公开(公告)号：US07321465B2

公开(公告)日：2008-01-22

申请号：US11071699

申请日：2005-03-02

申请人： Michael Totzeck ,  Vladimir Kamenov ,  Toralf Gruner

发明人： Michael Totzeck ,  Vladimir Kamenov ,  Toralf Gruner

IPC分类号： G02B27/28

CPC分类号： G02B1/08 ,  G02B1/02 ,  G02B5/3083 ,  G02B13/143 ,  G03F7/70241 ,  G03F7/705 ,  G03F7/70966 ,  Y10S359/90

摘要： A numerical optimizing method serves to reduce harmful effects caused by intrinsic birefringence in lenses of a fluoride crystal material of cubic crystal structure in an objective, particularly a projection objective for a microlithography system. Under the optimizing method, an optimizing function which takes at least one birefringence-related image aberration into account is minimized. The birefringence-related image aberration is determined from a calculation for a light ray passing through the fluoride crystal lenses. To the extent that the birefringence-related image aberration is a function of parameters of the light ray, it depends only on geometric parameters of the light ray. The numerical optimizing method is used to produce objectives in which an optical retardation as well as an asymmetry of the optical retardation are corrected. The lenses are arranged in homogeneous groups, where each homogeneous group is corrected for the optical retardation asymmetry.

摘要翻译： 数值优化方法用于减少物镜中的立方晶体结构的氟化物晶体材料的透镜中的固有双折射引起的有害影响，特别是微光刻系统的投影物镜。 在优化方法下，考虑到至少一个双折射相关图像像差的优化函数被最小化。 从通过氟化物晶体透镜的光线的计算确定双折射相关图像像差。 在双折射相关图像像差是光线参数的函数的程度上，其仅取决于光线的几何参数。 使用数值优化方法来产生其中光学延迟以及光学延迟的不对称性被校正的目标。 透镜被排列成均匀的组，其中每个均匀组被校正用于光学延迟不对称。

公开(公告)号：US20080002167A1

公开(公告)日：2008-01-03

申请号：US11427183

申请日：2006-06-28

申请人： Toralf Gruner ,  Olaf Conradi ,  Nils Dieckmann ,  Markus Schwab ,  Olaf Hmann ,  Michael Totzeck ,  Daniel Kraehmer ,  Vladimir Kamenov

发明人： Toralf Gruner ,  Olaf Conradi ,  Nils Dieckmann ,  Markus Schwab ,  Olaf Hmann ,  Michael Totzeck ,  Daniel Kraehmer ,  Vladimir Kamenov

IPC分类号： G03B27/42 ,  G02B9/00

CPC分类号： G03F7/70958 ,  G02B13/143 ,  G02B17/0856 ,  G02B17/0892 ,  G02B27/0012 ,  G03F7/70091

摘要： The invention concerns a method for operating a projection exposure apparatus to project the image of a structure of an object (5) arranged in an object plane (6) onto a substrate (10) arranged in an image plane (8). The object (5) is illuminated with light of an operating wavelength of the projection exposure apparatus according to one of several adjustable exposure modes. The light produces changes in at least one optical element (9) of the projection exposure apparatus, by which the optical properties of the projection exposure apparatus are influenced. The operation of the projection exposure apparatus makes allowance for the influencing of the optical properties of the projection exposure apparatus or a quantity dependent on the former, being calculated approximately on the basis of the exposure mode used and the structure of the object (5).

