DEFORMABLE PAPER ORIGAMI OPTOELECTRONIC DEVICES
    1.
    发明申请
    DEFORMABLE PAPER ORIGAMI OPTOELECTRONIC DEVICES 审中-公开
    可变形纸ORIGAMI光电器件

    公开(公告)号:WO2017009777A1

    公开(公告)日:2017-01-19

    申请号:PCT/IB2016/054159

    申请日:2016-07-12

    Abstract: Deformable optoelectronic devices are provided, including photodetectors, photodiodes, and photovoltaic cells. The devices can be made on a variety of paper substrates, and can include a plurality of fold segments in the paper substrate creating a deformable pattern. Thin electrode layers and semiconductor nanowire layers can be attached to the substrate, creating the optoelectronic device. The devices can be highly deformable, e.g. capable of undergoing strains of 500% or more, bending angles of 25° or more, and/or twist angles of 270° or more. Methods of making the deformable optoelectronic devices and methods of using, e.g. as a photodetector, are also provided.

    Abstract translation: 提供了可变形的光电子器件,包括光电检测器,光电二极管和光伏电池。 这些装置可以在各种纸基材上制成,并且可以在纸基材中包括多个折叠部分,从而产生可变形图案。 可以将薄电极层和半导体纳米线层附着到衬底上,从而产生光电器件。 这些装置可以是高度可变形的,例如。 能够承受500%以上的弯曲角度,25°以上的弯曲角度和270°以上的扭曲角度的应变。 制造可变形光电子器件的方法和使用方法,例如, 作为光电检测器也被提供。

    JOSEPHSON JUNCTION READOUT FOR GRAPHENE-BASED SINGLE PHOTON DETECTOR
    3.
    发明申请
    JOSEPHSON JUNCTION READOUT FOR GRAPHENE-BASED SINGLE PHOTON DETECTOR 审中-公开
    用于基于石墨的单光子探测器的JOSEPHSON JUNCTION READOUT

    公开(公告)号:WO2016204855A1

    公开(公告)日:2016-12-22

    申请号:PCT/US2016/027946

    申请日:2016-04-15

    Abstract: A detector for detecting single photons of infrared radiation. A waveguide configured to transmit infrared radiation is arranged to be adjacent a graphene sheet and configured so that evanescent waves from the waveguide overlap the graphene sheet. An infrared photon absorbed by the graphene sheet from the evanescent waves heats the graphene sheet. The graphene sheet is coupled to the weak link of a Josephson junction, and a constant bias current is driven through the Josephson junction, so that an increase in the temperature of the graphene sheet results in a decrease in the critical current of the Josephson junction and a voltage pulse in the voltage across the Josephson junction. The voltage pulse is detected by the pulse detector.

    Abstract translation: 用于检测单个光子的红外辐射的检测器。 布置成透射红外辐射的波导被布置成与石墨烯片相邻并且被配置为使得来自波导的消逝波与石墨烯片重叠。 石墨烯片从ev逝波吸收的红外光子加热石墨烯片。 石墨烯片被耦合到约瑟夫逊结的弱连接处,并且通过约瑟夫逊结驱动恒定的偏置电流,使得石墨烯片的温度升高导致约瑟夫逊结的临界电流的降低,并且 在约瑟夫逊结的电压中的电压脉冲。 电压脉冲由脉冲检测器检测。

    SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
    5.
    发明申请
    SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME 审中-公开
    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:WO2015098073A1

    公开(公告)日:2015-07-02

    申请号:PCT/JP2014/006359

    申请日:2014-12-22

    Abstract: A semiconductor device includes a silicon substrate and a detection element and p-type and n-type MOS transistors, which are arranged on the silicon substrate, wherein the detection element includes a semiconductor layer, electrodes, and a Schottkey barrier disposed therebetween, the semiconductor layer is arranged just above a layer having the same composition and height as those of an impurity diffusion layer in the source or drain of the p-type or n-type MOS transistor, a region, in the silicon substrate, having the same composition and height as those of a channel region, in the silicon substrate, just below a gate oxide film of the p-type MOS transistor or the n-type MOS transistor, or a region, in the silicon substrate, having the same composition and height as those of a region just below a field oxide film disposed between the p-type and the n-type MOS transistor.

