公开(公告)号：US5789843A

公开(公告)日：1998-08-04

申请号：US535246

申请日：1995-10-30

申请人： Toshiro Higuchi ,  Ju Jin ,  Manabu Kanemoto

发明人： Toshiro Higuchi ,  Ju Jin ,  Manabu Kanemoto

IPC分类号： B65G54/02 ,  B65H3/18 ,  B65H5/00 ,  H01L21/677 ,  H01L21/683 ,  H02N1/00 ,  H02N13/00 ,  H02N2/00 ,  H02N2/02 ,  H02N2/06

CPC分类号： H01L21/6838 ,  B65G54/02 ,  B65H3/18 ,  B65H5/004 ,  H01L21/67784 ,  H01L21/6833 ,  H02N13/00

摘要： An electrostatic levitating electrode (10) is split into four equal segments on a circular insulating substrate (4) with isolating strips (11a, 11b) interposed between them. A positive voltage and a negative voltage are alternately applied to these four electrodes (10a, 10b, 10c, 10d), which are sector-shaped. In order to prevent the concentration of electric charge in such case, the corner portions of the sector-shaped electrodes (10a, 10b, 10c, 10d) are formed to have roundness (13). Furthermore, a lead wire (12a) is connected to the outer side of the sector-shaped electrode (10a), a lead wire (12b) is connected to the outer side of the sector-shaped electrode (10b), a lead wire (12c) is connected to the outer side of sector-shaped electrode (10c), and a lead wire (12d) is connected to the outer side of sector-shaped electrode (10d). Accordingly, the maximum attraction force and levitational rigidity are increased without damage to electrodes at lead portions and it possible to convey a levitated body with accuracy.

摘要翻译： PCT No.PCT / JP95 / 00470 Sec。 371 1995年10月30日第 102（e）1995年10月30日PCT PCT 1995年3月17日PCT公布。 WO95 / 25689 PCT出版物 日期1995年9月28日静电悬浮电极（10）在圆形绝缘基板（4）上被分成四个相等的部分，隔离带（11a，11b）插在它们之间。 对这四扇形的四个电极（10a，10b，10c，10d）交替施加正电压和负电压。 为了防止这种情况下的电荷集中，扇形电极（10a，10b，10c，10d）的角部形成为具有圆度（13）。 此外，引线（12a）与扇形电极（10a）的外侧连接，引线（12b）与扇形电极（10b）的外侧连接，引线 12c）连接到扇形电极（10c）的外侧，并且引线（12d）连接到扇形电极（10d）的外侧。 因此，最大吸引力和悬浮刚度增加，而不损害引线部分的电极，并且可以精确地输送悬浮体。

公开(公告)号：US20080030731A1

公开(公告)日：2008-02-07

申请号：US11891657

申请日：2007-08-09

申请人： Ju Jin ,  Satish Sadam ,  Vishal Verma ,  Zhiyan Huang ,  Siming Lin ,  Michael Robbins ,  Paul Forderhase

发明人： Ju Jin ,  Satish Sadam ,  Vishal Verma ,  Zhiyan Huang ,  Siming Lin ,  Michael Robbins ,  Paul Forderhase

IPC分类号： G01J4/00 ,  G01N21/25 ,  G01N21/47

CPC分类号： G01N21/4738 ,  G01N21/9503

摘要： A substrate illumination and inspection system provides for illuminating and inspecting a substrate particularly the substrate edge. The system uses a light diffuser with a plurality of lights disposed at its exterior or interior for providing uniform diffuse illumination of a substrate. An optic and imaging system exterior of the light diffuser are used to inspect the plurality of surfaces of the substrate including specular surfaces. The optic can be rotated radially relative to a center point of the substrate edge to allow for focused inspection of all surfaces of the substrate edge.

