晶片封裝體及其製造方法
    8.
    发明专利
    晶片封裝體及其製造方法 审中-公开
    芯片封装体及其制造方法

    公开(公告)号:TW201606948A

    公开(公告)日:2016-02-16

    申请号:TW103127488

    申请日:2014-08-11

    IPC分类号: H01L23/12 H01L23/488

    摘要: 本發明提供一種晶片封裝體,包含半導體晶片、中介片、高分子黏著支撐層、重佈局線路以及封裝層。半導體晶片具有感應元件以及導電墊,導電墊電性連接感應元件。中介片配置於半導體晶片上方,中介片具有溝槽以及穿孔,其中溝槽暴露出部分感應元件,穿孔暴露出導電墊。高分子黏著支撐層夾設於半導體晶片與中介片之間。重佈局線路配置於中介片上方以及穿孔內以電性連接導電墊。封裝層覆蓋中介片以及重佈局線路,封裝層具有開口暴露出溝槽。

    简体摘要: 本发明提供一种芯片封装体,包含半导体芯片、中介片、高分子黏着支撑层、重布局线路以及封装层。半导体芯片具有感应组件以及导电垫,导电垫电性连接感应组件。中介片配置于半导体芯片上方,中介片具有沟槽以及穿孔,其中沟槽暴露出部分感应组件,穿孔暴露出导电垫。高分子黏着支撑层夹设于半导体芯片与中介片之间。重布局线路配置于中介片上方以及穿孔内以电性连接导电垫。封装层覆盖中介片以及重布局线路,封装层具有开口暴露出沟槽。