    Abstract translation: 半导体器件包括硅衬底和布置在硅衬底上的检测元件和p型和n型MOS晶体管,其中检测元件包括半导体层,电极和设置在其间的肖特基势垒,半导体 层位于具有与p型或n型MOS晶体管的源极或漏极中的杂质扩散层相同的组成和高度的层的正上方,硅衬底中具有相同组成的区域,以及 在硅衬底中刚好在p型MOS晶体管或n型MOS晶体管的栅极氧化膜的下方或硅衬底中的具有相同组成和高度的区域中的沟道区的高度, 位于p型和n型MOS晶体管之间的场氧化膜的正下方的区域。

    SCHALTUNGSANORDNUNG ZUM EINSTELLEN DES SPANNUNGSPOTENTIALS AM HF-AUSGANG EINES PIN- PHOTOEMPFÄNGERS UND PHOTOEMPFÄNGERANORDNUNG
    6.
    发明申请
    SCHALTUNGSANORDNUNG ZUM EINSTELLEN DES SPANNUNGSPOTENTIALS AM HF-AUSGANG EINES PIN- PHOTOEMPFÄNGERS UND PHOTOEMPFÄNGERANORDNUNG 审中-公开
    电路是否设置的PIN光电接收器和光接收器装置的电压电势AM射频输出

    公开(公告)号:WO2011063991A1

    公开(公告)日:2011-06-03

    申请号:PCT/EP2010/007281

    申请日:2010-11-24

    Abstract: Es wird eine Schaltungsanordnung zum Einstellen eines Ausgangspotentials am HF-Ausgang eines pin-Photoempfängers, der sich in Gleichspannungskopplung mit einem nachfolgenden Elektronikschaltkreis befindet, auf ein bestimmtes Potential vorgeschlagen. Dabei ist an den pin- Photoempfänger eine über einen ohmschen Abschlusswiderstand das Ausgangspotential beeinflussende Versorgungs Spannung anlegbar. Die Schaltungsanordnung umfasst eine Regelschleife zum Erzeugen und Regeln der Spannung der Spannungsversorgung, die einen Ausgangsanschluss aufweist, wobei die Regel -schleife einen ohmschen Nachbildungswiderstand, der an den ohmschen Abschlusswiderstand angeglichen ist, und Mittel zur Messung einer Spannungsdifferenz über den Nachbildungswiders tand und zum Reproduzieren der Spannungsdifferenz als Spannungspotential an den Ausgangsanschluss der Regelschleife aufweist. Weiterhin betrifft die Erfindung eine Photoempfängeranordnung mit einem pin-Photoempfänger mit mindestens einer Photodiode und der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung zum Einstellen des Ausgangspotentials am HF-Ausgang des Photoempfängers.

    Abstract translation: 提出了一种用于在一个销光接收器的RF输出,这是在直流耦合至下游电子电路至预定的电势设置的输出电位的电路布置。 在这里,通过终端电阻器的电阻被连接到光电检测器销,输出电位影响电源电压可以施加。 该电路装置包括用于产生和控制具有输出端的电压电源的电压,一个控制回路,其中,所述控制回路的欧姆复制品电阻器,其与所述电阻终止对准,并且t和装置,用于测量跨过所述复制RESIS的电压差和再现 包括如在控制回路的输出端子处的电压电势差。 此外,本发明涉及一种光接收装置,其具有销相片接收器的至少一个光电二极管和根据本发明的用于在光接收器的RF输出调整输出电位的电路布置的。

    자외선 센서 및 이를 제조하는 방법
    7.
    发明申请
    자외선 센서 및 이를 제조하는 방법 审中-公开
    超声波传感器及其制造方法

