FUSED SILICA GLASS ARTICLE HAVING IMPROVED RESISTANCE TO LASER DAMAGE
    2.
    发明申请
    FUSED SILICA GLASS ARTICLE HAVING IMPROVED RESISTANCE TO LASER DAMAGE 审中-公开
    熔融二氧化硅玻璃制品具有改善的耐光损伤性能

    公开(公告)号:WO2014204927A1

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:PCT/US2014/042680

    申请日:2014-06-17

    IPC分类号: C03C3/06 C03C4/00 C03C21/00

    摘要: A fused silica glass article having greater resistance to damage induced by exposure to laser radiation such as laser induced wavefront distortion at deep ultraviolet (DUV) wavelengths, and behaviors such as fluence dependent transmission, which are related to intrinsic defects in the glass. The improved resistance to laser damage may be achieved in some embodiments by loading the glass article with molecular hydrogen (H2) at temperatures of about 400°C or less, or 350°C or less. The combined OH and deuteroxyl (OD) concentration may be less than 10 ppm by weight. In other embodiments, the improved resistance may be achieved by providing the glass with 10 to 60 ppm deuteroxyl (OD) species by weight. In still other embodiments, improved resistance to such laser damage may be achieved by both loading the glass article with molecular hydrogen at temperatures of about 350°C or less and providing the glass with less than 10 ppm combined OH and OD, or 10 to 60 ppm OD by weight.

    摘要翻译: 一种熔融石英玻璃制品,其具有较强的耐受暴露于激光辐射(例如在深紫外(DUV)波长处的激光诱发波前失真)以及与玻璃中的固有缺陷有关的诸如通量依赖透射的行为的损伤。 在一些实施方案中,可以通过在约400℃或更低或350℃或更低的温度下加载具有分子氢(H 2)的玻璃制品来改善对激光损伤的抵抗性。 组合的OH和氘氧化(OD)浓度可以小于10ppm重量。 在其它实施方案中,可以通过为玻璃提供10至60ppm的重量的氘氧化(OD)种类来实现改进的电阻。 在另外的其它实施例中,可以通过在大约350℃或更低的温度下将玻璃制品装载到分子氢中,并且提供少于10ppm的组合的OH和OD的玻璃或10至60 ppm OD(重量)。

    OPTISCHES BAUTEIL AUS QUARZGLAS ZUR VERWENDUNG IN DER ArF-EXCIMERLASER-LITHOGRAPHIE SOWIE VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DES BAUTEILS
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    发明申请
    OPTISCHES BAUTEIL AUS QUARZGLAS ZUR VERWENDUNG IN DER ArF-EXCIMERLASER-LITHOGRAPHIE SOWIE VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DES BAUTEILS 审中-公开
    光学部件QUARZGLAS FOR USE IN ArF准分子激光光刻法和制造方法COMPONENT

    公开(公告)号:WO2014128148A2

    公开(公告)日:2014-08-28

    申请号:PCT/EP2014/053199

    申请日:2014-02-19

    发明人: KUEHN, Bodo

    摘要: Die Erfindung geht von einem optischen Bauteil aus synthetischem Quarzglas zur Verwendung in der ArF-Excimerlaser-Lithographie mit einer Einsatzwellenlänge von 193 nm aus, mit einer Glasstruktur im Wesentlichen ohne Sauerstoffdefektstellen, einem Wasserstoffgehalt im Bereich von 0,1 x 10 16 Molekülen/cm 3 bis 1,0 x 10 18 Molekülen/cm 3 und einem Gehalt an SiH-Gruppen von weniger als 2 x 10 17 Molekülen/cm 3 und mit einem Gehalt an Hydroxylgruppen im Bereich zwischen 0,1 und 100 Gew.-ppm, wobei die Glasstruktur eine fiktive Temperatur von weniger 1070 °C aufweist. Um ausgehend von einer Messung des Kompaktierungsverhaltens bei einer Messwellenlänge von 633 nm eine verlässliche Prädiktion zum Kompaktierungsverhalten beim Einsatz mit UV-Laserstrahlung der Einsatzwellenlänge ermöglicht, wird eine Ausgestaltung des optischen Bauteil vorgeschlagen, bei der es auf Bestrahlung mit Strahlung einer Wellenlänge von 193 nm mit 5x10 9 Pulsen mit einer Pulsbreite von 125 ns und einer Energiedichte von jeweils 500µJ/cm 2 sowie einer Pulswiederholfrequenz von 2000 Hz mit einer laserinduzierten Brechzahländerung reagiert, deren Betrag bei Vermessung mit der Einsatzwellenlänge von 193 nm einen ersten Messwert M 193nm und bei Vermessung mit einer Messwellenlänge von 633 nm einen zweiten Messwert M 633nm ergibt, wobei gilt: M 193nm /M 633nm

    摘要翻译:

