半导体产品的制造工艺
    63.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1104036C

    公开(公告)日:2003-03-26

    申请号:CN97126486.4

    申请日:1997-11-14

    CPC classification number: H01L21/304 H01L21/76259

    Abstract: 一种制造半导体产品的方法,包括以下步骤:制造包括硅衬底的第一衬底,其上具有多孔硅层和设置于所述多孔硅层上的无孔半导体层;键合所述第一衬底和第二衬底,形成具有所述无孔半导体层设置于其中的多层结构;使所述多层结构的所述第一和第二衬底沿所述多孔硅层彼此分离;及去掉残留于所述分离的第二衬底上的多孔硅层,其特征在于,所述分离步骤包括加热所述多层结构。

    衬底及其制造方法
    67.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1272684A

    公开(公告)日:2000-11-08

    申请号:CN00105306.X

    申请日:2000-02-02

    CPC classification number: H01L21/76259 H01L21/76251

    Abstract: 将具有多孔层的第一衬底键合到第二衬底上制备键合衬底叠层,在多孔层处将键合衬底叠层分成两个衬底,防止了分离步骤中存在的缺陷。该第一衬底内部具有多孔层(12),在多孔层上具有单晶硅层,在单晶硅层上具有SiO2层。将该衬底的外边缘部分氧化使单晶硅层的外边缘朝着内部进行再处理,其中单晶硅层(13a)的外边缘位于键合区域的外边缘之内。在多孔层(12)处将键合衬底叠层分成两个衬底。

    样品加工系统
    69.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1258092A

    公开(公告)日:2000-06-28

    申请号:CN99123434.0

    申请日:1999-11-05

    CPC classification number: H01L21/67196 Y10S134/902

    Abstract: 本发明是为了提供适合于制造例如SOI衬底的加工系统。加工系统包括,其上按大体上等角度间隔安装有用于保持键合衬底叠片的保持机械装置的转盘、用于使转盘在枢轴上转动预定角度以使由上述的保持机械装置保持的键合衬底叠片或分离的衬底移动到操作位置的驱动机械装置以及用于处理在操作位置上的键合衬底叠片或分离的衬底的定中心装置、分离装置和清洗/干燥装置。

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