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公开(公告)号：CN114268319B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202111164047.8
申请日：2021-09-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明涉及一种自检测模数转换器误码率测试方法及测试系统，该系统采用电源分析仪为待测模数转换器芯片以及其他器件提供电源信号；工控机通过配置模块将待测模数转换器芯片配置指令按照待测模数转换器芯片所要求的配置时序写入待测模数转换器芯片中；UPS运行监控模块，监测测试评估板上待测模数转换器芯片各供电电源电压，如果任一供电电源电压的抖动大于预设阈值，反馈电源“无效”状态信息给工控机；反之，反馈电源“有效”状态信息给工控机；工控机，当电源处于“有效”状态时，则根据采集运算模块上传的数据进行误码率统计，否则，丢弃采集运算模块上传的数据，直到参与误码率统计的总数据量达到要求或误码率已超出阈值后，停止误码率测试。
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公开(公告)号：CN113886158B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202111145489.8
申请日：2021-09-28
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种自动化的FPGA故障注入测试系统以及方法，该方法包括通过上位机软件读取待测电路文件；提取其中的输入输出信号等用户设计相关的信息；根据提取的信息自动生成用户设计控制电路，并与预定义的故障注入控制电路进行互连结合，自动生成完整的故障注入系统文件；通过Tcl脚本自动执行下位机硬件的综合实现过程；从而实现故障注入系统的自动化生成。本发明降低了故障注入系统的开发难度和使用门槛，节省了手工搭建故障注入系统的繁琐，使得设计人员无需深入研究复杂的FPGA设计方法，无需具备电路设计基础，即可方便进行故障注入系统的开发与搭建，提升了故障注入系统的使用范围，设计人员可以快速便捷地评估FPGA电路的可靠性。
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公开(公告)号：CN112671374B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202011549832.0
申请日：2020-12-24
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种单粒子加固7相时钟产生电路，包括：环形移位寄存器、复位检测器和门控缓冲器；环形移位寄存器，用于产生7相时钟信号；门控缓冲器，用于对7相时钟信号进行去毛刺处理后输出，以实现对多相时钟长布线的驱动；复位检测器，用于在出现单粒子效应时，抑制单粒子效应下环形移位寄存器产生的时钟信号异常。本发明通过带有置位、复位功能的触发器级联组成环形移位寄存器架构实现7相时钟输出，同时通过错误检测复位逻辑实现单粒子加固，避免环路受单粒子影响进入非正常循环状态；结构实现简单，附加抖动小，且扩展性强，可通过增加环路中级联触发器数量获得N相时钟输出。
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公开(公告)号：CN112596743B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202011451796.4
申请日：2020-12-09
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F8/61
Abstract: 本发明涉及基于JTAG接口的军用FPGA通用重构电路，该重构电路设计有4个输入管脚、4个输出管脚，可分别与FPGA、CPLD、PROM的管脚连接，接收上位机指令，通过JTAG接口对链路中的FPGA、CPLD、PROM进行回读IDCODE操作，确定器件型号，根据上位机指令，通过JTAG接口对选中器件进行擦除、编程、回读、校验，通过本发明中的重构电路，实现设计产品装机后现场变更系统中FPGA、CPLD设计程序的目的，有效减少产品的外部接口，延长调试线缆的距离，提高装机产品的现场调试效率。
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公开(公告)号：CN117793062A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311511317.7
申请日：2023-11-14
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
Abstract: 本发明属于集成电路设计技术领域，具体涉及一种适用于可扩展系统的高可靠Chiplet互连网络架构，旨在解决Chiplet传统的互连技术面临着信号延迟、可扩展性和故障容错的问题。本系统包括：互连一致性存储结构、片上互连网络、层次化外设空间及多个高速互连接口；高速互连接口，包括协议层、数据链路层和物理层；互连一致性存储结构包括多个分布式Cache；各分布式Cache与对应的高速互联接口连接；片上互连网络包括多个具有数据传输层级关系的路由器节点；层次化外设空间，包括高速存储空间、高速外设空间、低速外设空间。本发明解决了Chiplet传统互联技术存在的问题，提升了可扩展系统的性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117790332A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311808917.X
