公开(公告)号：US20090016130A1

公开(公告)日：2009-01-15

申请号：US11777189

申请日：2007-07-12

申请人： MANFRED MENKE ,  Roman Mayr ,  Paul Wallner

发明人： MANFRED MENKE ,  Roman Mayr ,  Paul Wallner

IPC分类号： G11C29/00

CPC分类号： G11C29/56 ,  G11C29/1201 ,  G11C29/32 ,  G11C2029/5602

摘要： In a method of testing a memory device, an output path of the memory device and an input path of the memory device are coupled to each other. A signal is transmitted, controlled by a test pattern, via the output path of the memory device. The signal is received via the input path of the memory device and evaluated.

摘要翻译： 在测试存储器件的方法中，存储器件的输出路径和存储器件的输入路径彼此耦合。 信号由测试图形经由存储器件的输出路径传输。 信号通过存储器件的输入路径接收并进行评估。

公开(公告)号：US06677745B2

公开(公告)日：2004-01-13

申请号：US10134132

申请日：2002-04-29

申请人： Roman Mayr ,  Andreas Schellinger

发明人： Roman Mayr ,  Andreas Schellinger

IPC分类号： G01R104

CPC分类号： G01R31/3191

摘要： A method for calibrating a test apparatus for parallel testing of a number of semiconductor memories, to a time-critical parameter, in which the components are positioned in batches at predetermined test positions and the parameter is measured. The various test positions give different measurement results since they are not identical. These different measurement results are compensated for by the following steps: The invention provides for a position-specific mean value MPS to be formed from batch parameter measurements at each test position, for a position-independent mean value MPU to be formed for the batch parameter measurements at all the test positions, and for a corrected mean value to be obtained for each test position by adding a correction value &dgr;, which is determined from the difference between the position-specific mean value MPS and the position-independent mean value MPU, to the position-specific mean value MPS.

摘要翻译： 一种用于校准用于多个半导体存储器的并行测试的测试装置的方法，以及时间关键参数，其中组件在预定的测试位置分批定位并且测量参数。 各种测试位置给出不同的测量结果，因为它们不相同。 这些不同的测量结果通过以下步骤进行补偿：本发明提供了通过在每个测试位置处的批次参数测量形成的位置特定平均值MPS，针对要为批次参数形成的位置无关平均值MPU 在所有测试位置进行测量，并且对于通过添加根据位置特定平均值MPS和位置无关平均值MPU之间的差确定的校正值Δ来为每个测试位置获得的校正平均值， 到位置特异性平均值MPS。

公开(公告)号：US20080059102A1

公开(公告)日：2008-03-06

申请号：US11469365

申请日：2006-08-31

申请人： Gerd Frankowsky ,  Roman Mayr

发明人： Gerd Frankowsky ,  Roman Mayr

IPC分类号： G06F19/00

CPC分类号： G11C29/38 ,  G01R31/31937 ,  G11C29/022 ,  G11C29/50 ,  G11C29/50012 ,  G11C2029/5002

摘要： A system and method for testing an integrated circuit is provided. In one embodiment, a method includes comparing the signal level of the output signal of the integrated circuit to the signal level of a reference signal, wherein a comparison signal is output, which has a first or a second value depending on whether the actual signal level of the output signal is above or below the actual signal level of the reference signal; determining the value of the comparison signal at a certain time; evaluating the value of the comparison signal determined at the time by way of a default; and outputting an error signal if the determined value of the comparison signal does not correspond to the default.

摘要翻译： 提供了一种用于测试集成电路的系统和方法。 在一个实施例中，一种方法包括将集成电路的输出信号的信号电平与参考信号的信号电平进行比较，其中输出比较信号，其具有取决于实际信号电平的第一或第二值 的输出信号高于或低于参考信号的实际信号电平; 在一定时间确定比较信号的值; 通过默认方式评估当时确定的比较信号的值; 如果比较信号的确定值不对应于默认值，则输出错误信号。

公开(公告)号：US20070101223A1

公开(公告)日：2007-05-03

申请号：US11586370

申请日：2006-10-25

申请人： Christian Chetreanu ,  Stefan Gollmer ,  Amir Leber ,  Roman Mayr

发明人： Christian Chetreanu ,  Stefan Gollmer ,  Amir Leber ,  Roman Mayr

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31928 ,  G01R31/31922 ,  G01R31/31937 ,  G11C29/48 ,  G11C29/56 ,  G11C29/56012 ,  G11C2029/5602

摘要： An electronic test apparatus for testing at least one circuit unit comprises a clock signal generator for generating a clock signal, a driver device comprising a plurality of driver subunits each generating a phase-shifted driver signal in response to said clock signal, a processing device for processing the phase-shifted driver signals and for comparing actual data being output by at least one circuit unit with desired data generated in the processing device, a connecting device for connecting the processing device to the at least one circuit unit and for transmitting the phase-shifted driver signals, the desired data, and the actual data between the processing device and the at least one circuit unit, and a combinational logic device for combining the phase-shifted driver signals to form a clock combination signal.

