半导体封装结构
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106653705A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201610715257.4

    申请日:2016-08-24

    IPC分类号: H01L23/31 H01L23/48

    摘要: 本发明实施例提供了一种具有高可靠性的半导体封装结构。其中该半导体封装结构包括:半导体晶粒,具有第一表面及相对于该第一表面的第二表面;模塑料,围绕该第半导体晶粒;重分布层结构,设置在该半导体晶粒的该第二表面上并且在该模塑料上横向延伸;以及保护层,覆盖该重分布层结构的侧壁。

    半导体封装结构
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106548999A

    公开(公告)日:2017-03-29

    申请号:CN201610635179.7

    申请日:2016-08-04

    摘要: 本发明实施例公开了一种低成本的半导体封装结构。其中,该半导体封装结构包括:半导体封装。该半导体封装包括:半导体晶粒,具有第一表面及相对于该第一表面的第二表面;封装基底,设置在该半导体晶粒的该第一表面上;模塑料,围绕该半导体晶粒与该封装基底;以及重分布层结构,设置在该模塑料上,该封装基底设置在并电性耦接在该半导体晶粒与该重分布层结构之间。

    半导体封装结构
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106653705B

    公开(公告)日:2020-01-03

    申请号:CN201610715257.4

    申请日:2016-08-24

    IPC分类号: H01L23/31 H01L23/48

    摘要: 本发明实施例提供了一种具有高可靠性的半导体封装结构。其中该半导体封装结构包括:半导体晶粒,具有第一表面及相对于该第一表面的第二表面;模塑料,围绕该第半导体晶粒;重分布层结构,设置在该半导体晶粒的该第二表面上并且在该模塑料上横向延伸;以及保护层,覆盖该重分布层结构的侧壁。