用于对表面经涂覆的材料进行检查的设备及相应的方法

    公开(公告)号:CN104792419B

    公开(公告)日:2017-09-19

    申请号:CN201510024038.7

    申请日:2015-01-16

    Inventor: R·库比亚克

    Abstract: 本发明涉及一种用于对表面经涂覆的材料(2)进行检查的设备,其具有布置在表面上方的光源(18)和第一摄像机以测定所获取的光的色彩值,第一摄像机相对于光源倾斜地布置在一位于表面上的线上方并具有第一张角(21),从而能独立地在第一视角下获取由所述线的第一点反射的光源(18)光并在第二视角下获取由所述线的与第一点间隔开的第二点反射的光源(18)光,所述至少一个第一摄像机测定由第一点反射的光的第一色彩值和由第二点反射的光的第二色彩值,设有与第一摄像机相连的分析装置,该分析装置将第一色彩值和第二色彩值或二者之差与确定的、预定的色彩理论值或确定的、预定的色彩理论值范围进行比较。本发明还涉及相应的方法。

    基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微方法及装置

    公开(公告)号:CN107092086A

    公开(公告)日:2017-08-25

    申请号:CN201710103657.4

    申请日:2017-02-24

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开一种基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微方法,包括:将准直后的照明光束转换为线偏光;在线偏光上加载第一方向的0‑π相位,并调整线偏光的偏振方向;利用偏振方向调整后的线偏光对样品进行扫描,形成激发样品产生荧光的第一激光扫描饱和结构光照明图案,并收集得到第一荧光信号;在线偏光上加载第二方向的0‑π相位,并适应调整线偏光的偏振方向;利用偏振方向调整后的线偏光对样品进行扫描,形成激发样品产生荧光的第二激光扫描饱和结构光照明图案,并收集得到第二荧光信号;对第一荧光信号和第二荧光信号进行处理,得到横向分辨率提升的超分辨图像。本发明还公开一种基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微装置。

    一种多频率特征结构光阵列分频处理系统及方法

    公开(公告)号:CN107014810A

    公开(公告)日:2017-08-04

    申请号:CN201710280881.0

    申请日:2017-04-26

    Inventor: 任思远

    CPC classification number: G01N21/84 G01B11/00 G01N2201/061

    Abstract: 本发明涉及一种多频率特征结构光阵列分频处理系统及方法,其系统包括多频率特征结构光阵列发射模块、影像分频采集模块和影像识别处理模块,所述多频率特征结构光阵列发射模块,其用于以阵列的形式发射多种不同频率特征结构光;所述影像分频采集模块,其用于分频获取被测物体在多种不同频率特征结构光的照射下的分频影像;所述影像识别处理模块,其用于对分频影像进行识别处理,并输出识别处理结果。本发明可以一次性完成不同频率特征结构光下的视觉检测,检测精度高,且时间、空间和材料上占用资源小。

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