利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册

搜索结果

34 条记录 (耗时 0.034 秒)

    Structure and method for preventing UV radiation damage and increasing data retention in memory cells
    1.
    发明授权
    Structure and method for preventing UV radiation damage and increasing data retention in memory cells 有权
    用于防止紫外线辐射损伤并增加记忆单元中数据保留的结构和方法

    公开(公告)号：US06765254B1

    公开(公告)日：2004-07-20

    申请号：US10460279

    申请日：2003-06-12

    申请人： Angela Hui ,  Minh V. Ngo ,  Ning Cheng ,  Jaeyong Park ,  Jean Y. Yang ,  Hidehiko Shiraiwa ,  Rinji Sugino ,  Tazrien Kamal ,  Cinti X. Chen

    发明人： Angela Hui ,  Minh V. Ngo ,  Ning Cheng ,  Jaeyong Park ,  Jean Y. Yang ,  Hidehiko Shiraiwa ,  Rinji Sugino ,  Tazrien Kamal ,  Cinti X. Chen

    IPC分类号： H01L27108

    CPC分类号： H01L27/115 ,  H01L23/552 ,  H01L27/11521 ,  H01L27/11568 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

    摘要： According to one exemplary embodiment, a structure comprises a substrate. The structure further comprises at least one memory cell situated on the substrate. The at least one memory cell may be, for example, a flash memory cell, such as a SONOS flash memory cell. The structure further comprises an interlayer dielectric layer situated over the at least one memory cell and over the substrate. According to this exemplary embodiment, the structure further comprises a UV radiation blocking layer which comprises silicon-rich TCS nitride. Further, an oxide cap layer is situated over the UV radiation blocking layer. The structure might further comprise an antireflective coating layer over the oxide cap layer. The interlayer dielectric may comprise BPSG and the oxide cap layer may comprise TEOS oxide.

    摘要翻译： 根据一个示例性实施例，一种结构包括基底。 该结构还包括位于基板上的至少一个存储单元。 至少一个存储单元可以是例如闪存单元，例如SONOS闪存单元。 所述结构还包括位于所述至少一个存储器单元上方并位于所述衬底之上的层间电介质层。 根据该示例性实施例，该结构还包括包含富含硅的TCS氮化物的UV辐射阻挡层。 此外，氧化物覆盖层位于UV辐射阻挡层上。 该结构还可以包括氧化物覆盖层上的抗反射涂层。 层间电介质可以包括BPSG，并且氧化物覆盖层可以包含TEOS氧化物。

    Method of manufacturing a semiconductor memory with deuterated materials
    3.
    发明授权
    Method of manufacturing a semiconductor memory with deuterated materials 有权
    用氘代材料制造半导体存储器的方法

    公开(公告)号：US06884681B1

    公开(公告)日：2005-04-26

    申请号：US10672093

    申请日：2003-09-26

    申请人： Tazrien Kamal ,  Arvind Halliyal ,  Minh Van Ngo ,  Mark T. Ramsbey ,  Jean Y. Yang ,  Hidehiko Shiraiwa ,  Rinji Sugino

    发明人： Tazrien Kamal ,  Arvind Halliyal ,  Minh Van Ngo ,  Mark T. Ramsbey ,  Jean Y. Yang ,  Hidehiko Shiraiwa ,  Rinji Sugino

    IPC分类号： H01L21/336 ,  H01L21/8246

    CPC分类号： H01L27/11568 ,  H01L29/66833

    摘要： A method for manufacturing a MirrorBit® Flash memory includes providing a semiconductor substrate and successively depositing a first insulating layer, a charge-trapping layer, and a second insulating layer. First and second bitlines are implanted and wordlines are formed before completing the memory. Spacers are formed between the wordlines and an inter-layer dielectric layer is formed over the wordlines. One or more of the second insulating layer, wordlines, spacers, and inter-layer dielectric layers are deuterated, replacing hydrogen bonds with deuterium, thus improving data retention and substantially reducing charge loss.

    摘要翻译： 一种用于制造MirrorBit（闪存）闪存的方法包括：提供半导体衬底，并依次沉积第一绝缘层，电荷俘获层和第二绝缘层。 植入第一和第二位线，并在完成内存之前形成字线。 在字线之间形成间隔，并且在字线之间形成层间电介质层。 第二绝缘层，字线，间隔层和层间电介质层中的一个或多个被氘化，用氘替代氢键，从而改善数据保留并显着降低电荷损失。

    Semiconductor memory with deuterated materials
    5.
    发明授权
    Semiconductor memory with deuterated materials 有权
    具有氘化材料的半导体存储器

    公开(公告)号：US06670241B1

    公开(公告)日：2003-12-30

    申请号：US10128771

    申请日：2002-04-22

    申请人： Tazrien Kamal ,  Arvind Halliyal ,  Minh Van Ngo ,  Mark T. Ramsbey ,  Jean Y. Yang ,  Hidehiko Shiraiwa ,  Rinji Sugino

    发明人： Tazrien Kamal ,  Arvind Halliyal ,  Minh Van Ngo ,  Mark T. Ramsbey ,  Jean Y. Yang ,  Hidehiko Shiraiwa ,  Rinji Sugino

    IPC分类号： H01L21336

    CPC分类号： H01L27/11568 ,  H01L29/66833

    摘要： A device and method for manufacturing thereof for a MirrorBit® Flash memory includes providing a semiconductor substrate and successively depositing a first insulating layer, a charge-trapping layer, and a second insulating layer. First and second bitlines are implanted and wordlines are formed before completing the memory. Spacers are formed between the wordlines and an inter-layer dielectric layer is formed over the wordlines. One or more of the second insulating layer, wordlines, spacers, and inter-layer dielectric layers are deuterated, replacing hydrogen bonds with deuterium, thus improving data retention and substantially reducing charge loss.

