半导体元件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104518013A

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201410515202.X

    申请日:2014-09-29

    IPC分类号: H01L29/737 H01L29/06

    摘要: 本发明提供一种半导体元件,其能够减小接合电容并且使半导体层的侧面稳定化。半导体元件(10)具有由高浓度N型半导体层形成的集电极接触层(16)。在集电极接触层(16)上层叠有N型的集电极层(15)、层叠在集电极层(15)上并具有上表面(14a)的高浓度P型半导体层即基极层(14)、层叠在上表面(14a)的一部分上的N型的发射极层(11)。在基极层(14)与集电极层(15)的接合面形成有基极集电极层接合部(18)。惰性部(19)在俯视观察时设置在上表面(14a)上的与基极电极(13)的外侧端部相比的外侧。惰性部(19)通过从由氦以及氩构成的群中选择出的1种元素对第1、2半导体层进行离子注入而形成。惰性部(19)从上表面(14a)延伸至与基极集电极层接合部(18)相比的下方。

    异质结双极晶体管
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1988172B

    公开(公告)日:2010-07-14

    申请号:CN200610169050.8

    申请日:2006-12-19

    IPC分类号: H01L29/737 H01L21/331

    摘要: 本发明的目的在于提供可以再现性良好且高成品率地制造的、在抗击穿性上优良的异质结双极晶体管,其特征在于,具备辅助集电极层、集电极层、以及具有比构成基极层的半导体还大的能带间隙的发射极层;集电极层具有形成在辅助集电极层上的第1集电极层、形成在第1集电极层上的第2集电极层、以及形成在第2集电极层和基极层之间的第3集电极层;构成第1集电极层的半导体不同于构成第3集电极层以及第2集电极层的半导体;第2集电极层的杂质浓度比辅助集电极层的杂质浓度还低,且比第3集电极层的杂质浓度还高。

    异质结双极型晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:CN100530684C

    公开(公告)日:2009-08-19

    申请号:CN200710091367.9

    申请日:2007-03-30

    发明人: F·帕基特

    CPC分类号: H01L29/7378 H01L29/66318

    摘要: 本发明公开了一种改进的异质结双极型晶体管(HBT)结构以及形成结合具有递变的锗分布的硅锗层发射极层的结构的方法。递变的锗浓度在发射极层的中性区中形成准漂移场。该准漂移场引起发射极层内的价带隙梯度,以加速从基极层穿过发射极层的空穴的运动。从基极层穿过发射极层的空穴的加速运动减小了发射极的延迟时间并因此增加了形成的HBT的截止频率(fT)和最大振荡频率(fMAX)。

    制造具有平坦化层的自对准双极晶体管的方法及相关结构

    公开(公告)号:CN100521208C

    公开(公告)日:2009-07-29

    申请号:CN200480013612.9

    申请日:2004-03-20

    IPC分类号: H01L27/082

    摘要: 根据一个示例性实施例,一种双极晶体管包括具有顶面的基极。所述双极晶体管还包括位于所述基极的所述顶面上的第一和第二连接隔离物。所述双极晶体管还包括位于所述基极的所述顶面上所述第一与所述第二连接隔离物之间的牺牲柱。所述第一和第二连接隔离物的高度可例如约等于,或者在另一个实施例中,显著小于所述牺牲柱的高度。根据该示例性实施例,所述双极晶体管还包括位于所述牺牲柱、所述第一和所述第二连接隔离物以及所述基极上的非牺牲平坦化层。所述非牺牲平坦化层可包括例如硅酸盐玻璃。所述牺牲平坦化层的高度可例如约等于,或者在另一个实施例中,大于所述第一和所述第二连接隔离物的高度。