Abstract:
Representative implementations of devices and techniques provide a device and a technique for processing integrated circuit (IC) dies. The device comprises a die tray (such as a pick and place tray, for example) for holding the dies during processing. The die tray may include an array of pockets sized to hold individual dies. The technique can include loading dies on the die tray, cleaning the top and bottom surfaces of the dies, and ashing and activating both surfaces of the dies while on the die tray, eliminating the need to turn the dies over during processing.
Abstract:
Eine Bauteilhandhabungsvorrichtung dient zum Entnehmen von Bauteilen aus einem strukturierten Bauteilvorrat und zum Ablegen der entnommenen Bauteile an einer Empfangseinrichtung. Diese muss vor der erstmaligen Inbetriebnahme, nach dem Auswechseln von Vorrichtungsbestandteilen oder nach Wartungsarbeiten jeweils neu justiert werden, um den Präzisionsanforderungen beim Handhaben der Bauteile gerecht zu werden. Die Bauteilhandhabungsvorrichtung verfügt hierzu über eine Selbstjustierungsvorrichtung, welche es ermöglicht ohne manuelles Eingreifen eines Bedieners die Vorrichtung zeiteffizient und mit hoher Präzision zu justieren. Die Selbstjustierungsvorrichtung besteht hierbei aus einer Mehrzahl von optischen Sensoren und einer Steuerung Ein Abgleich der durch die optischen Sensoren gewonnenen Messergebnisse mit Hilfe von originär für die Bauteilkontrolle während der Fertigung installierten Lage- und Eigenschaftssensoren stellt ein hohes Maß an Verfahrenszuverlässigkeit her und ermöglicht gleichzeitig die Kontrolle von Vorrichtungsbestandteilen auf Beschädigung.
Abstract:
Bei einem Verfahren zur elektrischen Kontaktierung eines Bauteils (10) (z.B. eines Leistungsbauteils und/oder eines (Halbleiter)Bauteils mit mindestens einem Transistor, vorzugsweise einem IGBT (eng. insulated-gate bipolar transistor)) mit zumindest einem Kontakt (40, 50) wird an den zumindest einen Kontakt (40, 50) zumindest ein offenporiges Kontaktstück (60, 70) galvanisch (elektrochemisch oder außenstromfrei) angebunden. Damit wird ein Bauteilmodul gebildet. Der Kontakt (40, 50) ist vorzugsweise ein Flachteil bzw. weist eine Kontaktfläche auf, deren größte flächige Erstreckung größer ist als eine Erstreckung des Kontakts (40, 50) senkrecht zu dieser Kontaktfläche. Die Temperatur der galvanischen Anbindung beträgt höchstens 100 °C, vorzugsweise höchstens 60 °C, zweckmäßig höchstens 20 °C und idealerweise höchstens 5 °C und/oder weicht von der Betriebstemperatur des Bauteils um höchstens 50 °C, vorzugsweise um höchstens 20 °C, insbesondere um höchstens 10 °C und idealerweise um höchstens 5 °C, vorzugsweise höchstens 2 °C, ab. Das Bauteil (10) kann mittels des Kontaktstücks (60, 70) mit einem weiteren Bauteil, Stromleiter und/oder Substrat (90) kontaktiert werden. Vorzugsweise wird ein Bauteil (10) mit zwei Kontakten (40, 50) an einander abgewandten Seiten des Bauteils (10) herangezogen, wobei je Kontakt (40, 50) zumindest ein offenporiges Kontaktstück (60, 70) an dieser galvanisch angebunden wird.
Abstract:
In accordance with certain embodiments, electronic components such as light-emitting elements are bonded to connection points on a substrate via pressure applied via a membrane and curing of a pressure-activated adhesive.
Abstract:
Micro pick-and-bond heads, assembly methods, and device assemblies. In, embodiments, micro pick-and-bond heads transfer micro device elements, such as (micro) LEDs, en masse from a source substrate to a target substrate, such as a LED display substrate. Anchor and release structures on the source substrate enable device elements to be separated from a source substrate, while pressure sensitive adhesive (PSA) enables device elements to be temporarily affixed to pedestals of a micro pick-and bond head. Once the device elements are permanently affixed to a target substrate, the PSA interface may be defeated through peeling and/or thermal decomposition of an interface layer.
Abstract:
Sintering device (10) for sintering at least one electronic assembly (BG), having a lower die (20) and an upper die (30) which is slidable towards the lower die (20), or a lower die (20) which is slidable towards the upper die (30), wherein the lower die (20) forms a support for the assembly (BG) to be sintered and the upper die (30) comprises a receptacle which receives a pressure pad (32) for exerting pressure directed towards the lower die (20) and which comprises a delimitation wall (34) which laterally surrounds the pressure pad (32), and wherein the delimitation wall (34) has an outer delimitation wall (34a) and an inner delimitation wall (34b) which is surrounded in an adjacent manner by the outer delimitation wall (34a), and wherein the inner delimitation wall (34b) is mounted so as to be slidable towards the outer delimitation wall (34a) and, when pressure in the direction of the upper die (30) is exerted on the pressure pad (32), is mounted so as to be slid in the direction of the lower die (20), whereby, following the placing of the inner delimitation wall (34b) on the lower die (20), the pressure pad (32) is displaceable in the direction of the lower die (20).