等离子体装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100414673C

    公开(公告)日:2008-08-27

    申请号:CN200510129428.7

    申请日:2005-12-08

    CPC分类号: H01J37/321 H01L21/67069

    摘要: 本发明公开了一种等离子体装置。所述等离子体装置包括:反应室,具有反应空间以容纳被处理的基板;线圈,位于所述反应空间的外部上;电源,将交流频率电源施加到所述线圈上;以及导电板,位于所述线圈和所述反应空间之间且从施加到所述线圈上的交流频率电源产生感应电流。因此,本发明提供了等离子体装置,其在反应室的内部气体中诱发均匀的电场。

    薄膜晶体管阵列面板及其制造方法

    公开(公告)号:CN100590499C

    公开(公告)日:2010-02-17

    申请号:CN200480033271.1

    申请日:2004-09-16

    IPC分类号: G02F1/136

    摘要: 本发明涉及一种薄膜晶体管阵列面板、液晶显示器及其制造方法。用于LCD的薄膜晶体管阵列面板用于以独立方式驱动各个像素的电路板。本发明提供了像素电极和把栅极线和数据线的扩展部分连接到外部电路的接触辅助,它们具有包括IZO层和ITO层的双层结构。ITO层设置在IZO层上。在本发明中,像素电极形成为具有IZO层和ITO层的双层以避免在总体测试过程中布线被ITO蚀刻剂破坏并防止探针上的异物堆积。在本发明中,可以仅接触辅助形成为具有IZO层和ITO层的双层,以防止在总体测试过程中探针上的异物堆积。由于减小了ITO的消耗,降低了制造成本。

    半导体制造装置
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100454495C

    公开(公告)日:2009-01-21

    申请号:CN200410048125.8

    申请日:2004-06-16

    摘要: 本发明涉及一种干蚀刻装置,包括箱体,用于形成等离子进行干蚀刻工序;下部电极,包含排出箱体内部反应气体的排气口,并且设置基片;上部电极,与下部电极隔开面对。而且,这种干蚀刻装置包括清洗部,清洗部与电源进行电连接,包括:清洗时为了形成包含清洗用气体的等离子的清洗用电极;可引导清洗用电极水平移动的电极引导部件及支撑清洗用电极并引导清洗用电极垂直移动的电极支撑体。向清洗用电极施加电源形成等离子,并通过它除去箱体内壁残留的污染物。

    薄膜晶体管、其制造方法、显示设备及其制造方法

    公开(公告)号:CN1790750B

    公开(公告)日:2012-05-09

    申请号:CN200510124866.4

    申请日:2005-11-23

    摘要: 公开了一种薄膜晶体管及其制造方法、以及一种显示设备及其制造方法,该薄膜晶体管包括在基板上的栅电极、栅极绝缘层、沟道图案、源电极和漏电极。沟道图案包括:形成在栅电极上并覆盖栅电极的半导体图案;形成在半导体图案上并彼此隔开的第一和第二导电粘合图案。源电极包括顺序形成在第一导电粘合图案上的第一阻挡图案、源极图案和第一覆盖图案。漏电极包括顺序形成在第二导电粘合图案上的第二阻挡图案、漏极图案和第二覆盖图案。第一覆盖图案、第二覆盖图案、源极图案和漏极图案的端部包括倾斜的截面轮廓。第一和第二阻挡图案包括从钛、钽、钨和铬所构成的组中选取的金属,第一和第二覆盖图案包括从钼和钼合金所构成的组中选取的金属。