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    Case for electrical device and method of using same
    21.
    发明申请
    Case for electrical device and method of using same 审中-公开
    电气设备及其使用方法

    公开(公告)号：US20080194139A1

    公开(公告)日：2008-08-14

    申请号：US11706664

    申请日：2007-02-12

    申请人： James Chan

    发明人： James Chan

    IPC分类号： H01R13/52

    CPC分类号： H04B1/3888 ,  G06F1/1613 ,  G06F2200/1633

    摘要： A case (100) for an electrical device (290) is capable of being placed in an open configuration on a flat surface (180). The case can include: (a) a first panel (110) with a first surface (111) capable of being removably coupled to at least a portion of the electrical device; (b) a second panel (120) with an exterior surface (321) and adjacent to the first panel; and (c) at least one protrusion (215) on the exterior surface of the second panel.

    摘要翻译： 用于电气设备（290）的壳体（100）能够被放置在平坦表面（180）上的打开构造中。 壳体可以包括：（a）具有第一表面（111）的第一面板（110），其能够可拆卸地联接到电气设备的至少一部分; （b）具有外表面（321）并且邻近第一面板的第二面板（120）; 和（c）在第二面板的外表面上的至少一个突起（215）。

    Memory checker
    23.
    发明授权
    Memory checker 失效
    内存检查器

    公开(公告)号：US5446873A

    公开(公告)日：1995-08-29

    申请号：US136127

    申请日：1993-10-15

    申请人： James Chan

    发明人： James Chan

    IPC分类号： G06F11/10 ,  G06F11/34

    CPC分类号： G06F11/1032

    摘要： A new memory checker comprised of a parity checker (51), a bit storage (52), and a parity generator (53), and installed in the memory module (20) of a computer system (10) for checking data error, wherein the parity checker (51) receives the data bus and input parity signal from the computer system (10) to check out error from the data been fetched from the memory module (20) and then to provide an interrupt signal (43) to the computer system (10) upon the checking of an error.

    摘要翻译： 一种由奇偶检验器（51），位存储器（52）和奇偶校验发生器（53）组成的新的存储器检查器，并且安装在用于检查数据错误的计算机系统（10）的存储器模块（20）中，其中 奇偶检验器（51）从计算机系统（10）接收数据总线和输入奇偶校验信号，从存储器模块（20）中取出的数据中检出错误，然后向计算机提供中断信号（43） 系统（10）检查错误。

    Table lamp
    24.
    外观设计
    Table lamp 失效

    公开(公告)号：USD357763S

    公开(公告)日：1995-04-25

    申请号：US25896

    申请日：1994-07-15

    申请人： James Chan

    设计人： James Chan

    Table lamp
    25.
    外观设计
    Table lamp 失效

    公开(公告)号：USD346672S

    公开(公告)日：1994-05-03

    申请号：US713329

    申请日：1991-06-11

    申请人： James Chan

    设计人： James Chan

    Method and apparatus for testing the continuity of static random access memory cells
    26.
    发明授权
    Method and apparatus for testing the continuity of static random access memory cells 失效
    用于测试静态随机存取存储器单元的连续性的方法和装置

    公开(公告)号：US5255230A

    公开(公告)日：1993-10-19

    申请号：US816635

    申请日：1991-12-31

    申请人： James Chan ,  Robert E. Larsen ,  Steve Eskildsen

    发明人： James Chan ,  Robert E. Larsen ,  Steve Eskildsen

    IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/30 ,  G11C29/00 ,  G11C29/50 ,  G11C29/56 ,  H01L21/66 ,  H01L27/10

    CPC分类号： G01R31/3004 ,  G11C29/50 ,  G11C11/41 ,  G11C2029/5006

    摘要： The method of testing a memory array of SRAM cells each of which includes memory transistors, bit and bit# lines, precharge circuitry, and an output test terminal involving the steps of connecting selected bit and bit# lines of selected SRAM cells to the output test terminal, disconnecting the memory transistors of the selected SRAM cells from the bit and bit# lines, disconnecting the bit and bit# lines from the precharge circuitry, enabling the column select circuitry to select the columns of the selected SRAM cells, applying a preselected level voltage to the output test terminal, and measuring any current which flows.

    摘要翻译： 测试SRAM单元的存储器阵列的方法，每个存储器阵列包括存储器晶体管，位和位＃线，预充电电路和输出测试终端，其涉及将所选择的SRAM单元的选定位和位＃行连接到输出测试 从所述位和位＃断开所选择的SRAM单元的存储晶体管，从所述预充电电路断开所述位和位＃线，使所述列选择电路能够选择所选择的SRAM单元的列，应用预选的电平 电压到输出测试端子，并测量流过的任何电流。