利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册

搜索结果

61 条记录 (耗时 0.036 秒)

    HIGH MOBILITY STRAINED CHANNELS FOR FIN-BASED TRANSISTORS
    1.
    发明申请
    HIGH MOBILITY STRAINED CHANNELS FOR FIN-BASED TRANSISTORS 有权
    用于基于晶体的晶体管的高移动性应变通道

    公开(公告)号：US20140027816A1

    公开(公告)日：2014-01-30

    申请号：US13560474

    申请日：2012-07-27

    申请人： Stephen M. Cea ,  Anand S. Murthy ,  Glenn A. Glass ,  Daniel B. Aubertine ,  Tahir Ghani ,  Jack T. Kavalieros ,  Roza Kotlyar

    发明人： Stephen M. Cea ,  Anand S. Murthy ,  Glenn A. Glass ,  Daniel B. Aubertine ,  Tahir Ghani ,  Jack T. Kavalieros ,  Roza Kotlyar

    IPC分类号： H01L29/78 ,  H01L29/165

    CPC分类号： H01L29/1054 ,  H01L21/76224 ,  H01L29/06 ,  H01L29/0649 ,  H01L29/0653 ,  H01L29/0847 ,  H01L29/16 ,  H01L29/161 ,  H01L29/165 ,  H01L29/66545 ,  H01L29/66795 ,  H01L29/66818 ,  H01L29/785 ,  H01L29/7851

    摘要： Techniques are disclosed for incorporating high mobility strained channels into fin-based transistors (e.g., FinFETs such as double-gate, trigate, etc), wherein a stress material is cladded onto the channel area of the fin. In one example embodiment, silicon germanium (SiGe) is cladded onto silicon fins to provide a desired stress, although other fin and cladding materials can be used. The techniques are compatible with typical process flows, and the cladding deposition can occur at a plurality of locations within the process flow. In some cases, the built-in stress from the cladding layer may be enhanced with a source/drain stressor that compresses both the fin and cladding layers in the channel. In some cases, an optional capping layer can be provided to improve the gate dielectric/semiconductor interface. In one such embodiment, silicon is provided over a SiGe cladding layer to improve the gate dielectric/semiconductor interface.

    摘要翻译： 公开了用于将高迁移率应变通道结合到鳍状晶体管（例如，诸如双栅极，三相等等的FinFET）中的技术，其中应力材料被包覆到鳍的沟道区域上。 在一个示例性实施例中，硅锗（SiGe）被包覆到硅散热片上以提供期望的应力，尽管可以使用其它鳍和包层材料。 这些技术与典型的工艺流程兼容，并且包层沉积可以发生在工艺流程内的多个位置处。 在一些情况下，来自包覆层的内置应力可以通过压缩通道中的鳍和覆层的源极/漏极应力来增强。 在一些情况下，可以提供可选的封盖层以改善栅极电介质/半导体界面。 在一个这样的实施例中，硅被提供在SiGe包覆层上以改善栅极电介质/半导体界面。

    High mobility strained channels for fin-based transistors
    2.
    发明授权
    High mobility strained channels for fin-based transistors 有权
    用于鳍式晶体管的高迁移率应变通道

    公开(公告)号：US08847281B2

    公开(公告)日：2014-09-30

    申请号：US13560474

    申请日：2012-07-27

    申请人： Stephen M. Cea ,  Anand S. Murthy ,  Glenn A. Glass ,  Daniel B. Aubertine ,  Tahir Ghani ,  Jack T. Kavalieros ,  Roza Kotlyar

    发明人： Stephen M. Cea ,  Anand S. Murthy ,  Glenn A. Glass ,  Daniel B. Aubertine ,  Tahir Ghani ,  Jack T. Kavalieros ,  Roza Kotlyar

    IPC分类号： H01L29/165

    CPC分类号： H01L29/1054 ,  H01L21/76224 ,  H01L29/06 ,  H01L29/0649 ,  H01L29/0653 ,  H01L29/0847 ,  H01L29/16 ,  H01L29/161 ,  H01L29/165 ,  H01L29/66545 ,  H01L29/66795 ,  H01L29/66818 ,  H01L29/785 ,  H01L29/7851

