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1.具有包封之穿線交互連結(TWI)的半導體元件和系統以及晶圓層級的製造方法 SEMICONDUCTOR COMPONENTS AND SYSTEMS HAVING ENCAPSULATED THROUGH WIRE INTERCONNECTS (TWI) AND WAFER LEVEL METHODS OF FABRICATION 失效
简体标题: 具有包封之穿线交互链接(TWI)的半导体组件和系统以及晶圆层级的制造方法 SEMICONDUCTOR COMPONENTS AND SYSTEMS HAVING ENCAPSULATED THROUGH WIRE INTERCONNECTS (TWI) AND WAFER LEVEL METHODS OF FABRICATION公开(公告)号:TWI362709B
公开(公告)日:2012-04-21
申请号:TW096103343
申请日:2007-01-30
申请人: 麥克隆科技公司
IPC分类号: H01L
CPC分类号: H01L24/16 , G01R1/06716 , G01R1/07307 , H01L21/486 , H01L21/565 , H01L21/568 , H01L21/76877 , H01L21/76885 , H01L21/76898 , H01L23/481 , H01L23/49827 , H01L24/03 , H01L24/05 , H01L24/11 , H01L24/13 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/78 , H01L24/81 , H01L24/85 , H01L25/0657 , H01L25/105 , H01L2224/02125 , H01L2224/0233 , H01L2224/02333 , H01L2224/02335 , H01L2224/02372 , H01L2224/02373 , H01L2224/02375 , H01L2224/0333 , H01L2224/0401 , H01L2224/04042 , H01L2224/05073 , H01L2224/05082 , H01L2224/05124 , H01L2224/05147 , H01L2224/05155 , H01L2224/05548 , H01L2224/05552 , H01L2224/05554 , H01L2224/05555 , H01L2224/05567 , H01L2224/05572 , H01L2224/05624 , H01L2224/05647 , H01L2224/06181 , H01L2224/1134 , H01L2224/13009 , H01L2224/13024 , H01L2224/13082 , H01L2224/131 , H01L2224/16146 , H01L2224/45014 , H01L2224/45015 , H01L2224/451 , H01L2224/45116 , H01L2224/45124 , H01L2224/45139 , H01L2224/45144 , H01L2224/45147 , H01L2224/45565 , H01L2224/45572 , H01L2224/45639 , H01L2224/45644 , H01L2224/45655 , H01L2224/45684 , H01L2224/45698 , H01L2224/48091 , H01L2224/4813 , H01L2224/48145 , H01L2224/48455 , H01L2224/48463 , H01L2224/4847 , H01L2224/48471 , H01L2224/48475 , H01L2224/48624 , H01L2224/48647 , H01L2224/48724 , H01L2224/48747 , H01L2224/48824 , H01L2224/48847 , H01L2224/4899 , H01L2224/48992 , H01L2224/78301 , H01L2224/85051 , H01L2224/85201 , H01L2224/85203 , H01L2224/85205 , H01L2224/85951 , H01L2225/06506 , H01L2225/06527 , H01L2225/06541 , H01L2225/06562 , H01L2225/1058 , H01L2924/00011 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01012 , H01L2924/01013 , H01L2924/01014 , H01L2924/01015 , H01L2924/01019 , H01L2924/0102 , H01L2924/01023 , H01L2924/01027 , H01L2924/01028 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01046 , H01L2924/01047 , H01L2924/0105 , H01L2924/01074 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/01088 , H01L2924/014 , H01L2924/07811 , H01L2924/10155 , H01L2924/10161 , H01L2924/12042 , H01L2924/12044 , H01L2924/14 , H01L2924/1433 , H01L2924/1461 , H01L2924/181 , H01L2924/20751 , H01L2924/20752 , H01L2924/20753 , H01L2924/20754 , H01L2924/20755 , H01L2924/20756 , H01L2924/20757 , H01L2924/20758 , H01L2924/20759 , H01L2924/2076 , H01L2924/30105 , H01L2924/3011 , H01L2924/00014 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45164 , H01L2924/013 , H01L2924/00013
摘要: 一種半導體元件(10)包含:一半導體基板(12),其具有一基板接點(20);以及一被附著至該基板接點(20)的穿線交互連結(TWI)(14)。該穿線交互連結(14)會提供一多層級交互連結,其會在該半導體基板(12)中彼此相對的第一側(17)與第二側(18)上具有接點(32、48)。該穿線交互連結(TWI)(14)包含:一通孔(28),該通孔會貫穿該基板接點(20)與該基板(12);一位於該通孔(28)中的電線(30),該電線具有一與該基板接點(20)相連的被焊接連接線(42);一位於靠近該第一側(17)的該電線上的第一接點(32);以及一位於靠近該第二側(18)之該電線(30)上的第二接點(46)。該穿線交互連結(TWI)(14)還包含一聚合物層(16),其會部份包封該穿線交互連結(TWI)(14),同時讓該第一接點(32)露出。該半導體元件(10)可用來製造堆疊式系統(54)、模組系統(74)、以及測試系統(72)。一種用於製造該半導體元件(10)的方法則可包含一用於形成該聚合物層(16)的膜輔助成型製程。
简体摘要: 一种半导体组件(10)包含:一半导体基板(12),其具有一基板接点(20);以及一被附着至该基板接点(20)的穿线交互链接(TWI)(14)。该穿线交互链接(14)会提供一多层级交互链接,其会在该半导体基板(12)中彼此相对的第一侧(17)与第二侧(18)上具有接点(32、48)。该穿线交互链接(TWI)(14)包含:一通孔(28),该通孔会贯穿该基板接点(20)与该基板(12);一位于该通孔(28)中的电线(30),该电线具有一与该基板接点(20)相连的被焊接连接线(42);一位于靠近该第一侧(17)的该电线上的第一接点(32);以及一位于靠近该第二侧(18)之该电线(30)上的第二接点(46)。该穿线交互链接(TWI)(14)还包含一聚合物层(16),其会部份包封该穿线交互链接(TWI)(14),同时让该第一接点(32)露出。该半导体组件(10)可用来制造堆栈式系统(54)、模块系统(74)、以及测试系统(72)。一种用于制造该半导体组件(10)的方法则可包含一用于形成该聚合物层(16)的膜辅助成型制程。