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    Apparatus and method for multi-phase transformers
    2.
    发明授权
    Apparatus and method for multi-phase transformers 有权
    多相变压器的装置及方法

    公开(公告)号：US07315463B2

    公开(公告)日：2008-01-01

    申请号：US10956192

    申请日：2004-09-30

    申请人： Gerhard Schrom ,  Peter Hazucha ,  Donald S. Gardner ,  Vivek K. De ,  Tanay Karnik

    发明人： Gerhard Schrom ,  Peter Hazucha ,  Donald S. Gardner ,  Vivek K. De ,  Tanay Karnik

    IPC分类号： H02M5/00

    CPC分类号： H02M3/1584 ,  H01F27/38 ,  H01F27/42 ,  H01F37/00 ,  H01F2038/026

    摘要： A method and apparatus for multi-phase transformers are described. In one embodiment, a coupled inductor topology for the multi-phase transformers comprising N primary inductors. In one embodiment, each primary inductor is coupled to one of N input nodes and a common output node. The transformer further includes N−1 secondary inductors coupled in series between one input node and the common output node. In one embodiment, the N−1 secondary inductors are arranged to couple energy from N−1 of the primary inductors to provide a common node voltage as an average of N input node voltages, wherein N is an integer greater than two. Other embodiments are described and claimed.

    摘要翻译： 描述了用于多相变压器的方法和装置。 在一个实施例中，用于包括N个初级电感器的多相变压器的耦合电感器拓扑。 在一个实施例中，每个主电感器耦合到N个输入节点和公共输出节点之一。 变压器还包括串联耦合在一个输入节点和公共输出节点之间的N-1个次级电感器。 在一个实施例中，N-1次级电感器被布置成耦合来自初级电感器的N-1的能量，以提供公共节点电压作为N个输入节点电压的平均值，其中N是大于2的整数。 描述和要求保护其他实施例。

    Signal measurement systems and methods
    8.
    发明授权
    Signal measurement systems and methods 有权
    信号测量系统和方法

    公开(公告)号：US07262632B2

    公开(公告)日：2007-08-28

    申请号：US11095951

    申请日：2005-03-31

    申请人： Peter Hazucha ,  Gerhard Schrom ,  Tanay Karnik ,  Vivek K De

    发明人： Peter Hazucha ,  Gerhard Schrom ,  Tanay Karnik ,  Vivek K De

    IPC分类号： H03K19/173 ,  G06F7/38

    CPC分类号： G01R31/31725 ,  G01R31/31711 ,  G01R31/31726

    摘要： Systems and methods are disclosed for measuring signals on an integrated circuit die. In one embodiment, a reference signal is distributed to die locations proximal to the signals to be measured. The reference signal is transmitted over transport paths coupling each of the signals to be measured to the die output. The signals to be measured are transmitted over their respective transport paths and measured at the die output. The relative delay between the signals can be calculated using the reference signal measurements.

    摘要翻译： 公开了用于测量集成电路管芯上的信号的系统和方法。 在一个实施例中，将参考信号分布到靠近待测信号的位置的模具位置。 参考信号通过将要测量的每个信号耦合到管芯输出的传输路径传输。 要测量的信号通过其各自的传输路径传输并在管芯输出端测量。 可以使用参考信号测量来计算信号之间的相对延迟。