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    用成角度横向传感器阵列条检测片材偏斜、横向和推移位置
    11.
    发明公开
    用成角度横向传感器阵列条检测片材偏斜、横向和推移位置 无效

    公开(公告)号：CN1881096A

    公开(公告)日：2006-12-20

    申请号：CN200610091325.0

    申请日：2006-06-12

    申请人： 施乐公司

    发明人： D·C·帕克 ,  J·B·詹森

    IPC分类号： G03G15/00 ,  B41J29/38

    CPC分类号： G01N21/86 ,  G01N2021/8896 ,  G03G15/6564 ,  G03G15/6567

    摘要： 通过在片材路径中移动片材经过多个光检测器阵列条以提供对应于初始片材定位的电信号来自动提供电子片材定位信息，其中，这个光检测器阵列条以非垂直角度横穿片材路径成角度地安装，使得光检测器的不同定位的子集可通过不同片材移动位置的片材的前沿来激活。这些信号可在不同的时间间隔进行比较并且以电子方式适当分析，以便提供片材偏斜、推移和横向定位信息，它们可用来自动控制片材配准校正系统、例如用于打印机。

    采用现场可编程门阵列逻辑的容器检查系统
    12.
    发明授权
    采用现场可编程门阵列逻辑的容器检查系统 失效

    公开(公告)号：CN1092795C

    公开(公告)日：2002-10-16

    申请号：CN96122782.6

    申请日：1996-09-21

    申请人： 欧文斯-布洛克威玻璃容器有限公司

    发明人： J·W·朱文纳尔

    IPC分类号： G01N21/896

    CPC分类号： G01N21/90 ,  G01N2021/8896

    摘要： 在一个检查容器的系统中，容器被保持在静止位置上并绕自身轴线旋转。使光线射到旋转容器上，用摄像镜头获得该容器的图象。该容器图象由多个象素数据字节组成，每个字节形成图象的一部分，将该图象连续和顺序地输入可编程逻辑器件；该器件中有一组合构成的硬件逻辑元件阵列，以使阵列中的元件同时和实时地对多个顺序的象素数据字节进行操作。对象素数据分析获得作为容器一个光学特征函数的检查信息。

    检测装置及检测方法
    14.
    发明公开
    检测装置及检测方法 有权

    公开(公告)号：CN107615050A

    公开(公告)日：2018-01-19

    申请号：CN201580080128.6

    申请日：2015-11-02

    申请人： 三菱电机株式会社

    发明人： 近藤纯司 ,  茑田广幸 ,  入江惠

    IPC分类号： G01N21/88

    CPC分类号： G01N21/8851 ,  G01N21/88 ,  G01N2021/8896 ,  G06T7/0002 ,  G06T7/0008 ,  G06T7/73 ,  G06T7/75 ,  G06T2207/10024 ,  G06T2207/20092

    摘要： 本发明获得一种能抑制检查的运用开始前的操作量、并且在运用开始后能提高变形的检查精度的检测装置。该检测装置包括：储存表示变形对象的特征的参数的对象特征储存装置(2)；使用参数、根据图像信息来检测变形对象候选的对象检测部(3)；储存变形对象候选的对象储存部(4)；显示储存于对象储存部(4)的变形对象候选的对象显示部(5)；接收针对变形对象候选的校正信息的输入、基于校正信息对储存于对象储存部(4)的变形对象候选进行修正的校正输入部(6)；以及基于由校正输入部(6)所接收到的校正信息来对储存于对象特征储存装置(2)的参数进行校正的对象特征校正部(7)。