    摘要： Techniques are disclosed for incorporating high mobility strained channels into fin-based transistors (e.g., FinFETs such as double-gate, trigate, etc), wherein a stress material is cladded onto the channel area of the fin. In one example embodiment, silicon germanium (SiGe) is cladded onto silicon fins to provide a desired stress, although other fin and cladding materials can be used. The techniques are compatible with typical process flows, and the cladding deposition can occur at a plurality of locations within the process flow. In some cases, the built-in stress from the cladding layer may be enhanced with a source/drain stressor that compresses both the fin and cladding layers in the channel. In some cases, an optional capping layer can be provided to improve the gate dielectric/semiconductor interface. In one such embodiment, silicon is provided over a SiGe cladding layer to improve the gate dielectric/semiconductor interface.

    摘要翻译： 公开了用于将高迁移率应变通道结合到鳍状晶体管（例如，诸如双栅极，三相等等的FinFET）中的技术，其中应力材料被包覆到鳍的沟道区域上。 在一个示例性实施例中，硅锗（SiGe）被包覆到硅散热片上以提供期望的应力，尽管可以使用其它鳍和包层材料。 这些技术与典型的工艺流程兼容，并且包层沉积可以发生在工艺流程内的多个位置处。 在一些情况下，来自包覆层的内置应力可以通过压缩通道中的鳍和覆层的源极/漏极应力来增强。 在一些情况下，可以提供可选的封盖层以改善栅极电介质/半导体界面。 在一个这样的实施例中，硅被提供在SiGe包覆层上以改善栅极电介质/半导体界面。

    SELF-ALIGNED 3-D EPITAXIAL STRUCTURES FOR MOS DEVICE FABRICATION
    7.
    发明申请
    SELF-ALIGNED 3-D EPITAXIAL STRUCTURES FOR MOS DEVICE FABRICATION 有权
    用于MOS器件制造的自对准3-D外延结构

    公开(公告)号：US20140027860A1

    公开(公告)日：2014-01-30

    申请号：US13560513

    申请日：2012-07-27

    申请人： Glenn A. Glass ,  Daniel B. Aubertine ,  Anand S. Murthy ,  Gaurav Thareja ,  Tahir Ghani

    发明人： Glenn A. Glass ,  Daniel B. Aubertine ,  Anand S. Murthy ,  Gaurav Thareja ,  Tahir Ghani

    IPC分类号： H01L27/088 ,  H01L21/336

    CPC分类号： H01L21/823807 ,  H01L21/823814 ,  H01L21/823821 ,  H01L21/8258 ,  H01L29/1054

    摘要： Techniques are disclosed for customization of fin-based transistor devices to provide a diverse range of channel configurations and/or material systems within the same integrated circuit die. In accordance with one example embodiment, sacrificial fins are removed and replaced with custom semiconductor material of arbitrary composition and strain suitable for a given application. In one such case, each of a first set of the sacrificial fins is recessed or otherwise removed and replaced with a p-type material, and each of a second set of the sacrificial fins is recessed or otherwise removed and replaced with an n-type material. The p-type material can be completely independent of the process for the n-type material, and vice-versa. Numerous other circuit configurations and device variations are enabled using the techniques provided herein.

    摘要翻译： 公开了用于定制鳍式晶体管器件以提供同一集成电路管芯内的不同范围的通道配置和/或材料系统的技术。 根据一个示例性实施例，除去牺牲翅片并用适合于给定应用的任意组合和应变的定制半导体材料代替。 在一种这样的情况下，第一组牺牲翅片中的每一个凹陷或以其它方式移除并用p型材料代替，并且第二组牺牲翅片中的每一个凹入或以其它方式移除并且用n型 材料。 p型材料可以完全独立于n型材料的工艺，反之亦然。 使用本文提供的技术可实现许多其它电路配置和设备变化。