以及設於該第一與第二封裝基板之間並包覆該電子元件與支撐件的封裝膠體,該第二封裝基板具有複數電性接觸墊與至少一凹槽,且該凹槽較該電性接觸墊鄰近該第二封裝基板之邊緣,藉此,於形成該封裝膠體時,該封裝膠體會溢流於該凹槽中,而不會流至該電性接觸墊上,以避免去除殘留之封裝膠體時損壞該電性接觸墊之問題。本發明復提供該封裝堆疊結構之製法。

    Abstract in simplified Chinese: 一种封装堆栈结构包括第一封装基板、设于该第一封装基板上之电子组件、借由支撑件而叠设于该第一封装基板上之第二封装基板、以及设于该第一与第二封装基板之间并包覆该电子组件与支撑件的封装胶体,该第二封装基板具有复数电性接触垫与至少一凹槽,且该凹槽较该电性接触垫邻近该第二封装基板之边缘,借此,于形成该封装胶体时,该封装胶体会溢流于该凹槽中,而不会流至该电性接触垫上,以避免去除残留之封装胶体时损坏该电性接触垫之问题。本发明复提供该封装堆栈结构之制法。

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