測試治具
    2.
    发明专利
    測試治具 审中-公开
    测试治具

    公开(公告)号:TW202011032A

    公开(公告)日:2020-03-16

    申请号:TW107131135

    申请日:2018-09-05

    Abstract: 一種用於天線測試作業之測試治具,係於一用以置放具第一天線部之電子結構的基座單元上配置一具有第二天線部之蓋件單元,且該蓋件單元係以一非金屬材之中介部壓合該電子結構以間隔該第二天線部與該第一天線部,俾於該電子結構進行天線測試作業時,避免發生金屬屏蔽效應,且可提供一無線測試環境。

    Abstract in simplified Chinese: 一种用于天线测试作业之测试治具,系于一用以置放具第一天线部之电子结构的基座单元上配置一具有第二天线部之盖件单元,且该盖件单元系以一非金属材之中介部压合该电子结构以间隔该第二天线部与该第一天线部,俾于该电子结构进行天线测试作业时,避免发生金属屏蔽效应,且可提供一无线测试环境。

    電子封裝件
    9.
    发明专利
    電子封裝件 审中-公开
    电子封装件

    公开(公告)号:TW202005039A

    公开(公告)日:2020-01-16

    申请号:TW107117524

    申请日:2018-05-23

    Abstract: 一種電子封裝件,係將天線結構及調整結構配置於一承載結構上,且該天線結構係包含位於不同層之天線本體與饋入線、及連通各層間以電性連接該天線本體與該饋入線之導電柱,其中,該調整結構係自該饋入線延伸出,以改善該天線本體之頻寬。

    Abstract in simplified Chinese: 一种电子封装件,系将天线结构及调整结构配置于一承载结构上,且该天线结构系包含位于不同层之天线本体与馈入线、及连通各层间以电性连接该天线本体与该馈入线之导电柱,其中,该调整结构系自该馈入线延伸出,以改善该天线本体之带宽。

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