Abstract:
Bei einem Verfahren zum Ablegen von elektronischen Bauteilen (6) auf einem Substrat (9) wird das Bauteil von einem Primärwerkzeug (4) zunächst zu einer Zwischenstation (10) und von dort mit einem Sekundärwerkzeug (12) zum Substrat transportiert. Die jeweilige Ist-Lage des Chips vor der Aufnahme an der Vorratsstation (7) bzw. auf der Zwischenstation (10) sowie die Lage des Substrats an der Ablagestation (14) werden durch Überwachungseinrichtungen, insbesondere durch Kameras (1, 2, 11) ermittelt. Abweichungen relativ zu einer vorbestimmten Soll-Lage auf dem Substrat können durch Relativbewegung der Werkzeuge oder ggf. der Arbeitsstationen auskorrigiert werden. Der Vorteil dieses Verfahrens besteht darin, dass allfällige Verschiebefehler bei der Aufnahme eines Bauteils durch nochmaliges Vermessen an der Zwischenstation eliminiert werden können. Ausserdem kann das Sekundärwerkzeug (12), das zwischen der Zwischenstation (10) und der Ablagestation (14) pendelt, wesentlich anderen Betriebsbedingungen, beispielsweise wesentlich höheren Temperaturen ausgesetzt werden, ohne dabei die Bauteile an der Vorratsstation (17) zu gefährden.
Abstract:
In einer Baugruppe sind ein Halbleiterchip (2) und ein weiteres Bauteil (3), beispielsweise ein starrer oder flexibler Schaltungsträger oder ein Leadframe durch einen Verbindungsstrang (4) miteinander verbunden. Der Verbindungsstrang (4) besteht aus einer elektrisch leitfähigen Masse, die in pastöser oder flüssiger Form auftragbar ist.
Abstract:
Eine Vorrichtung (1) zum Fixieren eines flächigen Objekts, ins- besondere eines Substrats (2) auf einer Arbeitsfläche (4) mit- tels Unterdruck verfügt über eine wenigstens teilweise transparente Auflageplatte (5), deren eine Seite die Arbeitsfläche bildet und die eine im Abstand zur Arbeitsfläche angeordnete Rückseite mit einer strahlungsreflektierenden Struktur (7) aufweist. Die Auflageplatte weist ausserdem Unterdruckkanäle auf, die an eine Unterdruckleitung anschliessbar sind und die in die Arbeitsfläche münden. Um das Substrat im Durchlicht möglichst homogen zu beleuchten, ist wenigstens eine Lichtquelle (10) vorgesehen, deren Strahlung in die Auflageplatte einspeisbar ist. Ausserdem steht die Arbeitsfläche vorzugsweise in Wirkverbindung mit einer Heizvorrichtung (11), sodass das Substrat (2) erwärmt werden kann.
Abstract:
Workpieces (1), e.g. chips, are removed from a locating plane (3) using a transfer unit (2) and transported to a delivery plane (5). The feed path (4) is, consequently, covered in two working phases, each workpiece being deposited on an intermediate station (6) arranged in the region of the feed path. The transfer unit (2) has two working heads (7, 8) which each simultaneously transport a workpiece from the receiving plane to the intermediate station, and from the intermediate station to the delivery plane. The workpiece can optionally be pivoted or rotated to the intermediate station with the result that its lower surface can be grasped by the depositing head (8).
Abstract:
Zum Handhaben eines flächigen Objekts (2) wie z.B. eines Halbleiterchips (2) relativ zu einer Arbeitsfläche (7) ist ein gegen die Arbeitsfläche bewegbares Werkzeug (3) vorgesehen, das einen Schaft (4) und einen mit dem Schaft verbundenen Werkzeugkopf (5) mit einer ebenen Stirnseite (6) zum Beaufschlagen einer Anschlagfläche (22) des Objekts mittels Druck aufweist, wobei der Werkzeugkopf (5) mit Hilfe einer Gelenkanordnung (12) derart gelenkig am Schaft (4) gelagert ist, dass zum Ausgleich einer Schieflage in Bezug auf die Winkellage des Objektes (2) und/oder der Arbeitsfläche (7) die Stirnseite (6) anpassbar ist.
Abstract:
Bei einem Verfahren zum Ablegen von elektronischen Bauteilen (1) auf ein Substrat (2) an einer Ablagestation (3) wird das mit einer Auflageseite (4) an einer Vorratsstation (5) aufliegende Bauteil mit einem Primärwerkzeug (6a, 6b) aufgenommen und durch eine Drehbewegung auf eine über der Ebene der Vorratsstation (5) liegende Bereitstellungsebene (7) transportiert. Das Bauteil wird sodann in der Bereitstellungsebene mittels einer Wendevor-richtung (9) vom Primärwerkzeug abgenommen und derart gewendet und einem Sekundärwerkzeug (8) übergeben, dass es wiederum mit der gleichen Auflageseite auf das Substrat abgesetzt werden kann. Die Wendevorrichtung (9) kann von einer Betriebsstellung in eine Ruhestellung gefahren werden, sodass auch ein Betrieb ohne Rückwendung möglich ist, wobei das Sekundärwerkzeug (8) die Bauteile unmittelbar vom Primärwerkzeug (6a, 6b) übernimmt.
Abstract:
Die Folie (2) mit dem abzulösenden Bauteil (1) wird im Bereich des Bauteils auf ein Ablösewerkzeug (5) platziert, das über wenigstens ein in einer Stützebene (11) verlaufendes Stützelement (6) für die Folie verfügt. Die Folie wird mittels Unterdruck sowohl gegen das Stützelement (6) als auch teilweise unter die Stützebene gesaugt. Im Bereich des Stützelements ist wenigstens ein Flächenabschnitt (8) vorgesehen, der zu Beginn des Ablösevorgangs in der Stützebene verläuft und der nach dem Erfassen des Bauteils (1) mit einem Saugwerkzeug (4) unter Aufrechterhaltung des Unterdrucks planparallel zur Stützebene bewegt werden kann. Dadurch kann der Ableseprozess der Folie in einer geführten Bewegung gesteuert werden, ohne dass eine Beschädigung oder Verschiebung des Bauteils stattfindet.