薄膜的检查装置和检查方法

    公开(公告)号:CN102165282B

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN200980138478.8

    申请日:2009-07-02

    IPC分类号: G01B11/30 G01N21/59 G01N21/88

    摘要: 本发明目的在于能够降低薄膜的基板面内的膜厚变动的影响,实现计测精度的提高。包括:对在璃基板上形成有薄膜的被检查基板(W)从该玻璃基板侧照射单波长的光的光源;以受光轴相对于从光源射出的照明光的光轴以预定的倾斜角度交叉的方式配置,对透过被检查基板(W)的扩散透过光进行受光的受光元件;和基于由受光元件接受的光的强度求出薄膜的雾度率的计算机(7)。计算机(7)具有将雾度率与扩散透过光的光强度建立关联而成的雾度率特性,利用该雾度率特性和由上述受光元件接受的光强度求出雾度率。

    激光雷达装置以及行驶体
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107407722A

    公开(公告)日:2017-11-28

    申请号:CN201580076971.7

    申请日:2015-11-19

    摘要: 具备:激光光源(11);送光侧透镜(12),其使从激光光源(11)发出的激光(L)成形为点状;扫描器(13),其使成形为点状的激光(L)在计测对象区域(A)的水平方向(X)以及垂直方向(Y)上一边扫描一边照射;受光侧透镜(16),其接收从计测对象区域(A)反射的反射光(R);受光侧光学系统(17),其使利用受光侧透镜(16)接收到的反射光(R)分别在水平方向(X)以及垂直方向(Y)上聚光;受光元件(18),其接收利用受光侧光学系统(17)聚光后的反射光(R);信息生成部(21),其基于受光元件(18)输出的接收信号,生成计测对象区域(A)的三维信息。