薄膜检查装置及其方法
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102165281B

    公开(公告)日:2013-08-14

    申请号:CN200980138578.0

    申请日:2009-07-02

    IPC分类号: G01B11/06 H01L21/205

    CPC分类号: G01B11/0625

    摘要: 薄膜检查装置包括:存储部(14),该存储部保存有至少2个特征量特性,所述2个特征量特性由以下方式得到:从因第1透明薄膜和第2透明薄膜的至少一方的膜厚变动而受到影响的分光反射光谱的特征量中选择至少2个特征量,并将所选择的该特征量中的每一个特征量与第1透明薄膜的膜厚和第2透明薄膜的膜厚分别建立关联;对被检查基板(S)从透明玻璃基板侧照射白色光的光照射部(11);接受来自被检查基板(S)的反射光的受光部(12);和运算部(15),从基于受光的反射光的分光反射光谱求出在存储部(14)中保存的各特征量的实测值,使用求出的各特征量的实测值和在存储部(14)中保存的特征量特性,分别求出第1透明薄膜和第2透明薄膜的膜厚。

    薄膜的检查装置和检查方法

    公开(公告)号:CN102165282B

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN200980138478.8

    申请日:2009-07-02

    IPC分类号: G01B11/30 G01N21/59 G01N21/88

    摘要: 本发明目的在于能够降低薄膜的基板面内的膜厚变动的影响,实现计测精度的提高。包括:对在璃基板上形成有薄膜的被检查基板(W)从该玻璃基板侧照射单波长的光的光源;以受光轴相对于从光源射出的照明光的光轴以预定的倾斜角度交叉的方式配置,对透过被检查基板(W)的扩散透过光进行受光的受光元件;和基于由受光元件接受的光的强度求出薄膜的雾度率的计算机(7)。计算机(7)具有将雾度率与扩散透过光的光强度建立关联而成的雾度率特性,利用该雾度率特性和由上述受光元件接受的光强度求出雾度率。