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公开(公告)号：CN1993888A
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN200580025320.1
申请日：2005-07-21
申请人： 罗伯特·博世有限公司
发明人： C·米特
IPC分类号： H03K19/003 , G01R31/30
CPC分类号： G06F13/4072 , G01R31/3008
摘要： 本发明涉及用于微控制器的配置输入端(101－107)的布线的方法和设备，其中如此来构造所述设备，使得在每一个配置输入端(101－107)上能够设定至少两种可能的信号状态中的一种信号状态，其特征在于，分别有一个能量源(121－127)与每一个配置输入端(101－107)相连接，该能量源(121－127)能够采取至少两种状态，以便设定每一个配置输入端上的至少两种信号状态，其中设置有设定装置(109)，通过该设定装置(109)如此来控制每个能量源的状态，使得对于每一个配置输入端来说存在预先给定的信号状态。
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公开(公告)号：CN1855361A
公开(公告)日：2006-11-01
申请号：CN200610059744.6
申请日：2006-03-06
申请人： 富士通株式会社
CPC分类号： G01R31/2874 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 本发明提供一种温度控制方法和温度控制装置，其中受控部件配置成与热传导部件的第一主表面相接触。热传导部件具有第一主表面和与第一主表面相对的第二主表面。第一主表面的外形与受控部件的外形相对应。第二主表面的面积大于第一主表面的面积。驱动加热单元和冷却单元至少其中之一，以将受控部件调整到预设的温度。加热单元和冷却单元设置在热传导部件的第二主表面上，以使加热单元和冷却单元并排设置。
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公开(公告)号：CN1820206A
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：CN200580000284.3
申请日：2005-06-14
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/319 , G01R31/30
摘要： 一种测试装置，包括第1信号比较器、第2信号比较器、标题图样列检出部、以及期待值比较部。1信号比较器依据处于第1选通时序中的输出信号的电压和一第1门限值电压进行比较后的结果以取得一输出图样的值，且因此亦取得第1输出图样列；第2信号比较器依据处于第2选通时序中的输出信号的电压和一第2门限值电压进行比较后的结果以取得一输出图样的值，且因此亦取得第2输出图样列；标题图样列检出部检出：第1输出图样列已与标题图样列相一致；期待值比较部在检出第1输出图样列已和标题图样列相一致时，使第2信号比较器所取得的第2输出图样列和期待值图样列的比较结果被输出。
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公开(公告)号：CN1577843A
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN200410049016.8
申请日：2004-06-11
申请人： 松下电器产业株式会社 , 株式会社瑞萨科技
IPC分类号： H01L27/00 , H01L29/78 , G01R31/30 , G01R31/316
CPC分类号： G01R31/2884 , G01R31/2853
摘要： 本发明涉及半导体装置。在电容测量电路中，配置PMISFET(1、2、3)和NMISFET(4～9)。布线(W1、W2、W3)，在分别通过PMISFET(1、2、3)，经过充电用电压供给部，与电源端子盘(PST)连接的同时，还分别通过NMISFET(7、8、9)，经过电流取出部，与电流监测用端子盘(41)连接。再使电流监测用端子盘(41)与电流表(45)的探头接触，从而能测量电流(I)。实现了所需的端子盘数量少，而且能将3个以上的导体部件之间的电容(寄生电容)分离开后测量的电容测量电路。
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公开(公告)号：CN1129810A
公开(公告)日：1996-08-28
申请号：CN95107165.3
申请日：1995-06-12
申请人： 本田技研工业株式会社
CPC分类号： B62M6/45 , B60L11/1801 , B60L11/1805 , B60L11/1862 , B60L2200/12 , B62M6/55 , Y02T10/7005 , Y02T10/7044 , Y02T10/705
摘要： 一种电力辅助自行车，电压降低检测手段112比较将电池BAT电压经A/D变换得到的数据113a和预先设定的VTH1、VTH2，输出电压降低检测信号114a、114b。辅助力变动手段111收到各电压降低检测信号114a、114b的供给时，减少由辅助力计算手段103求出的辅助力A或输出大致变成0的变化的辅助力HA。PWM信号生成手段104根据辅助力A或变化的辅助力HA生成并输出PWM信号104a，PWM运转电机21。
