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    自動分析装置
    1.
    发明申请
    自動分析装置 审中-公开
    自动分析仪

    公开(公告)号：WO2014119435A1

    公开(公告)日：2014-08-07

    申请号：PCT/JP2014/051172

    申请日：2014-01-22

    Applicant: 株式会社 日立ハイテクノロジーズ

    Inventor： 西墻　憲一

    IPC: G01N21/27 ,  G01N35/00

    CPC classification number: G01N35/00732 ,  G01N21/0332 ,  G01N21/253 ,  G01N21/274 ,  G01N21/314 ,  G01N35/00623 ,  G01N35/025 ,  G01N2021/317 ,  G01N2035/00356 ,  G01N2201/12707 ,  G01N2201/12723 ,  G01N2201/12753

    Abstract: 　血液、尿等の生体サンプル中の目的成分の濃度または、有無を測定する自動分析装置において、光学系における寿命部品の特定又は劣化度合いを検出し、使用者に情報提供する機能を備えた自動分析装置を提供することにある。光源から被測定物質を透過した透過光の測定時に、受光素子にて検出した複数波長の透過光度分布を記憶する記憶部と、予め前記記憶部に蓄えておいた第１透過光度分布と、測定時に取得した第２透過光度分布とを比較する制御部と、を備え、制御部は、比較結果から複数部品の中から劣化部品を特定し、出力する。

    Abstract translation: 提供了一种自动分析仪，其测量生物样品（例如血液或尿液）中目标组分的存在或浓度，并且其包括识别或检测光学系统中的生命受限部分的劣化并且将信息提供给 一个用户 该装置包括存储单元，其存储当测量从光源通过待测物体发送的透射光时由光接收元件检测的多个波长的透射光分布;以及控制单元，用于比较第一发射 预先存储在存储单元中的光强度分布和在测量时获取的第二透射光强度分布，其中控制单元从比较结果中识别并输出多个部分被劣化的部分。

    一种全自动太赫兹大气特性测量系统及其校准方法
    2.
    发明申请
    一种全自动太赫兹大气特性测量系统及其校准方法 审中-公开

    公开(公告)号：WO2018113016A1

    公开(公告)日：2018-06-28

    申请号：PCT/CN2016/113040

    申请日：2016-12-29

    Applicant: 中国科学院紫金山天文台

    Inventor： 史生才 ,  潘恩斯科特 ,  姚骑均 ,  林镇辉

    IPC: G01J3/45

    CPC classification number: G01J3/45 ,  G01N21/3586 ,  G01N2201/12707

    Abstract: 一种全自动太赫兹大气特性测量系统及校核方法，系统包括校准信号源、校准设备（1）、太赫兹光谱仪（2）和系统控制设备（3），校准信号源为基于自然环境温度的双温校准信号源，即无源工作方式，有效简化了校准设备（1），并提高系统校准精度，确保系统可长周期连续、无人值守工作；太赫兹光谱仪（2）为双频段交叠超宽带MPI型太赫兹傅立叶光谱仪，采用两端口输入和两端口输出形式，输入黑体校准信号源或大气辐射信号源和内置参考黑体信号源在干涉仪作用下形成干涉条纹，然后输出到两个探测频段范围不同但在低频段交叠的探测器上，两探测器分别独立接收并输出干涉条纹电信号，在频域通过校对和累加平均后处理，提高了交叠频段观测校准数据信噪比。

    APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING PARTICLE FLOW IN A STACK
    4.
    发明申请
    APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING PARTICLE FLOW IN A STACK 审中-公开
    用于监视堆叠中的粒子流的装置和方法

    公开(公告)号：WO2018025015A1

    公开(公告)日：2018-02-08

    申请号：PCT/GB2017/052206

    申请日：2017-07-28

    Applicant: PCME LIMITED

    Inventor： UNITT, David Christopher ,  LYE, Trevor Allan ,  GREETHAM, Bruce

    IPC: G01N21/53 ,  G01N21/15 ,  G01N15/02 ,  G08B17/107

    CPC classification number: G01N15/10 ,  G01F1/74 ,  G01N15/0205 ,  G01N21/15 ,  G01N21/53 ,  G01N2015/0096 ,  G01N2015/1075 ,  G01N2021/536 ,  G01N2201/024 ,  G01N2201/12707 ,  G08B17/107

    Abstract: A method and apparatus (1) for monitoring particles flowing in a stack are disclosed. The method comprises emitting light from a light source along an optical path for scattering from the particles, rotating a rotatable monitoring assembly (15) mounted in the optical path, and detecting the scattered light using a detector. The rotatable monitoring assembly (15) contains at least two apertures, and the method further comprises rotating the rotatable monitoring assembly (15) into a plurality of different configurations. In an operation configuration, light passes through the rotatable monitoring assembly (15) and into the stack unimpeded. In a zero-check configuration, the rotatable monitoring assembly (15) blocks the light from reaching the stack. In a span-check configuration, light of varying intensity passes from the light source through the rotatable monitoring assembly (15) into the stack. In a contamination-check configuration, the light is reflected through the rotatable monitoring assembly (15) onto the detector, without entering the stack. In the safety-shutter configuration, the rotatable monitoring assembly (15) protects optical components in the instrument from particles in the stack.

