패턴 형성 방법, 전자 디바이스의 제조 방법, 및 처리제
    3.
    发明公开
    패턴 형성 방법, 전자 디바이스의 제조 방법, 및 처리제 有权
    图案形成方法,电子设备生产方法和加工代理

    公开(公告)号:KR1020160043013A

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:KR1020167006366

    申请日:2014-09-01

    摘要: (1) 산의작용에의하여극성이증대되어유기용제를포함하는현상액에대한용해성이감소하는수지를함유하는감활성광선성또는감방사선성수지조성물을이용하여, 막을형성하는공정, (2) 상기막을, 활성광선또는방사선에의하여노광하는공정, (3) 상기막을, 유기용제를포함하는현상액을이용하여현상하여피처리패턴을형성하는공정, 및 (4) 상기피처리패턴에대하여, 1급아미노기및 2급아미노기중 적어도어느하나를갖는화합물 (x)를포함하는처리제를작용시켜, 처리완료패턴을얻는공정을포함하는, 패턴형성방법에의하여, 패턴에처리제를작용시키는(이른바, 슈링크공정을실시하는) 것에의하여패턴의미세화를도모하는패턴형성방법에있어서, 상기패턴의미세화가우수한것에의하여, 초미세한스페이스폭(예를들면 60nm 이하)을갖는라인앤드스페이스패턴을확실히형성할수 있고, 또한, 그라인앤드스페이스패턴을, 슈링크공정이적용된후에있어서의러프니스성능이우수한상태에서형성가능한패턴형성방법및 그에이용되는처리제, 및상기패턴형성방법을사용하는전자디바이스의제조방법을제공한다.