PROTECTING TRANSISTOR ELEMENTS AGAINST DEGRADING SPECIES
    2.
    发明申请
    PROTECTING TRANSISTOR ELEMENTS AGAINST DEGRADING SPECIES 审中-公开
    保护对降解物种的晶体管元素

    公开(公告)号:WO2016012466A1

    公开(公告)日:2016-01-28

    申请号:PCT/EP2015/066684

    申请日:2015-07-21

    IPC分类号: H01L27/32 H01L51/00 H01L51/05

    摘要: A technique comprising: providing a stack of layers defining at least fa) source and drain electrodes, (b) gate electrode, and (c) semiconductor channel of at least one transistor; depositing one or more organic insulating layers over the stack; removing at least part of the stack in one or more selected regions by an ablation technique; depositing conductor material over the stack in at least the one or more ablated regions and one or more border regions immediately surrounding a respective ablated region; and depositing inorganic insulating material over the stack at least in the ablated regions and the border regions to cover the ablated regions and make direct contact with said conductor material in said one or more border regions all around the respective ablated region.

    摘要翻译: 一种技术,包括:提供限定至少一个源极和漏极的层的堆叠,(b)栅电极和(c)至少一个晶体管的半导体沟道; 在堆叠上沉积一个或多个有机绝缘层; 通过消融技术去除一个或多个所选区域中的堆叠的至少一部分; 在至少一个或多个烧蚀区域和一个或多个边界区域中在堆叠上沉积导体材料,并且立即围绕相应的烧蚀区域; 以及至少在所述烧蚀区域和所述边界区域中在所述堆叠上沉积无机绝缘材料以覆盖所述烧蚀区域,并且使所述一个或多个边界区域中的所述导体材料在相应的烧蚀区域周围直接接触。

    半導体素子及び絶縁層形成用組成物
    4.
    发明申请
    半導体素子及び絶縁層形成用組成物 审中-公开
    半导体元件和绝缘层形成组合物

    公开(公告)号:WO2015146926A1

    公开(公告)日:2015-10-01

    申请号:PCT/JP2015/058775

    申请日:2015-03-23

    摘要:  半導体層と該半導体層に隣接する絶縁層とを有する半導体素子であって、前記絶縁層が、下記一般式(IA)で表される繰り返し単位(IA)と下記一般式(IB)で表される繰り返し単位(IB)とを有する高分子化合物の架橋物で形成されている半導体素子。 一般式(IA)中、R 1a は水素原子、ハロゲン原子又はアルキル基を表す。L 1a 及びL 2a は各々独立に単結合又は連結基を表す。Xは架橋性基を表す。m2aは1~5の整数を表し、m2aが2以上の場合、m2a個のXは互いに同一でも異なっていてもよい。m1aは1~5の整数を表し、m1aが2以上の場合、m1a個の(-L 2a -(X)m2a)は互いに同一でも異なっていてもよい。一般式(IB)中、R 1b は水素原子、ハロゲン原子又はアルキル基を表す。L 1b は単結合又は連結基を表し、Ar 1b は芳香族環を表す。m1bは1~5の整数を表す。

    摘要翻译: 一种半导体元件,其具有与所述半导体层相邻的半导体层和绝缘层。 通过交联具有可由通式(IA)表示的重复单元(IA)和可由通式(IB)表示的重复单元(IB))的高分子化合物形成绝缘层。 通式(IA)通式(IB)在通式(IA)中,R 1a表示氢原子,卤素原子或烷基; L1a和L2a各自独立地表示单键或连接基团; X表示可交联基团; m2a表示1〜5的整数, 如果所述整数大于或等于2,则m2a X可以彼此相同或不同; m1a表示1〜5的整数, 并且如果所述整数大于或等于2,则m1a(-L2a-(X)m2a)s可以彼此相同或不同。 在通式(IB)中,R 1b表示氢原子,卤素原子或烷基; L1b表示单键或连接基团; Ar1b表示芳香环; m1b表示1〜5的整数。

    有機薄膜トランジスタ
    6.
    发明申请
    有機薄膜トランジスタ 审中-公开
    有机薄膜晶体管

    公开(公告)号:WO2015133377A1

    公开(公告)日:2015-09-11

    申请号:PCT/JP2015/055709

    申请日:2015-02-26

    摘要:  基板上に、ゲート電極と、有機半導体層と、該ゲート電極と該有機半導体層との間に設けられたゲート絶縁層と、該有機半導体層に接して設けられ、該有機半導体層を介して連結されたソース電極及びドレイン電極とを有する有機薄膜トランジスタであって、 上記有機半導体層が、ブロック共重合体がミクロ相分離してなる層に接して設けられている、有機薄膜トランジスタ。

    摘要翻译: 一种有机薄膜晶体管,其在基板上具有设置在所述栅电极和所述有机半导体层之间的栅电极,有机半导体层,栅极绝缘层,与所述有机半导体接触设置的源电极和漏极 层,并且通过有机半导体层耦合在一起,有机半导体层设置成与通过嵌段共聚物的微层分离形成的层接触。

    薄膜トランジスタ
    7.
    发明申请
    薄膜トランジスタ 审中-公开
    薄膜晶体管

    公开(公告)号:WO2015133372A1

    公开(公告)日:2015-09-11

    申请号:PCT/JP2015/055704

    申请日:2015-02-26

    发明人: 滝沢 裕雄

    摘要:  基板上に、ゲート電極と、半導体層と、該ゲート電極と該半導体層との間に設けられた、有機高分子化合物で形成されたゲート絶縁層と、該半導体層に接して設けられ、該半導体層を介して連結されたソース電極及びドレイン電極とを有する薄膜トランジスタであって、 前記ゲート絶縁層中、Mg、Ca、Ba、Al、Sn、Pb、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn及びAgから選ばれる金属の含有量が総量で10ppb~1ppmであるか、又は、ハロゲンイオン、硫酸イオン、硝酸イオン及びリン酸イオンから選ばれる非金属イオン性物質の含有量が総量で1ppm~100ppmである、薄膜トランジスタ。

    摘要翻译: 一种薄膜晶体管,在基板上具有栅电极; 半导体层; 栅极绝缘层,设置在所述栅电极和所述半导体层之间,并由有机高分子化合物形成; 以及源极电极和漏电极,与半导体层接触,并经由半导体层连接。 在栅极绝缘层中从Mg,Ca,Ba,Al,Sn,Pb,Cr,Mn,Fe,Ni,Cu,Zn和Ag中选出的金属的总量为10ppb〜1ppm, 在栅极绝缘层中选自卤离子,硫酸根离子,硝酸根离子和磷酸根离子的非金属离子物质为1ppm〜100ppm。