公开(公告)号：US20060282186A1

公开(公告)日：2006-12-14

申请号：US11438744

申请日：2006-05-22

申请人： Preben Hansen ,  Marek Lipinski ,  Marc Schneider ,  Wilfried Schaefer ,  Jorg Sturm

发明人： Preben Hansen ,  Marek Lipinski ,  Marc Schneider ,  Wilfried Schaefer ,  Jorg Sturm

IPC分类号： G06F19/00

CPC分类号： B22D46/00 ,  G05B13/024 ,  G05B19/41885 ,  G05B2219/32017 ,  G05B2219/32216 ,  Y02P80/40 ,  Y02P90/26

摘要： A method or system for optimizing a process for producing a cast or molded product made by one or more production steps in respect of one or more predetermined parameters towards one or more optimal values, the process comprising the steps of: defining one or more technical requirements for the cast or molded product; providing a simulation of the casting or molding process; generating with each computer implemented process one or more solutions for the production step concerned that will lead to a cast product that will fulfill the technical requirements; and determining in a further computer implemented process which combination of the individual solutions results in an actual process or in a selected sub-set of production steps in which the predetermined parameter is closest to the optimal value.

摘要翻译： 一种用于优化用于生产由一个或多个生产步骤针对一个或多个最佳值的一个或多个预定参数制成的铸造或模制产品的工艺的方法或系统，所述方法包括以下步骤：定义一个或多个技术要求 用于铸造或模制产品; 提供铸造或模制过程的模拟; 每个计算机实施过程中产生一个或多个有关生产步骤的解决方案，将导致满足技术要求的铸造产品; 以及在进一步的计算机实现过程中确定各个解决方案的组合导致实际过程或选定的生产步骤子集，其中预定参数最接近最优值。

公开(公告)号：US20050267612A1

公开(公告)日：2005-12-01

申请号：US11201712

申请日：2005-08-11

申请人： Michael Metzger ,  Albrecht Sieber ,  Uwe Sturmer

发明人： Michael Metzger ,  Albrecht Sieber ,  Uwe Sturmer

IPC分类号： G05B13/04 ,  G05B17/02 ,  G06F19/00

CPC分类号： G05B17/02 ,  G05B13/042 ,  G05B2219/32017

摘要： A mathematical model for a metallurgical engineering system and a method for optimizing the operation of a metallurgical engineering system by means of said model. A plurality of units (7-12) of a metallurgical engineering system (6) are modeled by means of a mathematical model. Said units are associated with supply and discharge media flows. In order to optimize operation of the system (6), structural parameters are supplied to an optimization computer (1) by a user (5). The structural parameters establish at least the number and type of units (7-12). On the basis of start parameters, which describe the initial states of the units (7-12), and an evaluation criterion (K), the optimization computer (1) determines optimized operating parameters according to an optimization algorithm (A) using said model.

摘要翻译： 冶金工程系统的数学模型和通过所述模型优化冶金工程系统的运行的方法。 通过数学模型对冶金工程系统（6）的多个单元（7-12）进行建模。 所述单元与供应和排出介质流相关联。 为了优化系统（6）的操作，结构参数由用户（5）提供给优化计算机（1）。 结构参数至少建立单位数量和类型（7 - 12）。 基于描述单元（7-12）的初始状态的启动参数和评估标准（K），优化计算机（1）根据使用所述模型的优化算法（A）确定优化的操作参数 。

公开(公告)号：US20030114940A1

公开(公告)日：2003-06-19

申请号：US10352636

申请日：2003-01-28

发明人： Einar Brose ,  Joachim Hohne ,  Gunter Sorgel

IPC分类号： G05B013/02

CPC分类号： G05B23/0254 ,  B21B38/00 ,  G05B19/41875 ,  G05B19/41885 ,  G05B2219/32017 ,  G05B2219/32335 ,  G05B2219/33284 ,  G05B2219/45142 ,  Y02P90/22 ,  Y02P90/26

摘要： The invention relates to a method for the remote diagnosis of a technological process whereby at least one real technological process is represented by at least one real model (1-3). At least one real model (1-3) is compared with at least one reference model (8) of at least one technological reference process and from said comparison of at least one real model (1-3) with at least one reference model (8) and/or from the comparison of at least two real models (1-3) with each other, at least one evaluation of the real technological process is derived. The above permits a comprehensive remote monitoring of said technological process.