摘要翻译： 本发明涉及一种用于操作投影曝光装置以将布置在物平面（6）中的物体（5）的结构的图像投影到布置在图像平面（8）中的基板（10）上的方法。 根据多种可调曝光模式之一，物体（5）被投影曝光装置的工作波长的光照射。 该光在投影曝光装置的至少一个光学元件（9）中产生变化，由此影响投影曝光装置的光学特性。 投影曝光装置的操作允许基于所使用的曝光模式和对象（5）的结构大致计算投影曝光装置的光学特性或取决于前者的光学特性的影响。

公开(公告)号：US07068436B2

公开(公告)日：2006-06-27

申请号：US10878611

申请日：2004-06-29

申请人： Toralf Gruner ,  Hans-Jürgen Mann

发明人： Toralf Gruner ,  Hans-Jürgen Mann

IPC分类号： G02B13/24

CPC分类号： G02B27/286 ,  G02B13/14 ,  G02B17/08 ,  G02B17/0892 ,  G03F7/70191 ,  G03F7/70225 ,  G03F7/70566

摘要： A projection lens (10) for a microlithographic projection exposure apparatus has a first optical element, for example a birefringent lens (L2), that has polarization dependent properties causing intensity fluctuations in an image plane of the projection lens. These fluctuation may be produced by a second optical element (24), for example a polarization selective beam splitting layer (28), that is arranged downstream of the first optical element. A gray filter (32; 132; 232) disposed in the beam path reduces the intensity fluctuations.

摘要翻译： 用于微光刻投影曝光装置的投影透镜（10）具有第一光学元件（例如双折射透镜（L 2）），其具有导致投影透镜的图像平面中的强度波动的偏振相关特性。 这些波动可以由布置在第一光学元件下游的第二光学元件（24）产生，例如偏振选择分束层（28）。 设置在光束路径中的灰色滤光器（32; 132; 232）减小了强度波动。

公开(公告)号：US20060023179A1

公开(公告)日：2006-02-02

申请号：US11190555

申请日：2005-07-27

申请人： Joerg Tschischgale ,  Toralf Gruner

发明人： Joerg Tschischgale ,  Toralf Gruner

IPC分类号： G03B27/42

CPC分类号： G03F7/70591 ,  G03B13/00 ,  G03F7/70266

摘要： In a method for improving imaging properties of an illumination system or a projection objective of a microlithographic projection exposure apparatus, which comprises an optical element having a surface, the shape of the surface is measured directly at various points. To this end, a measuring beam is directed on the points, and the reflected or refracted beam is measured, e.g. using an interferometer. Based on deviations of the measured shape from a target shape, corrective measures are derived so that the imaging errors of the optical system are improved. The corrective measures may comprise a change in the position or the shape of the optical element being analyzed, or another optical element of the optical system. The target shape of the surface may, for example, be determined so that the optical element at least partially corrects imaging errors caused by other optical elements.

摘要翻译： 在用于改善包括具有表面的光学元件的微光刻投影曝光装置的照明系统或投影物镜的成像特性的方法中，直接在各个点测量表面的形状。 为此，测量光束被引导到这些点上，并且测量反射或折射的光束。 使用干涉仪。 基于测量形状与目标形状的偏差，导出校正措施，使得光学系统的成像误差得到改善。 校正措施可以包括被分析的光学元件的位置或形状的改变，或光学系统的另一个光学元件的变化。 例如，可以确定表面的目标形状，使得光学元件至少部分地校正由其它光学元件引起的成像误差。

公开(公告)号：US20050146704A1

公开(公告)日：2005-07-07

申请号：US10949396

申请日：2004-09-27

申请人： Toralf Gruner ,  Daniel Kraehmer ,  Michael Totzeck ,  Johannes Wangler ,  Markus Brotsack ,  Nils Dieckmann ,  Aksel Goehnermeier ,  Markus Schwab ,  Damian Fiolka ,  Markus Zenzinger

发明人： Toralf Gruner ,  Daniel Kraehmer ,  Michael Totzeck ,  Johannes Wangler ,  Markus Brotsack ,  Nils Dieckmann ,  Aksel Goehnermeier ,  Markus Schwab ,  Damian Fiolka ,  Markus Zenzinger

IPC分类号： G03F7/20 ,  G03B27/72

CPC分类号： G03F7/70566 ,  G03F7/70108 ,  G03F7/70225 ,  G03F7/70308

摘要： In an exposure method for exposing a substrate which is arranged in the area of an image plane of a projection objective as well as in a projection exposure system for performing that method, output radiation directed at the substrate and having an output polarization state is produced. Through variable adjustment of the output polarization state with the aid of at least one polarization manipulation device, the output polarization state can be formed to approach a nominal output polarization state. The polarization manipulation can be performed in a control loop on the basis of polarization-optical measuring data.