    公开(公告)号:WO2017014328A1

    公开(公告)日:2017-01-26

    申请号:PCT/KR2015/007464

    申请日:2015-07-17

    Abstract: 자외선 센서는 압전 물질; 압전 물질 상에 배치되고 자외선을 감지하는 감지막; 압전 물질 상에서 감지막의 일단에 배치되고 전기적 신호를 기초로 생성된 탄성파를 감지막에 제공하는 탄성파 입력부; 및 압전 물질 상에서 감지막의 다른 일단에 배치되고 제공된 탄성파를 기초로 생성된 전기적 신호의 주파수의 변화를 감지하는 탄성파 출력부를 포함한다. 따라서, 자외선 센서는 파티클 자체의 특성상 표면적이 넓어 더 많은 자외선에 반응할 수 있으므로 센서의 감도를 향상시킬 수 있고, 산화아연(ZnO) 나노파티클을 사용하여 탄성파의 주파수 변화를 측정하기 때문에 가격 경쟁력을 확보할 수 있다.

    Abstract translation: 公开了一种紫外线传感器,包括:压电材料; 检测膜,布置在压电材料上,用于检测紫外线; 弹性波输入单元,布置在压电材料上,位于检测膜的一端,用于向检测膜提供基于电信号产生的弹性波; 以及布置在压电材料上的弹性波输出单元,位于检测膜的另一端,用于检测基于所提供的弹性波产生的电信号的频率变化。 因此,由于由于颗粒本身的特性,紫外线传感器能够响应于更多数量的紫外线,因此能够提高传感器的灵敏度,并且随着测量弹性波的频率变化 通过氧化锌(ZnO)纳米粒子,可以确保成本竞争力。

    UTILIZING A QUENCH TIME TO DEIONIZE AN ULTRAVIOLET (UV) SENSOR TUBE
    8.
    发明申请
    UTILIZING A QUENCH TIME TO DEIONIZE AN ULTRAVIOLET (UV) SENSOR TUBE 审中-公开
    用紫外线(UV)传感器管使用定时

    公开(公告)号:WO2016182732A1

    公开(公告)日:2016-11-17

    申请号:PCT/US2016/029420

    申请日:2016-04-27

    Abstract: Utilizing a quench time to deionize an ultraviolet (UV) sensor tube are described herein. One method includes monitoring firing events within a UV sensor tube, where a particular firing event initiates arming the UV sensor tube, initiating a quench time to deionize the UV sensor tube, where the quench time includes, disarming the UV sensor tube to prevent a firing event.

    Abstract translation: 本文描述了利用淬灭时间来去离子紫外(UV)传感器管。 一种方法包括监测UV传感器管内的点火事件,其中特定的点火事件启动布置UV传感器管,启动淬火时间以使UV传感器管去离子,其中骤冷时间包括撤防UV传感器管以防止发射 事件。

    SUB-BAND INFRA-RED IRRADIATION FOR DETECTOR CRYSTALS
    9.
    发明申请
    SUB-BAND INFRA-RED IRRADIATION FOR DETECTOR CRYSTALS 审中-公开
    用于检测器晶体的子带红外辐照

    公开(公告)号:WO2014072939A1

    公开(公告)日:2014-05-15

    申请号:PCT/IB2013/059990

    申请日:2013-11-08

    Abstract: The invention relates to radiation detection with a directly converting semiconductor layer for converting an incident radiation into electrical signals. Sub-band infra-red (IR) irradiation considerably reduces polarization in the directly converting semiconductor material when irradiated, so that counting is possible at higher tube currents without any baseline shift. An IR irradiation device is integrated into the readout circuit to which the crystal is flip-chip bonded in order to enable 4-side-buttable crystals.

    Abstract translation: 本发明涉及具有直接转换半导体层的放射线检测,用于将入射辐射转换为电信号。 子带红外(IR)照射显着降低了直接转换半导体材料的照射时的偏振,从而可以在更高的管电流下进行计数,而无任何基线偏移。 将IR照射装置集成到晶体被倒装芯片接合的读出电路中,以便能够实现4面可晶的晶体。

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