摘要翻译： 衬底照明和检查系统提供用于照明和检查衬底，特别是衬底边缘。 该系统使用具有设置在其外部或内部的多个光的光漫射器，用于提供衬底的均匀漫射照明。 光扩散器的光学和成像系统外部用于检查包括镜面的基板的多个表面。 光学元件可以相对于基板边缘的中心点径向旋转，以允许对基板边缘的所有表面进行聚焦检查。

公开(公告)号：US20090122304A1

公开(公告)日：2009-05-14

申请号：US12188887

申请日：2008-08-08

申请人： Ju Jin ,  Satish Sadam ,  Vishal Verma ,  Zhiyan Huang ,  Siming Lin ,  Michael D. Robbins ,  Paul F. Forderhase

发明人： Ju Jin ,  Satish Sadam ,  Vishal Verma ,  Zhiyan Huang ,  Siming Lin ,  Michael D. Robbins ,  Paul F. Forderhase

IPC分类号： G01N21/88 ,  H05B37/02

CPC分类号： G01N21/4738 ,  G01N21/9503

摘要： A substrate illumination and inspection system provides for illuminating and inspecting a substrate particularly the substrate edge. The system uses a light diffuser with a plurality of lights disposed at its exterior or interior for providing uniform diffuse illumination of a substrate. An optic and imaging system exterior of the light diffuser are used to inspect the plurality of surfaces of the substrate including specular surfaces. An automatic defect characterization processor is provided.

摘要翻译： 衬底照明和检查系统提供用于照明和检查衬底，特别是衬底边缘。 该系统使用具有设置在其外部或内部的多个光的光漫射器，用于提供衬底的均匀漫射照明。 光扩散器的光学和成像系统外部用于检查包括镜面的基板的多个表面。 提供自动缺陷表征处理器。

公开(公告)号：US20090116727A1

公开(公告)日：2009-05-07

申请号：US12188849

申请日：2008-08-08

申请人： Ju Jin ,  Satish Sadam ,  Vishal Verma ,  Zhiyan Huang ,  Siming Lin ,  Michael D. Robbins ,  Paul F. Forderhase

发明人： Ju Jin ,  Satish Sadam ,  Vishal Verma ,  Zhiyan Huang ,  Siming Lin ,  Michael D. Robbins ,  Paul F. Forderhase

IPC分类号： G06K9/00

CPC分类号： G01N21/4738 ,  G01N21/9503

摘要： A substrate illumination and inspection system provides for illuminating and inspecting a substrate particularly the substrate edge. The system a image processor to automatically detect and characterize defects on the wafer's edge.

摘要翻译： 衬底照明和检查系统提供用于照明和检查衬底，特别是衬底边缘。 该系统用于自动检测和表征晶圆边缘缺陷的图像处理器。

公开(公告)号：US07508504B2

公开(公告)日：2009-03-24

申请号：US11891657

申请日：2007-08-09

申请人： Ju Jin ,  Satish Sadam ,  Vishal Verma ,  Zhiyan Huang ,  Siming Lin ,  Michael D Robbins ,  Paul F. Forderhase

发明人： Ju Jin ,  Satish Sadam ,  Vishal Verma ,  Zhiyan Huang ,  Siming Lin ,  Michael D Robbins ,  Paul F. Forderhase

IPC分类号： G01N21/00

CPC分类号： G01N21/4738 ,  G01N21/9503

摘要： A substrate illumination and inspection system provides for illuminating and inspecting a substrate particularly the substrate edge. The system uses a light diffuser with a plurality of lights disposed at its exterior or interior for providing uniform diffuse illumination of a substrate. An optic and imaging system exterior of the light diffuser are used to inspect the plurality of surfaces of the substrate including specular surfaces. The optic can be rotated radially relative to a center point of the substrate edge to allow for focused inspection of all surfaces of the substrate edge.

摘要翻译： 衬底照明和检查系统提供用于照明和检查衬底，特别是衬底边缘。 该系统使用具有设置在其外部或内部的多个光的光漫射器，用于提供衬底的均匀漫射照明。 光扩散器的光学和成像系统外部用于检查包括镜面的基板的多个表面。 光学元件可以相对于基板边缘的中心点径向旋转，以允许对基板边缘的所有表面进行聚焦检查。

公开(公告)号：US08373789B2

公开(公告)日：2013-02-12

申请号：US12658914

申请日：2010-02-18

申请人： Ju Jin

发明人： Ju Jin

IPC分类号： G02B13/16 ,  H04N5/225

CPC分类号： H04N5/23212 ,  G03B13/36

摘要： An auto focus method for passive auto focus systems consists of an image acquisition and processing engine, as well as an acutance index calculation engine. An auto focus method measures image's acutance index rather than image's contrast value. A passive auto focus system employing the auto focus method of the present invention can accurately and reliably detect the best focus point and thus preventing auto focus malfunction even under the condition that illumination uniformity changes dramatically.