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公开(公告)号：CN118584310A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410622848.1
申请日：2024-05-17
申请人： 上海美仁半导体有限公司
IPC分类号： G01R31/30
摘要： 本申请公开一种测试文件的生成方法、装置、设备、程序产品和存储介质，测试文件的生成方法包括基于芯片的待测模块的待测功能，生成用于对各个待测功能进行仿真测试的测试用例；运行测试用例，以获取仿真平台的仿真接口输出的仿真信号；通过预设的接口矩阵的各个处理模块中，与仿真信号对应的待测功能关联的目标处理模块，对仿真信号进行处理，以生成测试文件，处理模块至少关联一个待测功能。相较于将测试用例人工改写为自动测试设备的测试文件，极大地提高了测试文件的生成效率，缩短了测试周期。
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公开(公告)号：CN113678004B
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202080025065.5
申请日：2020-03-27
申请人： 纬湃科技有限责任公司
摘要： 用于估计电子部件（1）的老化的方法，其特征在于，其包括以下步骤：‑编制电子部件的热规格（2）以确定参考使用期限，‑确定参考温度量，‑测量工作中的电子部件的实际温度，‑确定实际温度量，‑确定实际温度下的等效工作时间，‑将该等效工作时间换算至参考温度下以获得换算等效工作时间，‑累加换算等效工作时间以获得可与参考使用期限相比较的已消耗使用期限。
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公开(公告)号：CN118489067A
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202380015733.X
申请日：2023-03-06
申请人： 新思科技有限公司
发明人： F·马苏迪
IPC分类号： G01R31/30 , G01R31/317 , G01R31/28 , G06F30/30
摘要： 集成电路中各种信号路径的时序限度是由所述集成电路本身上的组件来监控。所述集成电路上的路径限度监控器(PMM)电路接收(a)沿着所述集成电路中的信号路径传播的功能信号以及(b)用于对所述功能信号进行计时的对应时钟信号。所述PMM电路输出指示所述信号路径的实际时序限度的信号(PMM信号)。为了方便起见，这些将被称为路径限度。控制器也集成在所述集成电路上。所述控制器控制所述PMM电路。所述控制器还接收及分析所述PMM信号以监控跨越所述集成电路的所述路径限度。自动化软件用于将所述PMM电路的实例自动插入到所述集成电路的设计中。所述控制器也可被自动配置并被插入到所述设计中。
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公开(公告)号：CN113030712B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN201911357609.3
申请日：2019-12-25
申请人： 瑞昱半导体股份有限公司
IPC分类号： G01R31/30
摘要： 本案揭露一种电路检查方法及电子设备，适于一待测电路，待测电路具有与至少一电晶体元件的闸极电压相关的至少一第一节点及其他复数个第二节点。电路检查方法包含设定待测电路的复数个输入介面埠的端点电压；依据待测电路的导通路径及电晶体元件的闸极电压，取得第一节点的第一节点电压；依据导通路径、端点电压及第一节点电压，取得每一第二节点的第二节点电压；以及应用第一节点电压及第二节点电压，对待测电路进行电路静态检查。
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公开(公告)号：CN113504457B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202110772693.6
申请日：2021-07-08
申请人： 中颖电子股份有限公司
摘要： 本发明提供了提升检测精度的电路测试装置和方法。晶圆测试接口通过一控制信号来控制测试模式控制逻辑模块；测试模式控制逻辑模块根据控制信号控制切换模块选择将基准信号还是检测模块的输出传送到检测输出端；在初始晶圆测试时，切换模块选择将基准信号传到检测输出端进行测试；若基准信号与零温度点基准信号有误差，则对基准信号进行档位调节，直至调节为零温度点基准信号，随后控制切换模块选择将检测模块的输出与检测输出端连接；检测模块将待测信号与经档位调节后所得到的零温度点基准信号进行比较，测得检测阈值的初始值；其中，对所述基准信号的档位调节以及对所述检测阈值的初始值的修调通过单次烧写熔丝同时实现。
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