摘要翻译： 本发明涉及用于远程诊断技术过程的方法，其中至少一个实际工艺过程由至少一个实际模型（1-3）表示。 将至少一个实际模型（1-3）与至少一个技术参考过程的至少一个参考模型（8）进行比较，并且与至少一个实际模型（1-3）与至少一个参考模型（ 8）和/或从至少两个实际模型（1-3）的比较中，至少一个实际技术过程的评估被导出。 以上允许对所述技术过程进行全面的远程监控。

公开(公告)号：US06560503B1

公开(公告)日：2003-05-06

申请号：US09412679

申请日：1999-10-05

申请人： Anthony J. Toprac ,  William J. Campbell

发明人： Anthony J. Toprac ,  William J. Campbell

IPC分类号： G06F1900

CPC分类号： G05B19/41885 ,  G05B19/41875 ,  G05B2219/32017 ,  G05B2219/32191 ,  G05B2219/32201 ,  G05B2219/42001 ,  Y02P90/22 ,  Y02P90/26

摘要： The present invention provides for a method and an apparatus for monitoring controller performance using statistical process control analysis. A manufacturing model is defined. A processing run of semiconductor devices is performed as defined by the manufacturing model and implemented by a process controller. A fault detection analysis is performed on the process controller. At least one control input signal generated by the process controller is updated. The apparatus of the present invention comprises: a processing controller; a processing tool coupled with the processing controller; a metrology tool interfaced with the processing tool; a control modification data calculation unit interfaced with the metrology and connected to the processing controller in a feedback manner; a predictor function interfaced with the processing controller; an statistical process control analysis unit interfaced with the predictor function and the processing tool; and a results versus prediction analysis unit interfaced with the statistical process control analysis unit and connected to the processing controller in a feedback manner.

摘要翻译： 本发明提供一种使用统计过程控制分析来监视控制器性能的方法和装置。 定义了一个制造模型。 半导体器件的处理运行由制造模型定义并由过程控制器实现。 对过程控制器进行故障检测分析。 由过程控制器生成的至少一个控制输入信号被更新。 本发明的装置包括：处理控制器; 与处理控制器耦合的处理工具; 与加工工具接口的计量工具; 控制修改数据计算单元，与测量接口并以反馈方式连接到处理控制器; 与处理控制器接口的预测器功能; 与预测器功能和处理工具接口的统计过程控制分析单元; 以及与统计过程控制分析单元连接并以反馈方式连接到处理控制器的结果与预测分析单元。

公开(公告)号：US5694325A

公开(公告)日：1997-12-02

申请号：US562173

申请日：1995-11-22

申请人： Etsuo Fukuda ,  Masayoshi Tazawa ,  Kazuyuki Miura ,  Tomiko Takano ,  Yuichi Satoguchi ,  Yuichiro Ozaki

发明人： Etsuo Fukuda ,  Masayoshi Tazawa ,  Kazuyuki Miura ,  Tomiko Takano ,  Yuichi Satoguchi ,  Yuichiro Ozaki

IPC分类号： G05B13/04 ,  G05B17/02 ,  G05B19/418 ,  G06F19/00

CPC分类号： G05B19/41885 ,  G05B13/042 ,  G05B17/02 ,  G05B2219/32017 ,  G05B2219/32342 ,  G05B2219/32385 ,  Y02P90/20 ,  Y02P90/26

摘要： A system for automatically producing semiconductor products has a section for preparing a process flow containing a series of processes and process conditions for producing different semiconductor products in different quantities in a production line; a section for simulating the producing of semiconductor products according to the process flow; a section for feeding a result of the simulation back to the process flow preparation section, which optimizes the process flow according to the simulation result; and a section for producing semiconductor products according to the optimized process flow.