    摘要翻译： 用于制造MirrorBit（闪存）闪存的器件及其制造方法包括：提供半导体衬底，并依次沉积第一绝缘层，电荷俘获层和第二绝缘层。 植入第一和第二位线，并在完成内存之前形成字线。 在字线之间形成间隔，并且在字线之间形成层间电介质层。 第二绝缘层，字线，间隔层和层间电介质层中的一个或多个被氘化，用氘替代氢键，从而改善数据保留并显着降低电荷损失。

    Semiconductor memory with data retention liner
    6.
    发明授权
    Semiconductor memory with data retention liner 有权
    具有数据保留衬垫的半导体存储器

    公开(公告)号：US07297592B1

    公开(公告)日：2007-11-20

    申请号：US11195201

    申请日：2005-08-01

    申请人： Minh Van Ngo ,  Arvind Halliyal ,  Tazrien Kamal ,  Hidehiko Shiraiwa ,  Rinji Sugino ,  Dawn Hopper ,  Pei-Yuan Gao

    发明人： Minh Van Ngo ,  Arvind Halliyal ,  Tazrien Kamal ,  Hidehiko Shiraiwa ,  Rinji Sugino ,  Dawn Hopper ,  Pei-Yuan Gao

    IPC分类号： H01L21/8247

    CPC分类号： H01L21/28282 ,  H01L21/3185 ,  H01L27/11568

    摘要： A manufacturing method for a dual bit flash memory includes providing a semiconductor substrate and depositing a charge-trapping dielectric layer with the depositing performed without using ammonia at an ultra-slow deposition rate. First and second bitlines are implanted and a wordline layer is deposited. A hard mask layer is deposited over the wordline layer. A photoresist is deposited over the wordline layer and used to form a hard mask. The photoresist is removed. The wordline layer is processed using the hard mask to form a wordline and the hard mask is removed. A reduced hydrogen, high-density data retention liner to reduce charge loss, covers the wordline and the charge-trapping dielectric layer. An interlayer dielectric layer is deposited over the data retention liner.

    摘要翻译： 一种用于双位闪速存储器的制造方法包括提供半导体衬底和沉积电荷捕获电介质层，其中沉积是以超低沉积速率使用氨而不使用氨。 植入第一和第二位线，并存放字线层。 硬掩模层沉积在字线层上。 光刻胶沉积在字线层上并用于形成硬掩模。 去除光致抗蚀剂。 使用硬掩模处理字线层以形成字线，并且去除硬掩模。 减少氢，高密度数据保持衬垫以减少电荷损失，覆盖字线和电荷捕获电介质层。 层间绝缘层沉积在数据保持衬里上。

    Liner for semiconductor memories and manufacturing method therefor
    8.
    发明授权
    Liner for semiconductor memories and manufacturing method therefor 有权
    半导体存储器用衬垫及其制造方法

    公开(公告)号：US06803265B1

    公开(公告)日：2004-10-12

    申请号：US10109234

    申请日：2002-03-27

    申请人： Minh Van Ngo ,  Arvind Halliyal ,  Tazrien Kamal ,  Hidehiko Shiraiwa ,  Rinji Sugino ,  Dawn M. Hopper ,  Pei-Yuan Gao

    发明人： Minh Van Ngo ,  Arvind Halliyal ,  Tazrien Kamal ,  Hidehiko Shiraiwa ,  Rinji Sugino ,  Dawn M. Hopper ,  Pei-Yuan Gao

    IPC分类号： H01L21337

    CPC分类号： H01L27/11568 ,  H01L23/26 ,  H01L27/115 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/3011 ,  H01L2924/00

    摘要： A manufacturing method for an integrated circuit memory includes providing a semiconductor substrate and depositing a charge-trapping dielectric layer. First and second bitlines are implanted and a wordline layer is deposited. A hard mask layer is deposited over the wordline layer. A photoresist is deposited over the wordline layer and used to form a hard mask. The photoresist is removed. The wordline layer is processed using the hard mask to form a wordline and the hard mask is removed. A reduced hydrogen, ultra-violet block data retention liner covers the wordline and the charge-trapping dielectric layer. The reduced hydrogen levels reduce the charge loss compared to prior art. The surface of the liner is processed to block UV light before completing the integrated circuit.

    摘要翻译： 集成电路存储器的制造方法包括提供半导体衬底和沉积电荷俘获电介质层。 植入第一和第二位线，并存放字线层。 硬掩模层沉积在字线层上。 光刻胶沉积在字线层上并用于形成硬掩模。 去除光致抗蚀剂。 使用硬掩模处理字线层以形成字线，并且去除硬掩模。 减少的氢，紫外阻挡数据保持衬里覆盖字线和电荷捕获介电层。 与现有技术相比，降低的氢含量降低了电荷损失。 在完成集成电路之前，衬里的表面被处理以阻挡UV光。