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公开(公告)号：CN101919039B
公开(公告)日：2012-12-05
申请号：CN200880122545.2
申请日：2008-12-17
申请人： 伊斯梅卡半导体控股公司
IPC分类号： H01L21/68 , H01L21/683 , H01L21/00
CPC分类号： H01L21/68 , G01R31/01 , H01L21/67144 , H01L21/67259 , H01L21/6838
摘要： 一种采用转台内与电子元件或装配设备一起使用的真空拾取管嘴对准小尺寸元件的方法和装置。该方法包括步骤：用拾取管嘴拾取该元件；测量该元件相对于限定值的位置；将由该拾取管嘴所固持的元件与对准设备接触；用该对准设备固持该元件以及；基于该位置测量移动该对准设备从而对准该元件。
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公开(公告)号：CN102175963A
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN201110035179.0
申请日：2009-03-10
申请人： 精工爱普生株式会社
CPC分类号： G01R31/2893 , G01R31/01
摘要： 本发明提供了进行电子部件的测试的部件测试装置。该部件测试装置包括部件供给装置、输送爪和部件排出装置。上述多个功能台相互具有不同的功能，同时沿上述输送爪的移动方向等间隔地被排列。上述输送爪包括可分别保持上述电子部件且可相互独立地驱动的多个定位单元。上述多个定位单元沿从上述供给位置向上述测试位置的上述电子部件的输送方向以与上述功能台的排列间隔相同的间隔被排列。
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公开(公告)号：CN100385247C
公开(公告)日：2008-04-30
申请号：CN02820892.7
申请日：2002-10-09
申请人： 伊来克格拉斯有限公司
IPC分类号： G01R31/316 , G01R31/28 , G01R1/073
CPC分类号： G01R31/01 , G01R31/2886
摘要： 本发明提供一种测试基片上的电路的方法。一般而言，基片位于传递卡盘(26)上，测试卡盘(32)的表面移动至与基片接触，该基片被固定到测试卡盘(32)上，测试卡盘(32)相对传递卡盘(26)移动，以便基片从传递卡盘(26)移开，基片上端子移动与触点接触，以通过端子和触点，将电路与电测试仪电连接，信号通过电测试仪和电路间的端子和触点中继，端子与触点断开，并且基片被从测试卡盘(32)上移走。
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公开(公告)号：CN1291235C
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN01820180.6
申请日：2001-12-07
申请人： 株式会社爱德万测试
CPC分类号： G01R31/2863 , G01R1/0408 , G01R1/0458 , G01R31/01
摘要： 提供一种电子零件试验用插座以及应用此插座的电子零件试验装置。拟解决的问题是不使噪声进入施加给IC器件等电子零件的试验信号和从IC器件等电子零件读出的响应信号中，从而控制IC插座等电子零件试验用插座的温度，为了解决该课题，通过气体流出口(65)与气体流入口(76)使电子零件试验用插座底盘(6)的第一空间(67)与电子零件试验用插座(7)的插座主体内部空间(75)连通，同时通过气体流入口(66)与气体流出口(77)使电子零件试验用插座底盘(6)的第二空间(68)与电子零件试验用插座(7)的插座主体内部空间(75)连通。
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公开(公告)号：CN1288734C
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：CN02119364.9
申请日：2002-05-15
申请人： 株式会社半导体能源研究所
发明人： 广木正明
CPC分类号： G01R19/0084 , G01R1/07 , G01R31/01
摘要： 一种检查方法，借助于消除在布线或探针端子上建立探针的必要而简化了检查步骤，以及一种用来执行检查步骤的检查装置。电压被施加到各个被检查的电路或电路元件，以便使其工作。对各个被检查的电路或电路元件在工作过程中的输出进行信号处理，以便形成包括有关电路或电路元件工作状态的信息的信号(工作信息信号)。工作信息信号被放大，并用被放大了的工作信息信号对分别输入的交流电流的电压幅度进行调制。以非接触的方式读出被调制了的交流电流的电压，从而确定相应的电路或电路元件无缺陷还是有缺陷。