摘要翻译： 用于自动生产半导体产品的系统具有用于制备包含用于在生产线中生产不同数量的不同半导体产品的一系列工艺和工艺条件的工艺流程的部分; 根据工艺流程模拟半导体产品生产的部分; 用于将模拟结果馈送到处理流程准备部分的部分，其根据模拟结果优化处理流程; 以及根据优化的工艺流程制造半导体产品的部分。

公开(公告)号：US09933767B2

公开(公告)日：2018-04-03

申请号：US14811969

申请日：2015-07-29

申请人： Invensys Systems, Inc.

发明人： Iju V. Raj ,  Dirk K. Kozian ,  Thomas A. Troy ,  Prasanth Ittiera Eapen K ,  Elizabeth Geojy ,  Ajay Kumar Reddy Kopperla ,  Arvind Kamath

IPC分类号： G06F19/00 ,  G05B17/02

CPC分类号： G05B17/02 ,  G05B2219/32017

摘要： Systems and methods for providing a dynamically synchronized instance to a network device. A repository database stores a process model instance having a layout defined by data elements. A design tool processor coupled to the repository database provides the instance to a user device and a network device. The user device modifies data elements of the instance to generate a first version instance, and the design tool processor generates a dynamically synchronized instance for storing and serving the dynamically synchronized instance to a network device.

公开(公告)号：US09477219B2

公开(公告)日：2016-10-25

申请号：US12731348

申请日：2010-03-25

申请人： Chih-Wei Hsu ,  Jin-Ning Sung ,  Shin-Rung Lu ,  Jong-I Mou

发明人： Chih-Wei Hsu ,  Jin-Ning Sung ,  Shin-Rung Lu ,  Jong-I Mou

IPC分类号： G05B19/418

CPC分类号： G05B19/41875 ,  G05B2219/32017 ,  G05B2219/32189 ,  G05B2219/45031 ,  Y02P90/22

摘要： A method of semiconductor fabrication is provided. The method includes providing a model for a device parameter of a wafer as a function of first and second process parameters. The first and second process parameters correspond to different wafer characteristics, respectively. The method includes deriving target values of the first and second process parameters based on a specified target value of the device parameter. The method includes performing a first fabrication process in response to the target value of the first process parameter. The method includes measuring an actual value of the first process parameter thereafter. The method includes updating the model using the actual value of the first process parameter. The method includes deriving a revised target value of the second process parameter using the updated model. The method includes performing a second fabrication process in response to the revised target value of the second process parameter.

摘要翻译： 提供了一种半导体制造方法。 该方法包括提供晶片的器件参数的模型作为第一和第二工艺参数的函数。 第一和第二工艺参数分别对应于不同的晶片特性。 该方法包括基于设备参数的指定目标值导出第一和第二处理参数的目标值。 该方法包括响应于第一过程参数的目标值执行第一制造过程。 该方法包括此后测量第一处理参数的实际值。 该方法包括使用第一过程参数的实际值更新模型。 该方法包括使用更新的模型导出第二过程参数的修正目标值。 该方法包括响应于修改的第二过程参数的目标值执行第二制造过程。

公开(公告)号：US20110054865A1

公开(公告)日：2011-03-03

申请号：US12550507

申请日：2009-08-31

申请人： Mathias Fritzsche ,  Roger Kilian-Kehr ,  Wasif Gilani ,  Ralph Gerbig

发明人： Mathias Fritzsche ,  Roger Kilian-Kehr ,  Wasif Gilani ,  Ralph Gerbig

IPC分类号： G06G7/48

CPC分类号： G06Q10/0637 ,  G05B2219/32017 ,  G05B2219/32216 ,  G06F17/5009 ,  G06Q10/04 ,  G06Q10/0633 ,  G06Q10/0635 ,  G06Q10/067 ,  G06Q10/10

