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    Multicore processor having storage for core-specific operational data
    132.
    发明授权
    Multicore processor having storage for core-specific operational data 有权
    具有用于核心特定操作数据的存储的多核处理器

    公开(公告)号：US08055822B2

    公开(公告)日：2011-11-08

    申请号：US11842206

    申请日：2007-08-21

    申请人： Kerry Bernstein ,  Nazmul Habib ,  Norman J. Rohrer

    发明人： Kerry Bernstein ,  Nazmul Habib ,  Norman J. Rohrer

    IPC分类号： G06F13/12 ,  G06F19/00

    CPC分类号： G06F9/3851 ,  G06F9/3891

    摘要： An integrated circuit includes a plurality of processor cores and a readable non-volatile memory that stores information expressive of at least one operating characteristic for each of the plurality of processor cores. Also disclosed is a method to operate a data processing system, where the method includes providing a multicore processor that contains a plurality of processor cores and a readable non-volatile memory that stores information, determined during a testing operation, that is indicative of at least a maximum operating frequency for each of the plurality of processor cores. The method further includes operating a scheduler coupled to an operating system and to the multicore processor, where the scheduler is operated to be responsive at least in part to information read from the memory to schedule the execution of threads to individual ones of the processor cores for a more optimal usage of energy.

    摘要翻译： 集成电路包括多个处理器核心和可读非易失性存储器，其存储表示多个处理器核心中的每一个的至少一个操作特性的信息。 还公开了一种操作数据处理系统的方法，其中所述方法包括提供包含多个处理器核心的多核处理器和存储在测试操作期间确定的信息的可读非易失性存储器，其指示至少 用于所述多个处理器核心中的每一个的最大工作频率。 所述方法还包括操作耦合到操作系统和多核处理器的调度器，其中调度器被操作以至少部分地响应于从存储器读取的信息，以调度到处理器核心中的各个处理器核心的线程的执行 更优化的能量使用。

    Method and apparatus for dynamic measurement of across-chip temperatures
    133.
    发明授权
    Method and apparatus for dynamic measurement of across-chip temperatures 失效
    用于动态测量跨芯片温度的方法和装置

    公开(公告)号：US07946760B2

    公开(公告)日：2011-05-24

    申请号：US12126011

    申请日：2008-05-23

    申请人： Kerry Bernstein

    发明人： Kerry Bernstein

    IPC分类号： G01J5/00

    CPC分类号： G01R31/311 ,  G01J5/0096 ,  G01R21/00

    摘要： In one embodiment, the invention is a method and apparatus for dynamic measurement of across-chip temperatures. One embodiment of a method for measuring temperatures across an integrated circuit chip includes generating a plurality of surface images of the integrated circuit chip, deriving power values across the integrated circuit chip from the surface images, computing the temperatures across the integrated circuit chip in accordance with the power values, and outputting the temperatures.

    摘要翻译： 在一个实施例中，本发明是用于跨芯片温度的动态测量的方法和装置。 用于测量集成电路芯片上的温度的方法的一个实施例包括生成集成电路芯片的多个表面图像，从表面图像导出集成电路芯片的功率值，根据 功率值，并输出温度。

    Adaptive Linesize in a Cache
    136.
    发明申请
    Adaptive Linesize in a Cache 失效
    缓存中的自适应线性化

    公开(公告)号：US20110078382A1

    公开(公告)日：2011-03-31

    申请号：US12570440

    申请日：2009-09-30

    申请人： Kerry Bernstein ,  Moinuddin K. Qureshi

    发明人： Kerry Bernstein ,  Moinuddin K. Qureshi

    IPC分类号： G06F12/08 ,  G06F12/00

    CPC分类号： G06F12/0886 ,  G06F12/0864 ,  G06F2212/1016 ,  G06F2212/502

    摘要： A mechanism is provided in a cache for emulating larger linesize in a substrate with smaller linesize using gang fetching and gang replacement. Gang fetching fetches multiple lines on a cache miss to ensure that all smaller lines that make up the larger line are resident in cache at the same time. Gang replacement evicts all smaller lines in cache that would have been evicted had the cache linesize been larger. The mechanism provides adaptive linesize using set dueling by dynamically selecting between multiple linsizes depending on which linesize performs the best at runtime. Set dueling dedicates a portion of sets of the cache to always use smaller linesize and dedicates one or more portions of the sets of cache to always emulate larger linesizes. One or more counters keep track of which linesize has the best performance. The cache uses that linesize for the remainder of the sets.

