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公开(公告)号:CN105745526B
公开(公告)日:2018-11-30
申请号:CN201480063283.2
申请日:2014-10-27
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01N21/55 , G01N21/274 , G01N21/7703 , G01N2021/7783 , G01N2201/061 , G01N2201/06113 , G01N2201/062
Abstract: 本发明可精度良好地测定对象物的浓度。光学式传感器(1)具备:射出测定光的检测用光源(10);检测与对象检测部(20)的光学特性的变化相伴而变化的测定光的光强度的光检测部(40);和射出参考光的基准用光源(11)。参考光的光强度不受上述影响地被光检测部(40)检测,上述2个光源配置在相同环境下。
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公开(公告)号:CN108700506A
公开(公告)日:2018-10-23
申请号:CN201780011285.0
申请日:2017-01-23
Applicant: 埃克森美孚研究工程公司
Inventor: 克里斯托弗·范德诺伊特 , 迈克尔·L·布卢门菲尔德 , 埃里克·B·森策 , 塞缪尔·C·巴安布里德
CPC classification number: G01N21/85 , G01N21/25 , G01N21/64 , G01N21/643 , G01N33/22 , G01N33/28 , G01N2021/6439 , G01N2201/061 , Y10T436/13 , Y10T436/21
Abstract: 提供用于验证工作流体的系统和方法。系统和方法包括将包含UV反应性化学标记物的工作流体的至少一部分暴露于波长范围在约10‑400nm内的光,从而使所述化学标记物产生信号。可以经由传感器系统检测所述信号,并将所述信号和与真实工作流体相关联的参考信号进行比较。可以产生指示所述工作流体是否是所述真实工作流体的输出。
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公开(公告)号:CN105518440B
公开(公告)日:2018-06-26
申请号:CN201480046819.X
申请日:2014-08-25
Applicant: 株式会社高永科技
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G06T11/206 , G01N21/95684 , G01N2201/061 , G01N2201/062 , G01N2201/12 , G05B19/41875 , G05B2219/34417 , G05B2219/35512 , G05B2219/37216 , G05B2219/37449 , G05B2219/45035 , G06T11/60 , G06T2200/24 , Y02P90/22
Abstract: 本发明涉及能够缩短检查时间、提高使用者便利性的基板检查装置。根据本发明一特征的基板检查装置包括:测量单元,其针对包括多个检查区域的检查基板,根据确定的测量顺序,测量多个检查区域,从而获得各检查区域的影像数据;控制部,其包括多个数据处理部及优化模块,所述多个数据处理部执行从测量单元传送的各检查区域的多个影像数据的数据处理,所述优化模块设置多个检查区域的优化的测量顺序及多个数据处理部的优化的数据处理顺序;及用户界面,其显示与通过优化模块而优化的测量顺序及数据处理顺序相关的优化相关信息。
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公开(公告)号:CN107917917A
公开(公告)日:2018-04-17
申请号:CN201810014990.2
申请日:2018-01-08
Applicant: 苏州中汽检测技术服务有限公司
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8803 , G01N2021/8809 , G01N2201/061 , G01N2201/062
Abstract: 本发明公开了一种用于疲劳测试样品的质量检测仪,所述质量检测仪包括底座、位移机构、设置在所述底座上的转盘及设置在所述位移机构上的检测镜头;所述转盘上设有用于放置完成疲劳测试的样品的定位槽,所述转盘用于带动所述样品绕转盘中心竖轴转动,所述底座和/或转盘上设有刻度;在所述位移机构的带动下,所述检测镜头向下对准所述定位槽中的样品。本发明通过转盘对待检测的样品进行定位并带动其转动,使其完成360°全方位的裂纹检测,利用刻度对裂纹进行方位量化,提高检测精准度,减少漏检测现象,操作便捷,提高质量检测效率。
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公开(公告)号:CN105706002B
公开(公告)日:2018-03-09
申请号:CN201480058806.4
申请日:2014-12-18
Applicant: 应用材料公司
Inventor: 马耶德·A·福阿德 , 克里斯多弗·丹尼斯·本彻 , 克里斯多弗·G·塔尔博特 , 约翰·克里斯多弗·莫兰
IPC: G03F7/20 , H01L21/027
CPC classification number: G01N21/95 , G01N21/956 , G01N2021/95676 , G01N2201/061
Abstract: 一种远紫外线(EUV)基板检查系统及其制造方法,包含:EUV来源,该EUV来源引导EUV照射穿过光圈;光检测器,该光检测器检测带有由基板反射离开的减低的偏离轴的射线的掩模照射;及计算机装置,该计算机装置处理由该光检测器检测到的图像数据。
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公开(公告)号:CN107407648A
公开(公告)日:2017-11-28
申请号:CN201680013046.4
申请日:2016-03-03
Applicant: 科磊股份有限公司
