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$Stress analysis by x-ray diffraction$

11.

发明授权
Stress analysis by x-ray diffraction 失效
Title translation: 通过X射线衍射进行应力分析

公开(公告)号：US2462374A

公开(公告)日：1949-02-22

申请号：US55716344

申请日：1944-10-04

Applicant: PHILIPS LAB INC

Inventor： GEORGE FIRTH FRANCIS

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207

12.

发明授权
Piezoelectric apparatus 失效

公开(公告)号：US2447160A

公开(公告)日：1948-08-17

申请号：US62361845

申请日：1945-10-22

Applicant: PHILIPS LAB INC

Inventor： CHALFIN NORMAN L

IPC: H03H9/10

CPC classification number: H03H9/0528 , H03H9/1014

13.

发明授权
Electron discharge device 失效

公开(公告)号：US2431097A

公开(公告)日：1947-11-18

申请号：US55321244

申请日：1944-09-08

Applicant: PHILIPS LAB INC

Inventor： GESSEL KAREL VAN

IPC: H01J19/36

CPC classification number: H01J19/36 , H01J2893/0027

14.

发明授权
X-ray tube window 失效
Title translation: X光管窗

公开(公告)号：US2663812A

公开(公告)日：1953-12-22

申请号：US14764450

申请日：1950-03-04

Applicant: PHILIPS LAB INC

Inventor： JAMISON NOEL C , KOHLER THOMAS R

IPC: H01J35/18

CPC classification number: H01J35/18 , H01J2235/168 , H01J2235/183 , Y10T403/477

15.

发明授权
Tube current stabilizer 失效
Title translation: 管电流稳定器

公开(公告)号：US2617045A

公开(公告)日：1952-11-04

申请号：US6993749

申请日：1949-01-08

Applicant: PHILIPS LAB INC

Inventor： COE MYRON R

IPC: G05F1/52 , H05G1/34

CPC classification number: G05F1/52 , H05G1/34

16.

发明授权
Rhenium plating 失效
Title translation: 铼电镀

公开(公告)号：US2616840A

公开(公告)日：1952-11-04

申请号：US5967448

申请日：1948-11-12

Applicant: PHILIPS LAB INC

Inventor： ROBERTO LEVI

IPC: C25D5/10 , C25D5/50

CPC classification number: C25D5/10 , C25D5/50

17.

发明授权
Voltage-regulated electrical power supply 失效
Title translation: 电压调节电源

公开(公告)号：US2591918A

公开(公告)日：1952-04-08

申请号：US12151849

申请日：1949-10-15

Applicant: PHILIPS LAB INC

Inventor： COLE BYRON M , FREDERIK KERKHOF

IPC: H04N3/185

CPC classification number: H04N3/185

18.

发明授权
Electron switching tubes and circuits therefor 失效
Title translation: 电子开关管及其电路

公开(公告)号：US2588292A

公开(公告)日：1952-03-04

申请号：US15697250

申请日：1950-04-20

Applicant: PHILIPS LAB INC

Inventor： RITTNER EDMUND S , GRACE FRANK E , BEUTEL GEORGE A

IPC: H01J31/04 , H01L21/00 , H03B5/12 , H03C1/36 , H03F3/28 , H03F5/00

CPC classification number: H03F5/00 , H01J31/04 , H01L21/00 , H03C1/36 , H03F3/28 , Y10S313/07

19.

发明授权
Mass spectrometer 失效

公开(公告)号：US2582216A

公开(公告)日：1952-01-15

申请号：US70352046

申请日：1946-10-16

Applicant: PHILIPS LAB INC

Inventor： KOPPIUS OTTO G

IPC: H01J49/02 , H01J49/14 , H01J49/40

CPC classification number: H01J49/40 , Y10T82/2541

20.

发明授权
Frequency measuring device 失效
Title translation: 频率测量装置

公开(公告)号：US2576900A

公开(公告)日：1951-11-27

申请号：US67638346

申请日：1946-06-13

Applicant: PHILIPS LAB INC

Inventor： BROCKMAN FRANK G

IPC: G01R23/00

CPC classification number: G01R23/00

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