    摘要翻译： 在缓存中提供了一种机制，用于在使用帮派取出和帮派替换的较小线条模拟衬底中较大的线条化。 Gang提取在高速缓存未命中获取多行，以确保组成较大行的所有较小行同时驻留在缓存中。 如果缓存线条化较大，Gang替换会将缓存中的所有较小的行排除在被驱逐之后。 该机制通过根据哪些linesize在运行时执行最好的多个linsizes之间的动态选择，提供使用集合决策的自适应线性化。 设置决斗专用于缓存的一部分，以始终使用较小的线条化，并且专用于高速缓存集中的一个或多个部分来始终模拟较大的线条。 一个或多个计数器跟踪哪些linesize具有最佳性能。 缓存使用其余集合的linesize。

    Determining relative amount of usage of data retaining device based on potential of charge storing device
    139.
    发明授权
    Determining relative amount of usage of data retaining device based on potential of charge storing device 有权
    基于电荷存储装置的潜力确定数据保存装置的相对使用量

    公开(公告)号：US07869298B2

    公开(公告)日：2011-01-11

    申请号：US12045744

    申请日：2008-03-11

    申请人： Kerry Bernstein ,  Kenneth J. Goodnow ,  Clarence R. Ogilvie ,  Sebastian T. Ventrone ,  Keith R. Williams

    发明人： Kerry Bernstein ,  Kenneth J. Goodnow ,  Clarence R. Ogilvie ,  Sebastian T. Ventrone ,  Keith R. Williams

    IPC分类号： G11C7/00

    CPC分类号： G06F12/121 ,  G06F12/122

    摘要： A system for determining a relative amount of usage of a data retaining device are disclosed. A charge storing device is coupled to a data retaining device in a manner that a use of the data retaining device triggers a charging of the charge storing device. In a period that the data retaining device idles, charges in the charge storing device decay due to natural means. As such, a potential of the charge storing device may be used to indicate an amount of usage of the data retaining device. A comparison of the potentials of two charge storing devices coupled one-to-one to two data retaining devices may be used as a basis to determine a relative amount of usage of each of the two data retaining devices comparing to the other.

    摘要翻译： 公开了一种用于确定数据保持装置的相对使用量的系统。 电荷存储装置以数据保持装置的使用触发电荷存储装置的充电的方式耦合到数据保持装置。 在数据保持装置闲置的期间，由于自然的手段，电荷存储装置中的电荷衰减。 因此，可以使用电荷存储装置的电位来指示数据保持装置的使用量。 可以使用将一对一耦合到两个数据保持装置的两个电荷存储装置的电位的比较作为确定两个数据保持装置中的每一个相对于另一个的相对使用量的基础。

    FinFET transistor and circuit
    140.
    发明授权
    FinFET transistor and circuit 有权
    FinFET晶体管和电路

    公开(公告)号：US07777276B2

    公开(公告)日：2010-08-17

    申请号：US11969339

    申请日：2008-01-04

    申请人： Kerry Bernstein ,  Edward J. Nowak ,  BethAnn Rainey

    发明人： Kerry Bernstein ,  Edward J. Nowak ,  BethAnn Rainey

    IPC分类号： H01L29/78

    CPC分类号： H01L29/785 ,  H01L29/045 ,  H01L29/66795

    摘要： A drive strength tunable FinFET, a method of drive strength tuning a FinFET, a drive strength ratio tuned FinFET circuit and a method of drive strength tuning a FinFET, wherein the FinFET has either at least one perpendicular and at least one angled fin or has at least one double-gated fin and one split-gated fin.

    摘要翻译： 驱动强度可调谐FinFET，FinFET的驱动强度调谐方法，驱动强度比调谐FinFET电路和FinFET的驱动强度调谐方法，其中FinFET具有至少一个垂直和至少一个成角度的鳍或具有 最少一个双门翅和一个分闸门。