    测量杂质的方法和装置
    17.
    发明公开
    测量杂质的方法和装置 失效

    公开(公告)号：CN1806167A

    公开(公告)日：2006-07-19

    申请号：CN200480016204.9

    申请日：2004-06-14

    申请人： 日本轻金属株式会社 ,  丰田自动车株式会社

    发明人： 仓增幸雄 ,  额见哲也

    IPC分类号： G01N21/17 ,  G01N33/20

    CPC分类号： G01N33/206 ,  G01N21/8806 ,  G01N2021/8816 ,  G01N2021/8896 ,  G01N2201/06153 ,  G01N2201/0636

    摘要： 一种杂质测量装置，包括：在其上放置着断裂表面(h)朝上的样品(S)的工作台(T)；照明装置(7)，其从多个方向用光(L)照射断裂表面(h)；用来检测断裂表面(h)的图像的图像检测装置；用来将所检测图像处理成连续色调图像的连续色调图像处理装置；和用来通过连续色调图像处理结果与阈值之间的比较将连续色调图像二进制化的二进制化装置。由于从多个方向照射断裂表面(h)，通过检测断裂表面(h)的图像所获得的图像没有由断裂表面(h)上的微小不规则性导致的阴影或光学不规则性。因而，所述图像经过连续色调图像处理和二进制化后，样品(S)中的杂质就能被从断裂表面(h)中精确地检测到。

    基板检查时的补偿矩阵生成方法
    19.
    发明授权
    基板检查时的补偿矩阵生成方法 有权

    公开(公告)号：CN105557082B

    公开(公告)日：2018-09-11

    申请号：CN201480050260.8

    申请日：2014-09-11

    申请人： 株式会社高永科技

    发明人： 郑升源 ,  崔钟镇 ,  柳希昱

    IPC分类号： G01N21/956

    CPC分类号： G01N21/8851 ,  G01N21/956 ,  G01N21/95607 ,  G01N21/95684 ,  G01N2021/8896 ,  G01N2021/95638 ,  G01N2201/121 ,  G06T5/006 ,  G06T2207/20076 ,  G06T2207/30141

    摘要： 本发明涉及基板检查时的补偿矩阵生成方法。所述方法包括：在基板上的测量区域(FOV)内，任意选择预先设置的N1(N1≥2)个特征客体的信息的步骤；以所述基板上的提取的特征客体的信息为基础，生成第一补偿矩阵的步骤；把所述测量区域内的所有特征客体应用于所述补偿矩阵，并比较所述所有特征客体的各个偏移值与预先设置的基准值，从而对所述所有特征客体的各个偏移值不足于所述预先设置的基准值的特征客体的数量进行计数的步骤；把所述步骤反复执行N2次(N2≥1)，在所述计数的特征客体的数量为最大的情况下，利用具有不足于所述预先设置的基准值的偏移值的特征客体的信息，生成第二补偿矩阵的步骤。

    用于监控连续的织物幅面的装置和方法
    20.
    发明公开
    用于监控连续的织物幅面的装置和方法 有权

    公开(公告)号：CN108351308A

    公开(公告)日：2018-07-31

    申请号：CN201680066245.1

    申请日：2016-11-03

    申请人： 普罗泰克纳赫伯斯特有限两合公司

    发明人： M.克莱因多普 ,  T.贝特克 ,  N.格拉夫 ,  G.瓦尔加

    IPC分类号： G01N21/88 ,  G01N21/89

    CPC分类号： G01N21/8903 ,  G01N21/8851 ,  G01N2021/8896

    摘要： 用于借助织物幅面(5)的经评估的图像数据尤其对于缺陷(F)而言监控连续的织物幅面(5)的监控装置(8)具有至少两个摄像元件(14,140)，其垂直于织物幅面(5)的运输方向(T)可被并排地定位。其包括控制和评估单元(20,200)和至少一个串行通信链路(21,22)，该串行通信链路连接至少一个摄像元件(14,140)与控制和评估单元(20,200)。每个摄像元件(14)具有用于采集原始数据(BI)的平面摄像元件(15)。监控装置(8)具有至少一个摄像模块(13,130,131)，其包括至少一个带有至少两个摄像元件(14,140)的摄像组(G1,G2)和外壳(17)。摄像组(G1,G2)的摄像元件(14,140)被联接到串行通信链路(21,22)处。其构造用于将通过平面摄像元件(15)所采集的原始数据(BI)经由串行通信链路(21,22)传导至控制和评估单元(20,200)。控制和评估单元(20,200)构造用于图像数据由原始数据(BI)的产生且用于摄像组(G1,G2)的摄像元件(14,140)的图像数据的评估。