公开(公告)号：JP2007121025A

公开(公告)日：2007-05-17

申请号：JP2005311436

申请日：2005-10-26

Applicant: Toshiba Corp ,  Toshiba Electron Tubes & Devices Co Ltd ,  東芝電子管デバイス株式会社 ,  株式会社東芝

Inventor： OTANI RYOICHI ,  ISHIBASHI MAKOTO

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/718 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/024 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/6458

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an analyzer reduced in the effect of the shape of an analyzing target 12, enhanced in analyzing precision, small in size and capable of being easily adjusted during analysis.
SOLUTION: The pulse laser beam L transmitted to an optical unit 13 by a laser beam transmitting optical fiber 16 is transmitted through a distribution reflecting mirror 27 and condensed by a condensing lens group 30 to irradiate the analyzing target 12. The fluorescence F emitted by the irradiation of the analyzing target 12 with the pulse laser beam L is condensed by a condensing lens group 30 and reflected by the distribution reflecting mirror 27. The fluorescence F reflected by the distribution reflecting mirror 27 is transmitted to a fluorescence measuring instrument from the optical unit 13 by a fluorescence transmitting optical fiber 17. The element contained in the analyzing target 12 is quantified on the basis of fluorescence by the fluorescence measuring instrument.
COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Abstract translation: 要解决的问题：提供一种降低分析对象12的形状效果的分析装置，提高分析精度，小型化，能够在分析过程中容易地进行调整。

解决方案：通过激光束传输光纤16传输到光学单元13的脉冲激光束L透射通过分布反射镜27并由聚光透镜组30聚光以照射分析对象12.荧光F 通过用脉冲激光束L照射分析对象物12而发射的光被聚光透镜组30聚光并被分布反射镜27反射。由分布反射镜27反射的荧光F被透射到荧光测量仪器 荧光发射光纤17的光学单元13.基于荧光测量仪器的荧光量化分析对象12中包含的元素。 版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

公开(公告)号：JP2006502399A

公开(公告)日：2006-01-19

申请号：JP2004542562

申请日：2003-10-07

Applicant: コミツサリア タ レネルジー アトミーク

Inventor： エルヴェ ショレ， ,  ジャンーシャルル ユビノワ， ,  ヴァンサン ラヴォワンヌ，

IPC: G01J3/443 ,  G01J3/28 ,  G01N21/33 ,  G02B17/00

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/024

Abstract: 本発明は、色収差無発生型且つ吸収低減型の光収集システム、特に光学的分光分析に適合させた同システムに関する。 このシステムは、少なくとも１つの光源（５２）によって放射される光を収集し、この収集された光を少なくとも１つの光検出装置（５４）上に集束する。 このシステムは、望ましくは、光源によって放射される光を収集し、この収集された光を第２のミラー（６０）上に集束する第１のミラー（５８）を備える。 次いでこの第２のミラーは、この集束された光を光検出装置上に集束する。 このシステムは、全ての光、特に紫外線放射光に対して透明なチャンバを備え、このチャンバ内に光源、光検出装置とミラー、並びにこのチャンバ内に真空を生成するか、又はこのチャンバ内に紫外線放射光に対して透明であるガスを充填する手段（１１８）が設置される。

公开(公告)号：JP6335433B2

公开(公告)日：2018-05-30

申请号：JP2013069440

申请日：2013-03-28

Applicant: 株式会社日立ハイテクサイエンス

Inventor： 松澤 修 ,  赤松 憲一 ,  一宮 豊

IPC: G01N21/73

CPC classification number: G01J3/0218 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/443 ,  G01N21/73

公开(公告)号：JP6299022B2

公开(公告)日：2018-03-28

申请号：JP2015512681

申请日：2013-05-06

Applicant: サーモ サイエンティフィック ポータブル アナリティカル インスツルメンツ インコーポレイテッド

Inventor： バション ジュニア ケネス ジェイ ,  ドハーティー ウォルター ジェイ ,  クラスノバエフ レオニード ワイ ,  ミラー スコット イー

IPC: G01N21/35

CPC classification number: G01N21/359 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0283 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01N21/01 ,  G01N21/031 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/024

公开(公告)号：JP2018040914A

公开(公告)日：2018-03-15

申请号：JP2016174199

申请日：2016-09-07

Applicant: ウシオ電機株式会社

Inventor： 高木 亮平 ,  蕪木 清幸

IPC: G01N21/01 ,  F21S2/00 ,  F21V5/04 ,  F21V7/24 ,  F21V7/26 ,  F21V7/28 ,  F21V7/30 ,  F21V7/06 ,  F21V9/00 ,  F21V9/08 ,  F21Y115/10 ,  F21Y115/30 ,  G02B21/06

