積層陶瓷電容器
    7.
    发明专利
    積層陶瓷電容器 有权
    积层陶瓷电容器

    公开(公告)号:TWI377586B

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:TW096145836

    申请日:2007-11-29

    IPC分类号: H01G

    摘要: 本發明所提供的積層陶瓷電容器,係能抑制在高溫負荷試驗中隨時間變化所造成的絕緣電阻降低,且即使在製造步驟中未設置再氧化處理的步驟,仍可具有高絕緣性。
    本發明的積層陶瓷電容器係將由介電質陶瓷構成的介電質層、與內部電極層交錯積層形成,其中,構成上述介電質陶瓷的結晶係由第1結晶群與第2結晶群構成;該第1結晶群係由以鈦酸鋇為主成分且鈣濃度在0.2原子%以下的結晶粒子構成;該第2結晶群係由鈣濃度達0.4原子%以上的結晶粒子構成;上述構成第1結晶群之結晶粒子之表層部的鎂與稀土族元素之各濃度(C1)、與構成第1結晶群之結晶粒子9a之中央部所含鎂與稀土族元素之各濃度(C2)的比(C2/C1),分別大於構成第2結晶群之結晶粒子9b的同濃度比(C4/C3),且當將上述構成第1結晶群之結晶粒子的面積比例設為a,將上述構成第2結晶群之結晶粒子的比例設為b時,b/(a+b)比係0.5~0.8。

    简体摘要: 本发明所提供的积层陶瓷电容器,系能抑制在高温负荷试验中随时间变化所造成的绝缘电阻降低,且即使在制造步骤中未设置再氧化处理的步骤,仍可具有高绝缘性。 本发明的积层陶瓷电容器系将由介电质陶瓷构成的介电质层、与内部电极层交错积层形成,其中,构成上述介电质陶瓷的结晶系由第1结晶群与第2结晶群构成;该第1结晶群系由以钛酸钡为主成分且钙浓度在0.2原子%以下的结晶粒子构成;该第2结晶群系由钙浓度达0.4原子%以上的结晶粒子构成;上述构成第1结晶群之结晶粒子之表层部的镁与稀土族元素之各浓度(C1)、与构成第1结晶群之结晶粒子9a之中央部所含镁与稀土族元素之各浓度(C2)的比(C2/C1),分别大于构成第2结晶群之结晶粒子9b的同浓度比(C4/C3),且当将上述构成第1结晶群之结晶粒子的面积比例设为a,将上述构成第2结晶群之结晶粒子的比例设为b时,b/(a+b)比系0.5~0.8。