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N21/9501 , G01N23/20008 , G01N2021/8809 , G01N2201/061 , G01N2201/0683 , G01R31/26 , G01R31/28
Abstract: 本发明提供用于使用自适应滋扰过滤器产生针对样本的检验结果的方法及系统。一种方法包含选择在样本的检验期间检测到的事件的部分,所述检测到的事件的部分具有用于所述事件的至少一个特征的值,所述值比所述事件的另一部分的至少一个特征的值更接近所述滋扰过滤器的至少一个参数的至少一个值。所述方法还包含获取用于事件的样品的输出获取子系统的输出、基于所述获取的输出对所述样品中的所述事件分类且确定是否应基于所述分类的结果修改所述滋扰过滤器的一或多个参数。接着,所述滋扰过滤器或所述经修改滋扰过滤器可应用于所述样本的所述检验的结果以针对所述样本产生最终检验结果。
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公开(公告)号:CN104792419B
公开(公告)日:2017-09-19
申请号:CN201510024038.7
申请日:2015-01-16
Applicant: 伊斯拉表面视觉有限公司
Inventor: R·库比亚克
CPC classification number: G01N21/251 , G01J3/50 , G01N21/8422 , G01N21/896 , G01N2021/8427 , G01N2201/061
Abstract: 本发明涉及一种用于对表面经涂覆的材料(2)进行检查的设备,其具有布置在表面上方的光源(18)和第一摄像机以测定所获取的光的色彩值,第一摄像机相对于光源倾斜地布置在一位于表面上的线上方并具有第一张角(21),从而能独立地在第一视角下获取由所述线的第一点反射的光源(18)光并在第二视角下获取由所述线的与第一点间隔开的第二点反射的光源(18)光,所述至少一个第一摄像机测定由第一点反射的光的第一色彩值和由第二点反射的光的第二色彩值,设有与第一摄像机相连的分析装置,该分析装置将第一色彩值和第二色彩值或二者之差与确定的、预定的色彩理论值或确定的、预定的色彩理论值范围进行比较。本发明还涉及相应的方法。
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公开(公告)号:CN107092086A
公开(公告)日:2017-08-25
申请号:CN201710103657.4
申请日:2017-02-24
Applicant: 浙江大学
CPC classification number: G02B21/0048 , G01N21/6458 , G01N2021/6463 , G01N2201/061 , G01N2201/1053 , G02B21/0032 , G02B21/0068 , G02B21/0076 , G02B21/0092
Abstract: 本发明公开一种基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微方法,包括:将准直后的照明光束转换为线偏光;在线偏光上加载第一方向的0‑π相位,并调整线偏光的偏振方向;利用偏振方向调整后的线偏光对样品进行扫描,形成激发样品产生荧光的第一激光扫描饱和结构光照明图案,并收集得到第一荧光信号;在线偏光上加载第二方向的0‑π相位,并适应调整线偏光的偏振方向;利用偏振方向调整后的线偏光对样品进行扫描,形成激发样品产生荧光的第二激光扫描饱和结构光照明图案,并收集得到第二荧光信号;对第一荧光信号和第二荧光信号进行处理,得到横向分辨率提升的超分辨图像。本发明还公开一种基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微装置。
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公开(公告)号:CN107014810A
公开(公告)日:2017-08-04
申请号:CN201710280881.0
申请日:2017-04-26
Applicant: 苏州迪美格智能科技有限公司
Inventor: 任思远
CPC classification number: G01N21/84 , G01B11/00 , G01N2201/061
Abstract: 本发明涉及一种多频率特征结构光阵列分频处理系统及方法,其系统包括多频率特征结构光阵列发射模块、影像分频采集模块和影像识别处理模块,所述多频率特征结构光阵列发射模块,其用于以阵列的形式发射多种不同频率特征结构光;所述影像分频采集模块,其用于分频获取被测物体在多种不同频率特征结构光的照射下的分频影像;所述影像识别处理模块,其用于对分频影像进行识别处理,并输出识别处理结果。本发明可以一次性完成不同频率特征结构光下的视觉检测,检测精度高,且时间、空间和材料上占用资源小。
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公开(公告)号:CN103884698B
公开(公告)日:2017-04-12
申请号:CN201410085361.0
申请日:2005-06-07
Applicant: 先锋生物科技股份有限公司
CPC classification number: C12Q1/686 , B01J2219/00576 , B01J2219/00704 , B01L3/5027 , B01L7/52 , G01N21/64 , G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N21/6486 , G01N21/75 , G01N21/8483 , G01N27/44721 , G01N2021/6421 , G01N2201/061 , G02B21/16 , G02B21/36
Abstract: 本发明提供用于微流体器件的光学透镜系统和方法。一种给来自微流体器件(205)的一种或多种选定的荧光指示成像的装置。该装置包括成像通路,该成像通路耦合到至少一个微流体器件(205)中的至少一个反应室。该成像通路可传输从至少一个微流体器件(205)的至少一个反应室中的一个或多个样品那儿获得的一个或多个荧光发射信号。该反应室具有一定的反应室大小,该反应室大小的特征在于其实际空间维度与成像通路正交。
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