摘要翻译： 被动自动对焦系统的自动对焦方法包括图像采集和处理引擎，以及尖端指数计算引擎。 自动对焦方法测量图像的锐度指数，而不是图像的对比度值。 采用本发明的自动聚焦方法的被动自动对焦系统可以精确可靠地检测最佳聚焦点，从而即使在照明均匀性发生显着变化的情况下也能够防止自动聚焦故障。

公开(公告)号：US20110199532A1

公开(公告)日：2011-08-18

申请号：US12658914

申请日：2010-02-18

申请人： Ju Jin

发明人： Ju Jin

IPC分类号： H04N5/232

CPC分类号： H04N5/23212 ,  G03B13/36

摘要： An auto focus system comprises an image capturing optical unit, an image capturing camera, an image acquisition and processing engine, an acutance index calculation engine, a motion control engine, a motion controller and a lens driving unit. An auto focus method measures image's acutance index rather than image's contrast value. An auto focus system employing the auto focus method of the present invention can accurately and reliably detect the best focus point and thus preventing auto focus malfunction even under the condition that illumination uniformity changes dramatically.

摘要翻译： 自动对焦系统包括图像拍摄光学单元，图像捕获相机，图像获取和处理引擎，尖锐指数计算引擎，运动控制引擎，运动控制器和透镜驱动单元。 自动对焦方法测量图像的锐度指数，而不是图像的对比度值。 采用本发明的自动聚焦方法的自动对焦系统可以精确可靠地检测最佳聚焦点，从而即使在照明均匀性急剧变化的情况下也能够防止自动聚焦故障。

公开(公告)号：US20100309307A1

公开(公告)日：2010-12-09

申请号：US12455821

申请日：2009-06-08

申请人： Ju Jin

发明人： Ju Jin

IPC分类号： H04N7/18 ,  G06K9/00

CPC分类号： G01N21/952 ,  G01N21/954 ,  G01N2021/8854

摘要： A fully automated inspection system provides for inspection, measurement and characterization of a wire mesh tube, particularly a stent. The system uses an optical imaging subsystem to capture high resolution color images of both exterior and interior surfaces of a stent. Defects are defected by processing the captured images using proprietary algorithms. Geometric dimensional features of a stent are measured by processing the stitched 2-D map of the stent. In addition, a surface-scanning profiling subsystem is used to measure the surface roughness of drug films or metallic surfaces. It also measures the 3-D profile of a stent strut.

摘要翻译： 完全自动化的检测系统提供了丝网管，特别是支架的检查，测量和表征。 该系统使用光学成像子系统来捕获支架外表面和内表面的高分辨率彩色图像。 通过使用专有算法处理捕获的图像来破坏缺陷。 通过加工支架的缝合二维图来测量支架的几何尺寸特征。 此外，使用表面扫描型材子系统来测量药物膜或金属表面的表面粗糙度。 它还测量支架支柱的三维轮廓。

公开(公告)号：US20080014223A1

公开(公告)日：2008-01-17

申请号：US11813315

申请日：2006-01-03

申请人： Jong Woo ,  Hong Yi ,  Ju Jin

发明人： Jong Woo ,  Hong Yi ,  Ju Jin

IPC分类号： A61K9/08 ,  A61K31/19 ,  A61P29/00

CPC分类号： A61K9/0095

摘要： A dexibupropen syrup composition comprising dexibupropen ((S)-ibupropen) having an average particle size ranging from 10 to 300 μm as an active ingredient, which does not contain glycerine and has a viscosity ranging from 500 to 3,000 cps and pH ranging from 3.0 to 6.0, shows improved safety, uniformity of efficacy, and taste.

摘要翻译： 一种脱苯西吡丙酸糖浆组合物，其包含平均粒度为10-300μm的作为活性成分的除木麻酚（（S） - 安非他丁），其不含甘油，粘度范围为500-3000cps，pH范围为3.0〜 6.0，显示出改进的安全性，功效的均匀性和味道。