CPC classification number: G02B21/06 ,  F21K9/64 ,  G01J1/58 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0227 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/10 ,  G01J3/12 ,  G01J3/4406 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/22 ,  G02B6/00 ,  G02B19/00 ,  G02B19/0052 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/0076 ,  G02B21/082

Abstract: 【課題】波長500〜550nmにおいて高い輝度の光が得られ、試料観察時におけるバックグランドノイズが小さい蛍光顕微鏡用光源装置および蛍光顕微鏡を提供する。 【解決手段】照明光用バンドパスフィルタを備えた蛍光顕微鏡用光源装置10であって、励起光として青色光を放射するレーザダイオード11と、励起光を、波長500〜550nmの波長域を含む照明用蛍光に変換する蛍光体15と、蛍光体15からの照明用蛍光を取り出す光学系17と、励起光を蛍光体15に集光する第1集光レンズ12と、照明用蛍光が一端面に入射されて他端面から出射される導光体19と、照明用蛍光を導光体19の一端面に集光する第2集光レンズ18とを備え、照明用蛍光の光路上に、照明用蛍光のうち、照明光用バンドパスフィルタにおける透過上限波長を含みかつ透過下限波長を含まない波長域の光を遮断または減衰する帯域除去フィルタ20が設けられている。 【選択図】図1

公开(公告)号：JP6196232B2

公开(公告)日：2017-09-13

申请号：JP2014546458

申请日：2012-12-11

Applicant: サーモ フィッシャー サイエンティフィック (エキュブラン) エスアーエールエル

Inventor： デマルコ ファビオ ,  ドリエ ジャン−リュック ,  ハラス エドムンド

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/36 ,  G01J3/443

CPC classification number: G01J3/443 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01N21/67

公开(公告)号：JP5886545B2

公开(公告)日：2016-03-16

申请号：JP2011136986

申请日：2011-06-21

Applicant: ソニー株式会社 ,  アイサイト ミッション テクノロジー インコーポレイテッド ,  iCyt Mission Technology, Inc.

Inventor： 高崎 浩司 ,  瀬尾 勝弘 ,  外石 満 ,  山田 晋司 ,  福本 敦 ,  ゲーリー デュラック

IPC: G01N15/14

CPC classification number: G01N15/1434 ,  G01N21/53 ,  G01N21/645 ,  G01J3/024 ,  G01J3/1256 ,  G01N15/1459

公开(公告)号：JP5507249B2

公开(公告)日：2014-05-28

申请号：JP2009526878

申请日：2007-08-28

Applicant: サーモ エレクトロン サイエンティフィック インストルメンツ リミテッド ライアビリティ カンパニー

Inventor： フランシス ジェイ デック ,  ジョン マギー コフィン

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0262

公开(公告)号：JP2014506679A

公开(公告)日：2014-03-17

申请号：JP2013555440

申请日：2012-02-10

Applicant: コーニング インコーポレイテッド

Inventor： ラヴェル イー コムストック，セカンド ,  ジョン サントマン，ジェフリー ,  エル ウィギンズ，リチャード

IPC: G01J3/28 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0297

Abstract: 実世界シーン像内のスペクトル雑音を低減するために光一様化素子アレイを用いるためのハイパースペクトルイメージングシステム及び方法が説明される。 一実施形態において、ハイパースペクトルイメージングシステム及び方法は、実世界シーンが分光計によって測定される前に実世界シーン内の相異なる要素からの光の空間分布、角度分布及び偏波分布を一様化するために、光一様化素子アレイを用いる。

公开(公告)号：JPWO2011121896A1

公开(公告)日：2013-07-04

申请号：JP2012508045

申请日：2011-03-08

Applicant: コニカミノルタ株式会社

Inventor： 克敏 ▲鶴▼谷 ,  克敏 ▲鶴▼谷

IPC: G01J3/51 ,  G01J3/26 ,  G01M11/00

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/024 ,  G01J3/506 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513 ,  G02B6/04 ,  G02B6/2804 ,  G02B27/10 ,  G02B27/1006 ,  G02F1/1309 ,  G02F2001/136254 ,  G02F2203/69

Abstract: 本発明にかかる測定プローブ40では、測定光は、分岐光学系12で複数に分岐され、各分岐光は、色フィルタとしての各干渉膜フィルタ13A、14A、15Aを介して各受光センサ13B、14B、15Bで受光される際に、略両側テレセントリック系を成す各集光レンズ群13C、14C、15Cを介して各干渉膜フィルタ13A、14A、15Aへ入射される。そして、干渉膜フィルタ13A、14A、15Aは、該干渉膜フィルタ13A、14A、15Aへの入射光の入射角度に対する強度分布の条件に応じ、測定パラメータに対応した透過率特性が得られるように形成される。このため、本発明にかかる測定プローブ40は、干渉膜フィルタ13A、14A、15Aを用いつつ、その入射角度による透過率特性のズレの影響を低減することができる。