    Abstract translation: 公开了一种用于监测堆叠中流动的颗粒的方法和设备（1）。 该方法包括沿着光路从光源发射光以从粒子散射，旋转安装在光路中的可旋转监测组件（15），并且使用检测器检测散射光。 可旋转的监视组件（15）包含至少两个孔，并且该方法还包括将可旋转的监视组件（15）旋转成多个不同的配置。 在操作配置中，光线不受阻碍地通过可旋转监视组件（15）并进入堆叠。 在零检查配置中，可旋转监视组件（15）阻挡光到达堆栈。 在跨度检查配置中，变化强度的光从光源通过可旋转监视组件（15）进入堆叠。 在污染检查配置中，光通过可旋转监测组件（15）反射到检测器上，而不进入堆叠。 在安全快门配置中，可旋转监控组件（15）保护仪器中的光学组件免受堆中的微粒。

    REFERENCE SWITCH ARCHITECTURES FOR NONCONTACT SENSING OF SUBSTANCES
    5.
    发明申请
    REFERENCE SWITCH ARCHITECTURES FOR NONCONTACT SENSING OF SUBSTANCES 审中-公开
    非物质感应的参考开关结构

    公开(公告)号：WO2017040431A1

    公开(公告)日：2017-03-09

    申请号：PCT/US2016/049330

    申请日：2016-08-29

    Applicant: BRIBBLA DYNAMICS LLC

    IPC: G01N21/27 ,  G01N21/47 ,  G01J3/08 ,  G02B26/04 ,  G01N21/49 ,  G01N21/21 ,  G01N21/35

    CPC classification number: G01N21/276 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/32 ,  G01J3/36 ,  G01J3/42 ,  G01J3/433 ,  G01J3/447 ,  G01N21/21 ,  G01N21/35 ,  G01N21/474 ,  G01N21/4785 ,  G01N21/49 ,  G01N2021/4709 ,  G01N2021/4778 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/12707 ,  G01N2201/12723

    Abstract: This relates to systems (600) and methods for measuring a concentration and type of substance in a sample (620) at a sampling interface. The systems (600) includes a light source (602), one or more optics (606, 610, 612), one or more modulators (634, 636), a reference (608), a detector (630), and a controller (640). The systems and methods disclosed can be capable of accounting for drift originating from the light source, one or more optics, and the detector by sharing one or more components between different measurement light paths. Additionally, the systems can be capable of differentiating between different types of drift and eliminating erroneous measurements due to stray light with the placement of one or more modulators between the light source and the sample or reference. Furthermore, the systems can be capable of detecting the substance along various locations and depths within the sample by mapping a detector pixel and a microoptics to the location and depth in the sample.

    Abstract translation: 这涉及用于在取样界面处测量样品（620）中的物质的浓度和类型的系统（600）和方法。 系统（600）包括光源（602），一个或多个光学器件（606,610,612），一个或多个调制器（634,636），参考（608），检测器（630）和控制器 （640）。 所公开的系统和方法能够通过在不同测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自光源，一个或多个光学器件和检测器的漂移。 此外，该系统能够区分不同类型的漂移，并消除由于在光源和样品或参考之间放置一个或多个调制器的杂散光而导致的错误测量。 此外，系统能够通过将检测器像素和微光学映射到样品中的位置和深度来检测样品内沿着各个位置和深度的物质。

    MICROELECTRONIC SENSOR DEVICE FOR DETECTING LABEL PARTICLES
    6.
    发明申请
    MICROELECTRONIC SENSOR DEVICE FOR DETECTING LABEL PARTICLES 审中-公开
    用于检测标签颗粒的微电子传感器装置

    公开(公告)号：WO2009001276A1

    公开(公告)日：2008-12-31

    申请号：PCT/IB2008/052468

    申请日：2008-06-23

    Applicant: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. ,  VERSCHUREN, Coen, A.

    Inventor： VERSCHUREN, Coen, A.

    IPC: H04N5/217 ,  G01N21/64 ,  G01N21/27

    CPC classification number: G01N21/6452 ,  G01N21/274 ,  G01N2201/12707 ,  G01N2201/12753 ,  H04N5/3655 ,  H04N5/367

    Abstract: The invention relates to a microelectronic sensor device for optical examinations like the detection of target components that comprise label particles, for example magnetic particles (1). An input light beam (Ll) is transmitted into a carrier (11) and e.g. totally internally reflected at a binding surface (12). The amount of light in a resulting output light beam (L2) is then detected by a light detector (31) that comprises an array (33) of pixels, wherein a pixel correction module (34) corrects the signals of the pixels with respect to their individual characteristics (e.g. dark- light-offset, linearity). These characteristics may optionally be determined under definite operating conditions before or during the use of the microelectronic sensor device.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于光学检查的微电子传感器装置，例如检测包括标签颗粒的目标部件，例如磁性颗粒（1）。 输入光束（L1）被传输到载体（11）中，例如， 在结合表面（12）处完全内部反射。 然后通过包括像素阵列（33）的光检测器（31）检测所得输出光束（L2）中的光量，其中像素校正模块（34）相对于像素校正单元 它们的个体特征（例如，暗光偏移，线性）。 这些特性可以可选地在微电子传感器装置使用之前或期间在确定的操作条件下确定。

