公开(公告)号：US06525589B1

公开(公告)日：2003-02-25

申请号：US09695705

申请日：2000-10-25

申请人： Axel Thomsen ,  Edwin De Angel ,  Sherry Wu ,  Aryesh Amar ,  Jerome E. Johnston

发明人： Axel Thomsen ,  Edwin De Angel ,  Sherry Wu ,  Aryesh Amar ,  Jerome E. Johnston

IPC分类号： H03K1716

CPC分类号： H03M3/494 ,  G01D3/022 ,  H03M3/448 ,  H03M3/452

摘要： An instrumentation circuit has an integrated circuit that has input terminals, an amplifier arrangement using feed forward compensation and an analog to digital converter and a serial data output receiving the output from said amplifier arrangement. A bridge circuit, having a transducer, or a thermocouple arrangement are connected to input terminals of the integrated circuit.

摘要翻译： 仪表电路具有具有输入端子的集成电路，使用前馈补偿的放大器装置和模数转换器以及接收来自所述放大器装置的输出的串行数据输出。 具有换能器或热电偶布置的桥式电路连接到集成电路的输入端子。

公开(公告)号：US06891430B1

公开(公告)日：2005-05-10

申请号：US09695706

申请日：2000-10-25

申请人： Axel Thomsen ,  Edwin De Angel ,  Sherry Wu ,  Lei Wang ,  Aryesh Amar

发明人： Axel Thomsen ,  Edwin De Angel ,  Sherry Wu ,  Lei Wang ,  Aryesh Amar

IPC分类号： H03M3/00 ,  G06G7/12

CPC分类号： H03M3/494 ,  H03M3/43 ,  H03M3/448 ,  H03M3/452

摘要： A signal processing integrated circuit has having a chopper stabilized, multistage, feedforward amplifier and a delta sigma analog to digital converter. Filtering of the output of the output from the analog to digital converter comprises a sinc5 filter and a sinc3 filter. The sinc3 filter may be bypassed. A rough buffer permits quick charging of a sample and hold capacitor during part of the charge cycle and slower but more accurate charging during the remainder of the charge cycle.

摘要翻译： 信号处理集成电路具有斩波稳定的多级前馈放大器和ΔΣ模数转换器。 从模数转换器输出的输出的滤波包括​​一个Sinc＆lt; 5＆gt;滤波器和一个sinc＆lt; 3＆gt; 3滤波器。 可以绕过sinc <3> 3滤波器。 一个粗略的缓冲器允许在充电周期的一部分期间快速充电一个采样和保持电容器，并且在充电周期的剩余时间内可以进行更慢但更精确的充电。

公开(公告)号：US06885211B1

公开(公告)日：2005-04-26

申请号：US10117374

申请日：2002-04-05

申请人： Axel Thomsen ,  Sherry Wu ,  Murari Kejariwal ,  Ammisetti Prasad ,  John Laurence Melanson

发明人： Axel Thomsen ,  Sherry Wu ,  Murari Kejariwal ,  Ammisetti Prasad ,  John Laurence Melanson

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/26

CPC分类号： G01R31/2837

摘要： A method of testing an integrated circuit includes setting a guardbanded limit for a parameter associated with an embedded node, a deviation from the guardbanded limit under a set of test conditions correlated with a failure of the integrated circuit across a range of operating conditions. A test is performed under the test conditions to detect deviations of the parameter from the guardbanded limit to detect failures of the integrated circuit over the range of operating conditions.

摘要翻译： 一种测试集成电路的方法包括设置与嵌入式节点相关联的参数的保护限值，与在整个操作条件范围内的集成电路的故障相关的一组测试条件下的保护带限制的偏差。 在测试条件下进行测试，以检测参数与防护带限制的偏差，以检测集成电路在工作条件范围内的故障。