公开(公告)号：US06597017B1

公开(公告)日：2003-07-22

申请号：US09520188

申请日：2000-03-07

申请人： Yasuji Seko ,  Akira Sakamoto

发明人： Yasuji Seko ,  Akira Sakamoto

IPC分类号： H01L2715

CPC分类号： H01S5/32341 ,  H01S5/18308 ,  H01S5/18361 ,  H01S5/2063 ,  H01S5/3201 ,  H01S2304/04

摘要： Provided is a semiconductor device that has pseudo lattice matched layers with good crystallinity, formed with lattice mismatched materials. Tensile-strained n-type Al0.5Ga0.5N layers (lower side) and compressive-strained n-type Ga0.9In0.1N layers (upper side) are grown on a GaN crystal layer substrate in 16.5 periods to form an n-type DBR mirror; an undoped GaN spacer layer and an active region are grown on the n-type DBR mirror; and an undoped a GaN spacer layer is grown on the active region. Further, tensile-strained p-type Al0.5Ga0.5N layers (lower side) and compressive-strained p-type Ga0.9In0.1N layers (upper side) are grown on the spacer layer in 12 periods to form a p-type DBR mirror and eventually complete a surface emitting semiconductor laser.

摘要翻译： 提供具有晶格匹配层的具有良好结晶度的晶格匹配层的半导体器件，由晶格失配的材料形成。 拉伸应变n型Al0.5Ga0.5N层（下侧）和压应变n型Ga 0.9 In 0.1 N层（上侧）在16.5个周期内在GaN晶体层基板上生长以形成n型 DBR镜 在n型DBR镜上生长未掺杂的GaN间隔层和有源区; 并且在有源区上生长未掺杂的GaN间隔层。 此外，在间隔层中在12个时间段内生长拉伸应变的p型Al 0.5 Ga 0.5 N层（下侧）和压应变p型Ga 0.9 In 0.1 N层（上侧）以形成p型 DBR反射镜，最终完成表面发射半导体激光器。

公开(公告)号：US08170329B2

公开(公告)日：2012-05-01

申请号：US12398268

申请日：2009-03-05

申请人： Yasuji Seko ,  Hiroyuki Hotta ,  Yasuyuki Saguchi

发明人： Yasuji Seko ,  Hiroyuki Hotta ,  Yasuyuki Saguchi

IPC分类号： G06K9/00

CPC分类号： G06K9/3216 ,  G06T7/73 ,  G06T2207/30204 ,  G06T2207/30208

摘要： A position measuring system includes: an image capturing unit that captures reference points provided on an object, the reference points composed of at least four first reference points provided respectively at vertices of a polygon or at vertices and a barycenter of a polygon and at least one second reference point provided so as to have a specific positional relationship with respect to the first reference points; an identification unit that identifies images of the first reference points and the second reference point captured by the image capturing unit, on the basis of positional relationships between the images of the first reference points and the second reference point; and a calculation unit that calculates a three-dimensional position and three-axial angles of the object on the basis of positional relationships of the images of the first reference points identified by the identification unit.

摘要翻译： 位置测量系统包括：图像捕获单元，其捕获设置在对象上的参考点，所述参考点由至少四个第一参考点组成，所述至少四个第一参考点分别设置在多边形的顶点或多边形的顶点和重心处，并且至少一个 第二参考点被设置为具有相对于第一参考点的特定位置关系; 识别单元，基于第一参考点和第二参考点的图像之间的位置关系来识别由图像捕获单元捕获的第一参考点和第二参考点的图像; 以及计算单元，其基于由识别单元识别的第一参考点的图像的位置关系来计算对象的三维位置和三角度。

公开(公告)号：US07562821B2

公开(公告)日：2009-07-21

申请号：US11353011

申请日：2006-02-14

申请人： Yasuji Seko ,  Tsutomu Abe ,  Yoshinori Yamaguchi ,  Hiroyuki Miyake

发明人： Yasuji Seko ,  Tsutomu Abe ,  Yoshinori Yamaguchi ,  Hiroyuki Miyake

IPC分类号： G06K7/10

CPC分类号： G01B11/002 ,  G01B11/2513

摘要： A position measurement system, includes: a plurality of concentric pattern projectors each for projecting a concentric pattern; an image sensor that has a sensor plane and that detects the concentric pattern; and an arithmetic unit that calculates a position of the image sensor and a normal direction of the sensor plane from a detection signal of the image sensor.