摘要翻译： 一种用于测试至少一个电路单元的电子测试装置包括用于产生时钟信号的时钟信号发生器，包括响应于所述时钟信号产生相移驱动器信号的多个驱动器子单元的驱动器装置，用于 处理相移的驱动器信号，并将由至少一个电路单元输出的实际数据与在处理装置中生成的期望数据进行比较;连接装置，用于将处理装置连接到至少一个电路单元， 移位的驱动器信号，期望数据以及处理装置与至少一个电路单元之间的实际数据，以及用于组合相移驱动器信号以形成时钟组合信号的组合逻辑装置。

公开(公告)号：US20090039910A1

公开(公告)日：2009-02-12

申请号：US12174302

申请日：2008-07-16

申请人： Gerd Frankowsky ,  Roman Mayr

发明人： Gerd Frankowsky ,  Roman Mayr

IPC分类号： G01R1/073

CPC分类号： G01R31/2893 ,  G01R31/2889

摘要： A test apparatus for semiconductor modules. One embodiment provides a test system. The test system includes a handler configured to receive at least one semiconductor module. The test system is equipped with a plurality of different pin cards. The handler has at least two independent groups of test receptacles.

摘要翻译： 一种用于半导体模块的测试装置。 一个实施例提供一种测试系统。 测试系统包括配置成接收至少一个半导体模块的处理器。 测试系统配备有多个不同的针卡。 处理器至少有两组独立的测试插座。

公开(公告)号：US07409308B2

公开(公告)日：2008-08-05

申请号：US11469365

申请日：2006-08-31

申请人： Gerd Frankowsky ,  Roman Mayr

发明人： Gerd Frankowsky ,  Roman Mayr

IPC分类号： G06F19/00

CPC分类号： G11C29/38 ,  G01R31/31937 ,  G11C29/022 ,  G11C29/50 ,  G11C29/50012 ,  G11C2029/5002

摘要： A system and method for testing an integrated circuit is provided. In one embodiment, a method includes comparing the signal level of the output signal of the integrated circuit to the signal level of a reference signal, wherein a comparison signal is output, which has a first or a second value depending on whether the actual signal level of the output signal is above or below the actual signal level of the reference signal; determining the value of the comparison signal at a certain time; evaluating the value of the comparison signal determined at the time by way of a default; and outputting an error signal if the determined value of the comparison signal does not correspond to the default.

摘要翻译： 提供了一种用于测试集成电路的系统和方法。 在一个实施例中，一种方法包括将集成电路的输出信号的信号电平与参考信号的信号电平进行比较，其中输出比较信号，其具有取决于实际信号电平的第一或第二值 的输出信号高于或低于参考信号的实际信号电平; 在一定时间确定比较信号的值; 通过默认方式评估当时确定的比较信号的值; 如果比较信号的确定值不对应于默认值，则输出错误信号。

公开(公告)号：US20050058077A1

公开(公告)日：2005-03-17

申请号：US10878677

申请日：2004-06-29

申请人： Roman Mayr

发明人： Roman Mayr

IPC分类号： G01R31/3167 ,  G01R31/317 ,  G01R31/319 ,  G11C29/00 ,  G11C29/50 ,  H04L1/00

CPC分类号： G01R31/31709 ,  G01R31/3167 ,  G01R31/31907 ,  G11C11/401 ,  G11C29/006 ,  G11C29/50 ,  G11C29/50012

摘要： A semi-conductor component test procedure, as well as a system for testing semi-conductor components. The invention relates to a semi-conductor component test procedure, as well as a system for testing semi-conductor components (3a, 3b, 3c, 3d), by means of a first and a second test apparatus (6a, 6b), whereby the first test apparatus (6a) is arranged and installed such that a time-discrete semi-conductor component test is performed by it on a particular semi-conductor component (3a), and whereby the second test apparatus (6a) is arranged and installed such that a separate, time-continuous semi-conductor component test is performed by it on the same semi-conductor component (3a).

摘要翻译： 半导体部件测试程序，以及半导体部件测试系统。 本发明涉及半导体部件测试程序，以及通过第一和第二测试装置（6a，6b）测试半导体部件（3a，3b，3c，3d）的系统，由此 第一测试装置（6a）被布置和安装成使得通过其在特定的半导体部件（3a）上执行时间离散的半导体部件测试，并且由此第二测试装置（6a）被布置和安装 使得通过它在相同的半导体部件（3a）上进行单独的，时间连续的半导体部件测试。