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公开(公告)号：CN114690022A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202210157599.4
申请日：2022-02-21
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种射频探针通用自动测试装置，属于微波TR组件自动测试技术领域，包括固定基板、直驱模组、传送机构、测试夹具、升降机构和探针测试机构。直驱模组安装于固定基板上方，用于带动安装于其上的传送机构进行直线运动；传送机构可带动测试夹具进行直线运输，待测试的微波TR组件和转换用PCB测试板则置于测试夹具内；固定基板上还安装有升降机构，用于驱动探针测试机构进行垂直升降运动；探针测试机构安装有多组射频探针与信号探针。本发明所提到的射频探针通用自动测试装置，可实现对各种微波TR组件的测试，且替代人工实现了自动测试，具有较强的通用性和高效性。
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公开(公告)号：CN112710912A
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN202011363518.3
申请日：2020-11-27
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种滤波器测试装置，属于测试设备技术领域，包括安装底座、设置在安装底座上用于夹紧固定待测产品的产品固定组件、以及两个滑动设置在安装底座上用于安装固定测试接头的进给组件，两进给组件分别位于产品固定组件的两侧，安装底座上还设置有用于驱动进给组件滑动的驱动机构，驱动机构驱动进给组件沿靠近或远离产品固定组件的方向滑动。本发明提供的滤波器测试装置，驱动机构驱动进给组件运动，使安装在进给组件上的测试接头向产品端子方向靠近，实现测试接头与端子的快速精确对接，提高了滤波器的检测效率，并且有效的避免了滤波器再检测过程中的损坏。
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公开(公告)号：CN110808237A
公开(公告)日：2020-02-18
申请号：CN201910983911.3
申请日：2019-10-16
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC分类号： H01L23/498 , H01L23/552 , H01L21/50
摘要： 本发明提供了一种小型化抗干扰电路封装结构，属于数字电路设计领域，包括上基板，上基板顶面设有顶层元器件，底面上设有底层元器件；下基板，设于上基板底部，中部留空，留空与上基板的底面形成容纳腔；屏蔽层，设于上基板内部。该小型化抗干扰电路封装结构能有效解决数字电路空间串扰的问题，体积小，占用空间少，有利于电路封装结构的小型化设计和应用。本发明还提供一种小型化抗干扰电路封装结构制造方法，包括步骤：制作上基板并在上基板内植入屏蔽层；制作下基板，在下基板中部留空；使上基板和下基板固接并导电连接；安装顶层元器件和底层元器件。该制造方法工艺兼容性强，有利于降低电路封装结构的制造成本。
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公开(公告)号：CN105699826A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201610212597.5
申请日：2016-04-06
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明公开了一种微波器件自动测试系统及方法，涉及电性能的测试装置技术领域。所述系统包括PC机、开关矩阵、测试仪器和测试夹具，测试夹具上放置若干个微波待测件，微波待测件的射频输入/输出接口分别与测试夹具上的射频输入/输出接口连接，PC机的测试夹具控制信号输出端与测试夹具上的控制输入接口连接，测试夹具上的射频输入/输出接口分别经过开关矩阵内的可控开关与测试仪器的射频输入/输出接口连接，测试仪器的数据输出接口通过USB转GPIB线与PC机的USB接口连接，PC机的开关控制输出端与开关矩阵的控制输入端连接。通过所述系统和方法的多线程进行数据采集和处理，可对微波待测件实现流水测试，大大提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN111229658B
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202010058644.1
申请日：2020-01-19
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种陶瓷片刮片装置，属于陶瓷制品生产技术领域，包括固定架、弹性滑移机构、角位台、刀架以及刮刀，弹性滑移机构安装于固定架上，且具有上下移动的自由度；角位台与弹性滑移机构固定连接；刀架与角位台固定连接；刮刀安装于刀架上，刮刀通过角位台调整角度，通过弹性滑移机构与陶瓷片弹性压紧。本发明提供的陶瓷片刮片装置，通过弹性滑移机构和角位台，保证刮刀的操作力度一致，熔渣清除干净，且不会刮坏陶瓷片，这种刮片方式通过刮片台设备带动进行刮片操作，省时省力。
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公开(公告)号：CN111610393A
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN202010411940.5
申请日：2020-05-15
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明适用于微波微系统测试技术领域，提供了一种多通道宽带微波集成组件自动测试系统及方法，该系统包括：上位机、测试仪器和待测产品；上位机可以配置待测产品的基准数据、待测产品的工作模式和测试仪器的状态参数；获取待测产品和测试仪器的校准数据文件，将校准数据文件下发给测试仪器；根据待测产品的工作模式，对自动测试指令进行数据重构，将数据重构后的自动测试指令下发给校准后的测试仪器，并采集校准后的测试仪器自动测试过程中产生的测试数据，根据测试数据生成测试结果报表，可以实现待测产品工作模式以及测试数据的动态可重构配置，便于实现待测产品的指标参数的一键化全自动测试，具有更高的测试效率和测试精度。
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公开(公告)号：CN111229658A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010058644.1
申请日：2020-01-19
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种陶瓷片刮片装置，属于陶瓷制品生产技术领域，包括固定架、弹性滑移机构、角位台、刀架以及刮刀，弹性滑移机构安装于固定架上，且具有上下移动的自由度；角位台与弹性滑移机构固定连接；刀架与角位台固定连接；刮刀安装于刀架上，刮刀通过角位台调整角度，通过弹性滑移机构与陶瓷片弹性压紧。本发明提供的陶瓷片刮片装置，通过弹性滑移机构和角位台，保证刮刀的操作力度一致，熔渣清除干净，且不会刮坏陶瓷片，这种刮片方式通过刮片台设备带动进行刮片操作，省时省力。
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公开(公告)号：CN210429757U
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201921667177.1
申请日：2019-09-30
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本实用新型提供了一种显微镜用晶圆打点装置，属于晶圆检测技术领域，包括竖板、第一微调架、第二微调架、第三微调架，以及打点器；其中，竖板用于竖直固定在显微镜的侧壁上；第一微调架与竖板滑动连接，第一微调架沿水平方向滑动；第二微调架与第一微调架滑动连接，第二微调架沿水平方向滑动，且第二微调架的滑动方向与第一微调架的滑动方向垂直；第三微调架与第二微调架滑动连接，第三微调架沿竖直方向滑动；打点器与第三微调架转动连接，且转动轴向与第二微调架的滑动方向相同，打点器的工作端与显微镜的用于检测晶圆的光心位置对正。本实用新型提供的显微镜用晶圆打点装置对于晶圆上的不合格芯片打点标记方便，检测效率高。
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公开(公告)号：CN205484619U
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201620283566.4
申请日：2016-04-06
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本实用新型公开了一种微波器件自动测试系统，涉及电性能的测试装置技术领域。所述系统包括PC机、开关矩阵、测试仪器和测试夹具，测试夹具上放置若干个微波待测件，微波待测件的射频输入/输出接口分别与测试夹具上的射频输入/输出接口连接，PC机的测试夹具控制信号输出端与测试夹具上的控制输入接口连接，测试夹具上的射频输入/输出接口分别经过开关矩阵内的可控开关与测试仪器的射频输入/输出接口连接，测试仪器的数据输出接口通过USB转GPIB线与PC机的USB接口连接，PC机的开关控制输出端与开关矩阵的控制输入端连接。通过所述系统进行数据采集和处理，可对微波待测件实现流水测试，大大提高了测试效率。
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