非接触测试方法和装置

    公开(公告)号:CN1312911A

    公开(公告)日:2001-09-12

    申请号:CN99809751.9

    申请日:1999-06-16

    IPC分类号: G01R31/28 G01R31/315

    摘要: 本发明公开了一种对具有第一和第二侧面并且包括许多导体的电路(12)进行电测试的装置,该装置包括至少一个激励电极(14,16,20),其位置邻近电路的至少一个第一和第二侧面,并且在操作中以非接触方式对其施加一个激励电磁场,至少一个检测电极(25),其位置邻近电路的至少一个第一和第二侧面,并且在操作中以非接触方式检测由于对其各个部位施加的激励电磁场所产生的电磁场,至少一个激励电极和至少一个检测电极当中的至少一个包括至少两个电极,而至少其中之一的位置各自邻近电路的至少一个第一和第二侧面。本发明还公开了一种对具有第一和第二侧面并且包括许多导体的电路进行电测试的方法。

    调校探针位置的测试板及测试方法

    公开(公告)号:CN108663648A

    公开(公告)日:2018-10-16

    申请号:CN201710188413.0

    申请日:2017-03-27

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 一种调校探针位置的测试板,包括至少一用于测试探针的测试点,该测试点包括多个具有导电功能的测试区,每一测试区与不同阻值的电阻相连接,该多个测试区包括第一测试区及多个第二测试区,该多个第二测试区围绕该第一测试区设置而包围该第一测试区,该测试点还包括第一绝缘区及多个第二绝缘区,该第一测试区通过该第一绝缘区与该多个第二测试区相间隔开,该多个第二测试区中每两个第二测试区通过一第二绝缘区相间隔开。本发明还涉及一种调校探针位置的测试方法。本发明实现简单,能够有效提高探针调校的效率。

    一种智能锁测试夹具
    40.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108318801A

    公开(公告)日:2018-07-24

    申请号:CN201810040265.2

    申请日:2018-01-16

    发明人: 陈艳鸣 陈雷

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/04

    摘要: 一种智能锁测试夹具,工作平台由顶盖和盒体组成,盒体为顶面开口的长方形盒体,盒体内设置有控制电路、6V蓄电池,顶盖的顶部从左向右依次设置有BP检测工位、SUB检测工位、MAIN检测工位、指纹检测工位、KB检测工位;所有工位的上压板、下压板分别与盒体内的控制电路及6V蓄电池连接,上压板、下压板之间设置有需要测试的电路板。本发明结构设计合理,使用一块6V蓄电池作为电源,对需要测试的电路板进行供电和检测,从而判断被测试电路板的功能是否正常;能快速的判定被测电路板功能及其他指标是否达到设计要求;能对需要测试的几块电路板同时进行测试,节省了测试时间,推广应用具有良好的经济和社会效益。