Abstract:
Bei einem Verfahren zum Ablegen von elektronischen Bauteilen (6) auf einem Substrat (9) wird das Bauteil von einem Primärwerkzeug (4) zunächst zu einer Zwischenstation (10) und von dort mit einem Sekundärwerkzeug (12) zum Substrat transportiert. Die jeweilige Ist-Lage des Chips vor der Aufnahme an der Vorratsstation (7) bzw. auf der Zwischenstation (10) sowie die Lage des Substrats an der Ablagestation (14) werden durch Überwachungseinrichtungen, insbesondere durch Kameras (1, 2, 11) ermittelt. Abweichungen relativ zu einer vorbestimmten Soll-Lage auf dem Substrat können durch Relativbewegung der Werkzeuge oder ggf. der Arbeitsstationen auskorrigiert werden. Der Vorteil dieses Verfahrens besteht darin, dass allfällige Verschiebefehler bei der Aufnahme eines Bauteils durch nochmaliges Vermessen an der Zwischenstation eliminiert werden können. Ausserdem kann das Sekundärwerkzeug (12), das zwischen der Zwischenstation (10) und der Ablagestation (14) pendelt, wesentlich anderen Betriebsbedingungen, beispielsweise wesentlich höheren Temperaturen ausgesetzt werden, ohne dabei die Bauteile an der Vorratsstation (17) zu gefährden.
Abstract:
Bei einem Verfahren zum Ablegen von elektronischen Bauteilen (1) auf ein Substrat (2) an einer Ablagestation (3) wird das mit einer Auflageseite (4) an einer Vorratsstation (5) aufliegende Bauteil mit einem Primärwerkzeug (6a, 6b) aufgenommen und durch eine Drehbewegung auf eine über der Ebene der Vorratsstation (5) liegende Bereitstellungsebene (7) transportiert. Das Bauteil wird sodann in der Bereitstellungsebene mittels einer Wendevor-richtung (9) vom Primärwerkzeug abgenommen und derart gewendet und einem Sekundärwerkzeug (8) übergeben, dass es wiederum mit der gleichen Auflageseite auf das Substrat abgesetzt werden kann. Die Wendevorrichtung (9) kann von einer Betriebsstellung in eine Ruhestellung gefahren werden, sodass auch ein Betrieb ohne Rückwendung möglich ist, wobei das Sekundärwerkzeug (8) die Bauteile unmittelbar vom Primärwerkzeug (6a, 6b) übernimmt.
Abstract:
Die Folie (2) mit dem abzulösenden Bauteil (1) wird im Bereich des Bauteils auf ein Ablösewerkzeug (5) platziert, das über wenigstens ein in einer Stützebene (11) verlaufendes Stützelement (6) für die Folie verfügt. Die Folie wird mittels Unterdruck sowohl gegen das Stützelement (6) als auch teilweise unter die Stützebene gesaugt. Im Bereich des Stützelements ist wenigstens ein Flächenabschnitt (8) vorgesehen, der zu Beginn des Ablösevorgangs in der Stützebene verläuft und der nach dem Erfassen des Bauteils (1) mit einem Saugwerkzeug (4) unter Aufrechterhaltung des Unterdrucks planparallel zur Stützebene bewegt werden kann. Dadurch kann der Ableseprozess der Folie in einer geführten Bewegung gesteuert werden, ohne dass eine Beschädigung oder Verschiebung des Bauteils stattfindet.
Abstract:
An apparatus for manipulating objects, in particular semiconductor chips, is presented. The apparatus comprises: a first body section comprising a first plurality of electrical terminals; a second body section comprising a second plurality of electrical terminals, and configured to swivel relative to the first body section around a swivel axis; a flexible flat cable for facilitating an electric connection between the first plurality of electrical terminals and the second plurality of electrical terminals, said flexible flat cable being configured for sustaining repeated bending around at least one bending axis; and means for fixing the flexible flat cable with the bending axis or the bending axes essentially parallel to the swivel axis, said means for fixing comprising a first fixation mounted to the first body portion, and a second fixation mounted to the second body portion. Also presented is a flexible flat cable.
Abstract:
A tool tip for handling a planar object, in particular a semiconductor die, to be delivered to a target location by a handling tool, in particular a place tool of a die bonder, is presented. The tool tip comprises a rigid tool body for connecting the tool tip to the handling tool; and a first elastic material region consisting of a first elastic material provided on the rigid tool body. A protective material region is formed on the first elastic material region, and a work surface to which the planar object may be temporarily attached is formed on said protective material region.
Abstract:
Bei einem Verfahren bzw. bei einer Vorrichtung zum Ablegen von elektronischen Bauteilen (1) auf ein Substrat (2) an einer Ablagestation (3) wird das mit einer Auflageseite (4) an einer Vorratsstation aufliegende Bauteil mit einem Primärwerkzeug (6) aufgenommen und durch eine Drehbewegung wegtransportiert und we- nigstens einem Schwenkwerkzeug (41, 42) übergeben. Der Weg des Bauteils zwischen der Ebene (47) der Vorratsstation und einer höher gelegenen Bereitstellungsebene (7) wird dabei in wenigstens zwei getrennten Kurvenbewegungen zurückgelegt. In der Bereitstellungsebene wird das Bauteil von wenigstens einem Sekundärwerkzeug übernommen, über das Substrat transportiert und dort abgesetzt. Je nach dem, ob das Primärwerkzeug das Bauteil zuerst an ein Zwischenschwenkwerkzeug (41) oder direkt einem Endschwenkwerkzeug (42) übergibt, kann das Bauteil wieder mit der gleichen Auflageseite oder aber mit seiner Strukturseite auf das Substrat abgelegt werden.
Abstract:
Ein Platzierwerkzeug, welches in Richtung einer z-Achse senkrecht zu einem Substrat bewegbar ist, umfasst: ein Halteelement für ein Halbleiterbauelement, welches ein Heizelement aufweist; eine Aufnahme für das Halteelement, welche drehbar um die z-Achse am Platzierwerkzeug gelagert ist und einen Isolationskörper aus wärmeisolierendem Material aufweist; einen Antrieb für die Aufnahme, mittels welchem die Aufnahme um die z-Achse gedreht werden kann; und eine Zuführung für ein Kühlfluid, mittels welchem die Aufnahme für das Halteelement gekühlt werden kann.