摘要翻译： 一种位置测量系统，包括：多个同心图案投影仪，每个同心图案投影仪用于突出同心图案; 图像传感器，其具有传感器平面并且检测同心图案; 以及算术单元，其根据图像传感器的检测信号计算图像传感器的位置和传感器平面的法线方向。

公开(公告)号：US20080112054A1

公开(公告)日：2008-05-15

申请号：US11750411

申请日：2007-05-18

申请人： Yasuji Seko

发明人： Yasuji Seko

IPC分类号： G02B27/00

CPC分类号： G02B27/2214 ,  G02B27/123 ,  G03B21/208

摘要： A longitudinal interference fringe pattern projection lens includes: a lens body; a lens first surface that constitutes one surface of the lens body, and that has two convex or concave portions, which extend in parallel to each other in constant direction and have a same shape; and a lens second surface that constitutes the other surface of the lens body, wherein laser light passing through one convex or concave portion interferes with laser light passing through the other convex or concave portion to form a longitudinal interference fringe pattern.

摘要翻译： 纵向干涉条纹图案投影透镜包括：透镜体; 构成透镜主体的一个表面的透镜第一表面，并且具有在恒定方向上彼此平行延伸并且具有相同形状的两个凸部或凹部; 以及构成透镜体的另一面的透镜第二面，其中通过一个凸部或凹部的激光干涉通过另一个凸部或凹部的激光，形成纵向干涉条纹图案。

公开(公告)号：US07009713B2

公开(公告)日：2006-03-07

申请号：US10426632

申请日：2003-05-01

申请人： Yasuji Seko ,  Hiroyuki Hotta

发明人： Yasuji Seko ,  Hiroyuki Hotta

IPC分类号： G01B9/02

CPC分类号： G06F3/03545 ,  G01B9/02097 ,  G01B11/002 ,  G06F3/0304 ,  G06F3/0346 ,  G06K9/224

摘要： A position measuring system including a laser light source for radiating a laser beam, an optical lens system for generating an interference pattern on the basis of the laser beam having passed through different optical paths, a detector for detecting the interference pattern, and an arithmetic unit for calculating the position of at least one of the light source and the detector on the basis of a detection signal issued from the detector. For example, a spherical lens can be used as the optical lens system. In this case, the interference pattern is formed on the basis of spherical aberration of the lens. Alternatively, a multifocal lens may be used as the optical lens system.

摘要翻译： 一种位置测量系统，包括用于照射激光束的激光源，基于通过不同光路的激光束产生干涉图案的光学透镜系统，用于检测干涉图案的检测器和运算单元 用于基于从检测器发出的检测信号来计算光源和检测器中的至少一个的位置。 例如，可以使用球面透镜作为光学透镜系统。 在这种情况下，基于透镜的球面像差形成干涉图案。 或者，可以使用多焦点透镜作为光学透镜系统。

公开(公告)号：US20050259266A1

公开(公告)日：2005-11-24

申请号：US11013390

申请日：2004-12-17

申请人： Yasuji Seko

发明人： Yasuji Seko

IPC分类号： G01B11/00 ,  G01B11/02 ,  G01B11/03 ,  G01B11/26 ,  G01S7/481 ,  G01S17/46 ,  G02B3/00 ,  G02B3/02 ,  G02B5/00

CPC分类号： G01S17/46 ,  G01B11/02 ,  G01S7/4814 ,  G02B5/001

摘要： An optical lens system includes a lens surface capable of forming concentric interference patterns on an object as if light emitted from a single light source were virtually emitted from two or more light sources within a plane containing an optical axis of the single light source.

摘要翻译： 光学透镜系统包括能够在物体上形成同心干涉图案的透镜表面，就好像从单个光源发出的光从包含单个光源的光轴的平面内的两个或多个光源实际上发射出来。

公开(公告)号：US5880766A

公开(公告)日：1999-03-09

申请号：US751674

申请日：1996-11-18

申请人： Akemi Murakami ,  Kaoru Yasukawa ,  Hideo Nakayama ,  Hideki Fukunaga ,  Nobuaki Ueki ,  Hiromi Otoma ,  Yasuji Seko ,  Mario Fuse

发明人： Akemi Murakami ,  Kaoru Yasukawa ,  Hideo Nakayama ,  Hideki Fukunaga ,  Nobuaki Ueki ,  Hiromi Otoma ,  Yasuji Seko ,  Mario Fuse

IPC分类号： B41J2/44 ,  G06K15/12 ,  H04N1/04 ,  H04N1/047 ,  H04N1/12 ,  H04N1/193 ,  G03G15/04

CPC分类号： H04N1/047 ,  G06K15/1238 ,  H04N1/1932 ,  H04N1/12 ,  H04N1/193 ,  H04N2201/046 ,  H04N2201/04729 ,  H04N2201/04755

摘要： An apparatus for correcting positional deviation of the light source emitting light beams in an image recording apparatus is disclosed which corrects change of the image size (dimensions of the image) on the photosensitive member due to positional deviations of beam spots on the photosensitive member on account of physical distortions caused by external vibration, temperature change, and the like. Changes in the diameter of detective light beams are measured by photodetecting portions 5.sub.R and 5.sub.L and piezoelectric devices 6a and 6b are driven based on the results of the detection, whereby the semiconductor laser array 1 is moved so that the multiplication b/a for the image size may be kept constant.