    本发明涉及一种用于在ArF准分子激光光刻法使用与Einsatzwellenl&AUML光学合成石英玻璃构件; 193纳米的长度,具有玻璃结构基本没有氧缺陷,在的范围内的氢含量 0.1×10 16 分子导航用途LEN /厘米 3 至1.0×10 18 分子导航用途LEN /厘米 3 < / SUP>和小于2×10 17 分子导航用途的SiH基团的含量LEN /厘米 3 和与羟基基团的0.1°范围内的内容和 100重量ppm,玻璃结构的概念温度低于1070℃ 为了从Kompaktierungsverhaltens的测量在一个Messwellenl&AUML开始; 633nm的长度的VERL&AUML; ssliche镨&AUML;用语与Einsatzwellenl BEAR长度ERM&ouml的紫外激光辐射使用时压实行为; glicht,该光学装置的结构,提出了,这是对 照射具有波长&AUML辐射;焦耳/厘米 2 ,和脉冲重复的2000频率; 193nm下用5×10 9 脉冲与125毫微秒的脉冲宽度和500微的能量密度的长度 用激光诱导的折射率&AUML赫兹反应的变化,与所述Einsatzwellenl&AUML测量时的量; 193nm的第一测量值M长度<子> 193nm的和测量与Messwellenl&AUML; 633nm的第二测量值M长度<子 > 633nm,其中:M193nm / M633nm

    光触媒用シリカガラス及び光触媒用シリカガラスの製造方法
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    发明申请
    光触媒用シリカガラス及び光触媒用シリカガラスの製造方法 审中-公开
    用于光催化剂的二氧化硅玻璃和用于制备光致抗蚀剂的二氧化硅玻璃的方法

    公开(公告)号:WO2009022456A1

    公开(公告)日:2009-02-19

    申请号:PCT/JP2008/002145

    申请日:2008-08-07

    摘要:  本発明は、シリカガラスにおいて、少なくとも、前記シリカガラスは、OH基含有量が1~500wt.ppmであり、酸素欠陥構造が実質的に存在しないものであり、金属不純物濃度が、表層部から内部にわたって、Li、Na、K、Mg、Ca、Cr、Fe、Ni、Cu、Znについてそれぞれ200wt.ppb以下であり、光触媒反応ユニットに使用されるものである光触媒用シリカガラス、及び、このような光触媒用シリカガラスを製造するための光触媒用シリカガラスの製造方法である。これにより光触媒反応ユニットに使用されるシリカガラスであって、長時間紫外線を照射しても性能が低下しにくい、耐紫外線性等に優れた光触媒用シリカガラス、及びその製造方法が提供される。

    摘要翻译: 一种光催化剂用石英玻璃,用于光催化反应单元,羟基含量为1〜500重量ppm,基本上不含缺氧结构,其中金属杂质,Li,Na,K,Mg,Ca ,Cr,Fe,Ni,Cu和Zn在表面到芯的区域分别为200wt .ppb或更低; 以及生产石英玻璃的方法。 本发明提供一种用于光催化反应单元的光催化剂用石英玻璃,其耐紫外线性优异,即使长时间照射紫外线也不会导致性能劣化, 石英玻璃。

    VACUUM ULTRAVIOLET TRANSMITTING SILICON OXYFLUORIDE LITHOGRAPHY GLASS
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    发明申请
    VACUUM ULTRAVIOLET TRANSMITTING SILICON OXYFLUORIDE LITHOGRAPHY GLASS 审中-公开
    真空紫外线透射硅氧化物光刻玻璃

    公开(公告)号:WO00048046A1

    公开(公告)日:2000-08-17

    申请号:PCT/US2000/003170

    申请日:2000-02-07

    摘要: High purity silicon oxyfluoride glass suitable for use as photomask substrates for photolithography applications in the VUV wavelength region below 190 nm is disclosed. The inventive silicon oxyfluoride glass is transmissive at wavelengths around 157 nm, making it particularly useful as a photomask substrate at the 157 nm wavelength region. The inventive photomask substrate is a "dry", silicon oxyfluoride glass which exhibits very high transmittance in the vacuum ultraviolet (VUV) wavelength region while maintaining the excellent thermal and physical properties generally associated with high purity fused silica. In addition to containing fluorine and having little or no OH content, the inventive silicon oxyfluoride glass suitable for use as a photomask substrate at 157 nm is also characterized by having less than 1x19 molecules/cm of molecular hydrogen and low chlorine levels.

    摘要翻译: 公开了适用于在190nm以下的VUV波长区域中用于光刻应用的光掩模基板的高纯度氟氧化硅玻璃。 本发明的氟氧化硅玻璃在157nm波长下是透射的,使其特别适用于157nm波长区域的光掩模衬底。 本发明的光掩模衬底是“真空”的氟氧化硅玻璃,其在真空紫外(VUV)波长区域中显示出非常高的透射率,同时保持通常与高纯度熔融二氧化硅相关的优异的热和物理性能。 除了含氟并且几乎没有或没有OH含量之外,本发明的适合用作157nm的光掩模衬底的氟氧化硅玻璃的特征还在于具有小于分子氢的1×19 17分子/ cm 3和低 氯水平。