摘要： In a computer-implemented process modeling and simulating environment, an analyzer receives a process model with parameters in combination with data from previous or planned process performances. An analyzer receives a simulation target from a user, calculates evaluation results that represent the influence of the parameters in view of the simulation target, and presents the evaluation results as indicators to the user. Upon receiving modifications to the performance data, the process is simulated with modified performance data. Alternatively, the evaluation results are converted to computer instructions to automatically modify the process parameters.

摘要翻译： 在计算机实现的过程建模和模拟环境中，分析器接收具有与先前或计划的过程性能的数据组合的参数的过程模型。 分析仪从用户接收模拟目标，根据仿真目标计算表示参数影响的评估结果，并将评估结果作为指标呈现给用户。 在接收到性能数据的修改后，用修改的性能数据模拟该过程。 或者，将评估结果转换为计算机指令以自动修改过程参数。

公开(公告)号：US07809454B2

公开(公告)日：2010-10-05

申请号：US11856372

申请日：2007-09-17

申请人： Charles Yuanxin Hu ,  David Edward Cooper

发明人： Charles Yuanxin Hu ,  David Edward Cooper

IPC分类号： G06F19/00

CPC分类号： B29C70/38 ,  G05B19/41885 ,  G05B2219/31407 ,  G05B2219/32017 ,  Y02P90/26

摘要： A method and apparatus for managing production of a composite part. A three dimensional digital part definition is received for the composite part. A plurality of layers for the composite part is generated using the digital part definition with respect to a set of performance variables for an automated material placement system. A time needed to form the plurality of layers for the composite part to form a result and a cost ratio of production rate are identified. Production of the composite part is managed using the result.

摘要翻译： 一种用于管理复合部件的生产的方法和装置。 接收复合零件的三维数字零件定义。 使用关于自动化材料放置系统的一组性能变量的数字部分定义来生成复合部件的多个层。 形成复合部件的多个层以形成结果所需的时间，并且识别生产率的成本比。 使用结果管理复合零件的生产。

公开(公告)号：US07797062B2

公开(公告)日：2010-09-14

申请号：US10674966

申请日：2003-09-30

申请人： Frederick M. Discenzo ,  Ramdas M. Pai ,  Gerald Peter Schaller ,  Michael Scott Roote ,  Richard James Novak ,  David Lee Jensen ,  John Crandall Ference ,  Bennet Ray Williams

发明人： Frederick M. Discenzo ,  Ramdas M. Pai ,  Gerald Peter Schaller ,  Michael Scott Roote ,  Richard James Novak ,  David Lee Jensen ,  John Crandall Ference ,  Bennet Ray Williams

IPC分类号： G05B13/02

CPC分类号： G05B23/0294 ,  G05B13/024 ,  G05B13/0265 ,  G05B2219/32015 ,  G05B2219/32017 ,  G06Q10/04 ,  G06Q10/06 ,  G06Q10/06375 ,  H04L67/12 ,  H04L69/40 ,  Y02P90/82

摘要： The invention provides control systems and methodologies for controlling a process having one or more motorized pumps and associated motor drives, which provide for optimized process performance according to one or more performance criteria, such as efficiency, component life expectancy, safety, emissions, noise, vibration, operational cost, or the like. More particularly, the subject invention provides for employing machine diagnostic and/or prognostic information in connection with optimizing an overall business operation over a time horizon.

摘要翻译： 本发明提供了用于控制具有一个或多个电动泵和相关联的电动机驱动器的过程的控制系统和方法，其根据一个或多个性能标准提供优化的过程性能，例如效率，部件寿命，安全性，排放，噪声， 振动，操作成本等。 更具体地，本发明提供了在时间范围内优化整体业务操作的机器诊断和/或预测信息。