摘要翻译： 在用于曝光布置在投影物镜的像面的区域中的基板以及用于执行该方法的投影曝光系统中的曝光方法中，产生了指向基板并具有输出偏振态的输出辐射。 通过借助于至少一个偏振操纵装置对输出偏振状态的可变调节，输出偏振状态可以形成为接近标称输出偏振状态。 可以在基于偏振光学测量数据的控制回路中进行极化处理。

公开(公告)号：US20050123840A1

公开(公告)日：2005-06-09

申请号：US10984868

申请日：2004-11-10

申请人： Michael Totzeck ,  Toralf Gruner ,  Jochen Hetzler

发明人： Michael Totzeck ,  Toralf Gruner ,  Jochen Hetzler

IPC分类号： G02F1/13 ,  G03B27/42 ,  G03C5/00 ,  G03F1/00 ,  G03F7/20 ,  G03F9/00 ,  H01L21/027

CPC分类号： G03F7/70566 ,  G03F1/38 ,  G03F1/50

摘要： A mask (20) for use in a microlithographic projection exposure apparatus (10) has a support (28) on which a pattern of opaque structures (32) is applied. The intermediate spaces (36, 36′) remaining between the structures (32c) are filled with a liquid or solid dielectric material (38, 38′). This increases the polarisation dependency of the diffraction efficiency, so that the mask can be used as a polarizer.

摘要翻译： 在微光刻投影曝光装置（10）中使用的掩模（20）具有支撑体（28），在其上施加不透明结构（32）的图案。 残留在结构（32c）之间的中间空间（36,36'）填充有液体或固体电介质材料（38,38'）。 这增加了衍射效率的极化依赖性，使得掩模可以用作偏振器。

公开(公告)号：US09086637B2

公开(公告)日：2015-07-21

申请号：US13590673

申请日：2012-08-21

申请人： Bernhard Kneer ,  Markus Deguenther ,  Toralf Gruner

发明人： Bernhard Kneer ,  Markus Deguenther ,  Toralf Gruner

IPC分类号： G03B27/54 ,  G03B27/42 ,  G03F7/20

CPC分类号： G03F7/70191 ,  G03F7/70116 ,  G03F7/70341 ,  G03F7/70558 ,  G03F7/7085

摘要： A projection exposure system and a method for operating a projection exposure system for microlithography with an illumination system are disclosed. The illumination system includes at least one variably adjustable pupil-defining element. The illumination stress of at least one optical element of the projection exposure system is determined automatically in the case of an adjustment of the at least one variably adjustable pupil-defining element. From the automatically determined illumination stress, the maximum radiant power of the light source is set or determined and/or in which an illumination system is provided with which different illumination settings can be made. Usage of the projection exposure system is recorded and, from the history of the usage, at least one state parameter of at least one optical element of the projection exposure system is determined.

摘要翻译： 公开了一种用于利用照明系统操作用于微光刻的投影曝光系统的投影曝光系统和方法。 所述照明系统包括至少一个可变地调整的光瞳限定元件。 在调整至少一个可变瞳孔限定元件的情况下，自动确定投影曝光系统的至少一个光学元件的照明应力。 根据自动确定的照明应力，设置或确定光源的最大辐射功率，和/或其中提供可以进行不同照明设置的照明系统。 记录投影曝光系统的使用，并且根据使用历史确定投影曝光系统的至少一个光学元件的至少一个状态参数。