摘要翻译： 公开了一种用于校正图像记录装置中的光源发射光束的位置偏差的装置，其用于校正由于光敏部件上光束部件上的光束点的位置偏差导致的感光部件上的图像尺寸（尺寸）的变化 由外部振动，温度变化等引起的物理失真。 通过光检测部5R和5L测量检测光束的直径变化，并且基于检测结果来驱动压电器件6a和6b，由此使半导体激光器阵列1移动，使得图像的乘法b / a 尺寸可能保持不变。

公开(公告)号：US07742895B2

公开(公告)日：2010-06-22

申请号：US12099576

申请日：2008-04-08

申请人： Yasuji Seko ,  Hiroyuki Hotta ,  Yasuyuki Saguchi

发明人： Yasuji Seko ,  Hiroyuki Hotta ,  Yasuyuki Saguchi

IPC分类号： G01C9/00

CPC分类号： G01B11/005 ,  G01B11/26

摘要： The position measurement system includes: an image capturing unit capturing first reference points which are three reference points on a plane arranged on a target and whose positional relation with each other is specified, and a second reference point which is a single reference point at a distance away from the plane and whose positional relation with the first reference points is specified; an identifying unit identifying images of the first and second reference points based on the positional relation among the images; and a calculating unit calculating a three-dimensional position and triaxial angles of the target based on the positional relation between the images of the first and second reference points. The calculating unit specifies the plane including the first reference points on the target from the images of the first reference points and a normal direction of the plane according to the image of the second reference point.

摘要翻译： 位置测量系统包括：摄像单元，其捕获作为在目标上布置的平面上的三个参考点和指定了彼此的位置关系的第一参考点，以及作为距离的单个参考点的第二参考点 指定与第一参考点的位置关系; 识别单元，基于图像之间的位置关系识别第一和第二参考点的图像; 以及计算单元，基于第一和第二参考点的图像之间的位置关系来计算目标的三维位置和三轴角度。 计算单元根据第二参考点的图像从第一参考点的图像和平面的法线方向指定包括目标上的第一参考点的平面。

公开(公告)号：US07633628B2

公开(公告)日：2009-12-15

申请号：US12339700

申请日：2008-12-19

申请人： Yasuji Seko

发明人： Yasuji Seko

IPC分类号： G01B11/02 ,  G02B1/10 ,  G02B13/22

CPC分类号： G01S17/46 ,  G01B11/02 ,  G01S7/4814 ,  G02B5/001

摘要： An optical lens system includes a lens surface capable of forming concentric interference patterns on an object as if light emitted from a single light source were virtually emitted from two or more light sources within a plane containing an optical axis of the single light source.

摘要翻译： 光学透镜系统包括能够在物体上形成同心干涉图案的透镜表面，就好像从单个光源发出的光从包含单个光源的光轴的平面内的两个或多个光源实际上发射出来。

公开(公告)号：US07554676B2

公开(公告)日：2009-06-30

申请号：US10940766

申请日：2004-09-15

申请人： Yasuji Seko

发明人： Yasuji Seko

IPC分类号： G01B11/14 ,  G01C3/00 ,  G01C5/00 ,  G01J5/02 ,  G01N21/86 ,  G01V8/00 ,  G01S3/02 ,  G01S5/14 ,  H04B7/185 ,  G02B17/00

CPC分类号： G01S5/16 ,  G01B11/002

摘要： A positional measurement system includes an electromagnetic wave source which emits an electromagnetic wave, a lens system which has a first lens surface, an electromagnetic wave shield section provided around a center axis of the first lens surface, and a second lens surface, and causes the electromagnetic wave having entered by way of the first lens surface exclusive of the electromagnetic wave shield section to exit from the second lens surface, to form an electromagnetic wave concentrated area at a position opposite the electromagnetic wave source, a receiving device which detects the electromagnetic wave concentrated area formed by the lens system, and a computing device which measures a position of the electromagnetic wave source based on information detected by the receiving device on the electromagnetic wave concentrated area.

摘要翻译： 位置测量系统包括发射电磁波的电磁波源，具有第一透镜表面的透镜系统，围绕第一透镜表面的中心轴线设置的电磁波屏蔽部分和第二透镜表面，并且使得 通过第一透镜表面而不是电磁波屏蔽部分进入的电磁波从第二透镜表面离开，在与电磁波源相对的位置处形成电磁波集中区域，检测电磁波的接收装置 由透镜系统形成的集中区域，以及基于接收装置在电磁波集中区域检测出的信息来测量电磁波源的位置的计算装置。