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公开(公告)号：CN1802568A
公开(公告)日：2006-07-12
申请号：CN03826755.1
申请日：2003-06-04
申请人： 株式会社爱德万测试
发明人： 中村浩人
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2862 , G01R31/01 , G01R31/2808 , G01R31/2817 , H01L21/67242 , H01L21/6734
摘要： 在能够处理条形块(2)的处理器(1)中，把多个条形块(2)收纳在框架(3)内并运送到恒温箱(15)内，对收纳于框架(3)内的条形块(2)施加规定温度。根据这种处理器(1)，能够实现恒温箱(15)的小型化和简洁化，同时，提高维修性。
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公开(公告)号：CN1201159C
公开(公告)日：2005-05-11
申请号：CN01122028.7
申请日：2001-06-22
申请人： 株式会社爱德万测试
CPC分类号： G01R31/2893 , G01R31/01 , G01R31/2851
摘要： 本发明提供使被试验IC与接触部接触的接触臂，该接触臂备有保持头、浮动机构和隔膜压缸。上述保持头用于保持被试验电子零件。上述浮动机构，设在可接近或远离上述接触部的驱动机构与上述保持头之间，将保持头可摆动地支承在上述驱动机构上。上述隔膜压缸，设在上述驱动机构与上述保持头之间，调节从驱动机构对保持头的相对推压力。对一个保持头设有多个隔膜压缸。
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公开(公告)号：CN1575421A
公开(公告)日：2005-02-02
申请号：CN02820892.7
申请日：2002-10-09
申请人： 伊来克格拉斯有限公司
IPC分类号： G01R31/316 , G01R31/28 , G01R1/073
CPC分类号： G01R31/01 , G01R31/2886
摘要： 本发明提供一种测试基片上的电路的方法。一般而言，基片位于传递卡盘(26)上，测试卡盘(32)的表面移动至与基片接触，该基片被固定到测试卡盘(32)上，测试卡盘(32)相对传递卡盘(26)移动，以便基片从传递卡盘(26)移开，基片上端子移动与触点接触，以通过端子和触点，将电路与电测试仪电连接，信号通过电测试仪和电路间的端子和触点中继，端子与触点断开，并且基片被从测试卡盘(32)上移走。
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公开(公告)号：CN1525179A
公开(公告)日：2004-09-01
申请号：CN200410007034.X
申请日：2004-02-25
申请人： 东京威尔斯股份有限公司
发明人： 小岛智幸
IPC分类号： G01R1/00
CPC分类号： G01R1/06705 , G01R31/01
摘要： 课题：抑制探测头的接触面在工件上滑动的距离，防止在工件上发生条痕或发生脱落。解决方法：工件测定装置(1)具备：基台(2)、在基台(2)上滑动而且具有工件收放孔(6)的输送工作台(3)。在输送工作台(3)上固定导向板(4)，在导向板(4)设有位于工件收放孔(6)的上端部位置的导向口(5)。在导向板(4)的上方设置探测头(8)，该探测头(8)对于工件收放孔(6)内的工件W作用力。随着输送工作台(3)的旋转，探测头(8)在导向板(4)上滑动之后，从导向口(5)被引导向工件收放孔(6)内的工件W侧而与工件W相触。之后，探测头(8)从导向口(5)向外脱出。
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公开(公告)号：CN1524183A
公开(公告)日：2004-08-25
申请号：CN02813529.6
申请日：2002-06-21
申请人： 皇家菲利浦电子有限公司
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/01 , G01R31/2894 , G01R31/31718
摘要： 本发明涉及一种用于检测成批的类似集成电路的电气部件的方法，该方法包括：对来自该批的每一个电气部件应用第一检测(6)；和对没通过该第一检测(6)的电气部件应用第二检测(12)。有利的是，第二检测(12)直接在第一检测(6)之后实施。优选的是，该第一检测(6)包括功能检测，该第二检测(12)包括触点和短路检测。
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