公开(公告)号：US09069263B2

公开(公告)日：2015-06-30

申请号：US12836176

申请日：2010-07-14

申请人： Olaf Conradi ,  Heiko Feldmann ,  Gerald Richter ,  Sascha Bleidistel ,  Andreas Frommeyer ,  Toralf Gruner ,  Wolfgang Hummel

发明人： Olaf Conradi ,  Heiko Feldmann ,  Gerald Richter ,  Sascha Bleidistel ,  Andreas Frommeyer ,  Toralf Gruner ,  Wolfgang Hummel

IPC分类号： G02B9/00 ,  G02B17/00 ,  G03F7/20

CPC分类号： G02B27/0068 ,  G02B3/0081 ,  G02B26/0825 ,  G03F7/7015 ,  G03F7/70266 ,  G03F7/70558 ,  Y10S359/90

摘要： The invention relates to a method for improving the imaging properties of a micro lithography projection objective, wherein the projection objective has a plurality of lenses between an object plane and an image plane, a first lens of the plurality of lenses being assigned a first manipulator (ml, Mn) for actively deforming the lens, the first lens being deformed for at least partially correcting an aberration, at least one second lens of the plurality of lenses furthermore being assigned at least one second manipulator, and the second lens being deformed in addition to the first lens. Furthermore, a method is described for selecting at least one lens of a plurality of lenses of a projection objective as actively deformable element, and a projection objective.

摘要翻译： 本发明涉及一种用于改善微光刻投影物镜的成像特性的方法，其中投影物镜在物平面和像平面之间具有多个透镜，多个透镜中的第一透镜被分配有第一操纵器（ ml，Mn），用于使透镜主动变形，第一透镜变形以至少部分地校正像差，多个透镜中的至少一个第二透镜进一步被分配至少一个第二操纵器，并且第二透镜另外变形 到第一个镜头。 此外，描述了用于选择投影物镜的多个透镜中的至少一个透镜作为主动变形元件和投影物镜的方法。

公开(公告)号：US08325323B2

公开(公告)日：2012-12-04

申请号：US12361842

申请日：2009-01-29

申请人： Olaf Conradi ,  Toralf Gruner

发明人： Olaf Conradi ,  Toralf Gruner

IPC分类号： G03F7/20

CPC分类号： G03F7/70891 ,  G03F7/70258

摘要： The disclosure relates to a method for compensating image errors, generated by intensity distributions in optical systems, such as in projection lens arrays of microlithography systems, and to respective optical systems, such as projection lens arrays of microlithography systems.

摘要翻译： 本公开涉及一种用于补偿由光学系统中的强度分布产生的图像误差的方法，例如在微光刻系统的投影透镜阵列中，以及相应的光学系统，例如微光刻系统的投影透镜阵列。

公开(公告)号：US20110222043A1

公开(公告)日：2011-09-15

申请号：US13112357

申请日：2011-05-20

申请人： Vladimir Kamenov ,  Daniel Kraehmer ,  Toralf Gruner ,  Karl-Stefan Weissenrieder ,  Heiko Feldmann ,  Achim Zirkel ,  Alexandra Pazidis ,  Bruno Thome ,  Stephan Six

发明人： Vladimir Kamenov ,  Daniel Kraehmer ,  Toralf Gruner ,  Karl-Stefan Weissenrieder ,  Heiko Feldmann ,  Achim Zirkel ,  Alexandra Pazidis ,  Bruno Thome ,  Stephan Six

IPC分类号： G03B27/72

CPC分类号： G02B1/11 ,  G03F7/70191 ,  G03F7/70308 ,  G03F7/70958

摘要： The disclosure relates to a microlithographic projection exposure apparatus, such as are used for the production of large-scale integrated electrical circuits and other microstructured components. The disclosure relates in particular to coatings of optical elements in order to increase or reduce the reflectivity.

摘要翻译： 本公开涉及一种微光刻投影曝光装置，例如用于生产大型集成电路和其它微结构元件的微光投影曝光装置。 本公开特别涉及光学元件的涂层以增加或降低反射率。