申请日：2023-12-26
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: H01L21/50 , B23K31/02 , H01L21/60 , B23K101/40
Abstract: 本发明涉及一种气密性系统级封装元件表贴方法及封装元件，涉及半导体封装技术领域。包括：对外壳进行清洗，使得外壳表面的焊盘洁净；将焊料放置于所述焊盘表面，将待封装元件贴放结构放置于焊料上方，得到装配好的产品；焊料为无助焊剂固态焊料；将装配好的产品放入共晶烧结设备中，按照共晶焊接工艺曲线，在氮气或真空气氛下进行共晶焊接，得到封装元件。采用固态无助焊剂焊料，在真空或氮气气氛下通过共晶焊接工艺实现元件表贴，避免了常规回流焊接工艺因清洗残留助焊剂或免清洗焊料的助焊剂残留而引入的水汽超标问题，降低了系统级封装产品内部元件因化学腐蚀及电化学腐蚀导致的电性能失效风险，从而实现系统级封装产品气密性封装。
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公开(公告)号：CN117789780A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311465910.2
申请日：2023-11-06
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
Abstract: 一种片上大容量双端口同步存储器，包括端口控制器、时钟控制器、地址译码器、读写控制器、三个存储阵列、一个带时钟反馈的存储阵列。端口控制器接收两个端口的输入数据、地址、写使能等信号，将其转换为内部信号，将内部输出信号转换为两个端口输出数据；时钟控制器用于接收时钟，产生内部时钟；地址译码器用于将内部地址信号转换为字线驱动信号和读写控制信号；读写控制器用于接收读写控制信号，将内部输入信号写入存储阵列，或将存储阵列中的数据读出为内部输出信号；四个存储阵列用于存储数据，同时提供时钟反馈通路。本发明能够内部产生时序信号，实现两个端口同步读写，具有灵活、面积小、大容量等优点，可实现片上海量数据缓存等应用场景。
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公开(公告)号：CN117784585A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311685235.4
申请日：2023-12-08
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: G05B11/42
Abstract: 本发明公开了一种四旋翼无人机的手抛起飞控制方法，无人机在飞手解锁抛出后能自动识别是否脱手，并在确认脱手后启动电机；在垂直方向加入爬升速度前馈补偿使无人机通过快速增大升力克服重力；同时基于高度‑速度环PID串级控制器调整无人机的高度，并为了减小高度过冲在无人机临近目标高度后使爬升速度前馈补偿量随时间递减。本发明解决了四旋翼无人机必须在平地才能起飞的飞行限制，并在飞手抛出后能快速实现高度稳定，拓展了四旋翼无人机的应用场景。
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公开(公告)号：CN117767913A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311423357.6
申请日：2023-10-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种宽带有源移相器电路，包括输入巴伦、正交信号发生器和矢量调制器；输入巴伦用于接收外部输入的单端信号，将单端信号转化为差分信号，将差分信号输出至正交信号发生器；正交信号发生器用于接收由输入巴伦输入的差分信号，利用差分信号产生相位相差90度的正交信号，将正交信号输出至矢量调制器；矢量调制器接收由正交信号发生器输入的正交信号，对正交信号进行极性选择和增益控制，输出经过移相的差分射频信号。本发明宽带有源移相器电路，具有移相精度高、工作频率宽、成本低、可靠性高的优势，能够提升相控阵雷达系统的性能并促进其小型化和低成本化的发展。
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公开(公告)号：CN117761516A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311423998.1
申请日：2023-10-30
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: G01R31/311 , G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的方法，包括：使可重构芯片执行一个典型测试程序；分别对可重构芯片中的各功能模块进行激光辐照试验，获取各功能模块的单粒子功能错误饱和截面；使可重构芯片执行下一个典型测试程序，并重复上述步骤，直至执行完所有的典型测试程序；根据各典型测试程序下的单粒子功能错误饱和截面，得到各功能模块的单粒子功能错误敏感区间。本发明还公开了评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的系统，包括程控电源模块、上位机控制中心模块和控制区模块。本发明能够得到可重构芯片的单粒子功能错误敏感区间，对于可重构芯片整体性能的评估提供重要支撑。
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