    RECORDING OF POSITION-SPECIFIC WAVELENGTH ABSORPTION SPECTRA
    7.
    发明申请
    RECORDING OF POSITION-SPECIFIC WAVELENGTH ABSORPTION SPECTRA 审中-公开
    位置特异波长吸收谱的记录

    公开(公告)号：WO2007000166A1

    公开(公告)日：2007-01-04

    申请号：PCT/DK2006/000380

    申请日：2006-06-27

    Applicant: SFK TECHNOLOGY A/S ,  MARNØ, Henrik

    Inventor： MARNØ, Henrik

    IPC: G01N21/85 ,  G01N21/35 ,  G01N33/02

    CPC classification number: G01N33/02 ,  G01N21/274 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/359 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/5996 ,  G01N2021/8514 ,  G01N2021/8528 ,  G01N2201/0218 ,  G01N2201/08 ,  G01N2201/127 ,  G01N2201/12707 ,  G01N2201/12723

    Abstract: The invention relates to recording of position-specific optical measurements of substances such as foodstuff, building materials, combustion products etc. The invention provides online, in-situ recording of wavelength absorption spectra in substances, performed without removing a sample from the substance. In inhomogeneous products, the position correlated to each spectrum allows for extraction of both average values for larger regions as well as specific values characteristic for smaller individual portions. In a preferred embodiment, a probe with two elongate arms has light guiding and light collecting means for recording infrared absorption spectra of portions between them, as well as means for determining an insertion distance into the product. The invention may be applied to as different substances as diary products (cheese, cream, milk), fruit, berries, seeds, meat, vegetable and animal fat, animal feed, water, wine, beer, lemonades, oils, rubber and plastic materials, gypsum and plaster, cement and concrete mixes, paints, glues etc.

    Abstract translation: 本发明涉及物质如食品，建筑材料，燃烧产物等的位置特异性光学测量的记录。本发明提供了在物质上在线进行波长吸收光谱的原位记录，而不从物质中除去样品。 在不均匀的产品中，与每个频谱相关的位置允许提取较大区域的平均值以及较小单个部分的特定值。 在优选实施例中，具有两个细长臂的探针具有用于记录它们之间的部分的红外吸收光谱的光引导和光收集装置，以及用于确定到产品中的插入距离的装置。 本发明可以应用于日常产品（奶酪，奶油，牛奶），水果，浆果，种子，肉，植物和动物脂肪，动物饲料，水，葡萄酒，啤酒，柠檬水，油，橡胶和塑料材料中的不同物质 ，石膏和石膏，水泥和混凝土混合物，油漆，胶水等。

    OPTICAL FLUID TESTER
    8.
    发明申请
    OPTICAL FLUID TESTER 审中-公开
    光学流体测试仪

    公开(公告)号：WO2011045788A1

    公开(公告)日：2011-04-21

    申请号：PCT/IL2010/000836

    申请日：2010-10-13

    Applicant: VERIFUEL LTD. ,  TZIDON, Aviv ,  YAVETS-CHEN, Yehuda ,  TZIDON, Dekel

    Inventor： TZIDON, Aviv ,  YAVETS-CHEN, Yehuda ,  TZIDON, Dekel

    IPC: G01N21/31 ,  G08B21/00

    CPC classification number: G01N21/4133 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/274 ,  G01N21/29 ,  G01N33/28 ,  G01N33/2847 ,  G01N2021/0392 ,  G01N2021/4153 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/0693 ,  G01N2201/0696 ,  G01N2201/12707 ,  G01N2201/12738

    Abstract: An optical fluid tester device for testing a fluid sample in an ampoule includes an ampoule cradle, a radiation source, a radiation detector and an analyzer. The ampoule cradle supports the ampoule. The ampoule with the fluid sample serves as a lens whose focal properties are dependent on the index of refraction of the fluid sample. The radiation source irradiates the ampoule. The radiation detector is located opposite the radiation source so that the ampoule, when supported by the ampoule cradle, lies between the radiation source and the radiation detector. The detector serves to detect the intensity of the incident radiation. The analyzer verifies the composition of the fluid sample based on the detected intensity, which is dependent on the focal properties of the ampoule and is, therefore, indicative of the composition of the fluid sample.

    Abstract translation: 用于在安瓿中测试流体样品的光学流体测试装置包括安瓿座，辐射源，辐射探测器和分析器。 安瓿座支撑安瓿。 具有流体样品的安瓿用作透镜，其焦点特性取决于流体样品的折射率。 辐射源照射安瓿。 放射线检测器位于辐射源的对面，使安瓿在安瓿座支撑时位于辐射源和辐射探测器之间。 检测器用于检测入射辐射的强度。 分析仪基于检测到的强度来验证流体样品的组成，其取决于安瓿的焦点特性，因此指示流体样品的组成。

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