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公开(公告)号：CN118731510A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410739816.X
申请日：2024-06-07
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网冀北电力有限公司计量中心 , 国网四川省电力公司营销服务中心
IPC分类号： G01R29/08
摘要： 本申请提供一种EFT测试装置、方法及EFT故障诊断方法，属于电磁干扰技术领域。所述EFT测试装置与待测设备并联到交流电源，EFT测试装置包括：通断装置、干扰耦合装置以及感性负载，所述通断装置、干扰耦合装置以及感性负载串联后连接到交流电源，所述干扰耦合装置用于连接在待测设备上以将感性负载断开时产生的EFT耦合到待测设备上，所述通断装置控制感性负载的通断，以使感性负载在断开时产生EFT。该EFT测试装置采用的各元件成本低，在研发实验环境中可以快速获取相应元件并搭建好测试装置，可以实现第三方检测实验室外的EFT测试，无需采购专用设备，不受实验排期、场地的限制。成本低，周期短，可操作性强。
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公开(公告)号：CN118731511A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410747218.7
申请日：2024-06-11
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网冀北电力有限公司计量中心 , 国家电网有限公司
摘要： 本发明涉及芯片电磁兼容领域，提供一种测量通路谐振效应评估方法及装置、电磁干扰测试方法。所述方法包括：对芯片电磁干扰测试的测量结果进行频谱分析，以初步确定引起测量通路谐振效应的谐振频段；对测量系统进行频域测试，根据频域测试结果预测测量系统的测量通路的谐振点；利用仿真软件对测量系统进行测量仿真得到仿真结果，根据仿真结果对引起测量通路谐振效应的谐振频段以及测量通路的谐振点进行验证，以评估测量系统的测量通路谐振效应。本发明通过分析引起测量通路谐振效应的谐振频段和谐振点，通过仿真结果对其进行验证，确定高精度测量的影响因素，指导芯片电磁兼容标准的制定和芯片高可靠设计。
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公开(公告)号：CN116930670B
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311205204.4
申请日：2023-09-19
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网江苏省电力有限公司常州供电分公司 , 国家电网有限公司
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 本申请提供一种芯片级电磁干扰传导注入测试方法及装置，属于芯片电磁抗扰度测试技术领域。所述芯片级电磁干扰传导注入测试方法包括：构建测试装置；根据当前被测芯片标定测试装置不同参数对应的注入能量及波形特征；将当前被测芯片连接到测试装置上；采用测试装置注入电磁干扰到当前被测芯片；记录当前被测芯片的不同注入能量及波形特征以及对应的芯片状态。通过上述技术手段，在对被测芯片进行测试前标定被测芯片在测试装置采用不同参数时注入的能量及波形特征，然后将被测芯片连接到测试装置上进行测试，最后记录被测芯片状态及对应的注入能量及波形特征，为研究干扰注入能量及波形特征对芯片失效的影响提供数据基础，该方法适用范围广。
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公开(公告)号：CN116520137A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310762995.4
申请日：2023-06-27
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司
摘要： 本申请提供一种低噪声芯片引脚干扰测量辅助装置及测量系统，属于芯片电磁兼容测量技术领域。所述低噪声芯片引脚干扰测量辅助装置包括：辅助测量支架和多个SMA转BNC接头；所述辅助测量支架上开设有多个安装孔，多个所述SMA转BNC接头一一对应安装在所述安装孔内，且与所述辅助测量支架形成导电接触，多个所述安装孔间隔预设间距设置；所述辅助测量支架与地形成导电接触。该干扰测量辅助装置采用辅助测量支架实现接地，减少接地电阻，设计SMA转BNC接头用于连接被测芯片和示波器，有利于减小寄生电感。
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公开(公告)号：CN116231314A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310464492.9
申请日：2023-04-27
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京航空航天大学
摘要： 本发明提供一种结合二维材料的电磁环境测量天线，属于无线电测量技术领域。所述结合二维材料的电磁环境测量天线，所述电磁环境测量天线包括：介质基板、微带馈线和辐射单元；所述辐射单元包括四个菱形环辐射贴片，四个菱形环辐射贴片呈阵列布置在所述介质基板上表面，每个菱形环辐射贴片与相邻的两个菱形环辐射贴片顶点相连；所述微带馈线设于介质基板上表面，与任意两个菱形环辐射贴片的连接处相连。该天线工作于太赫兹频段，天线的结构简单，该结构能产生双谐振频率，具有双频特性。
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公开(公告)号：CN116840590A
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202310628180.7
申请日：2023-05-30
申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京航空航天大学
摘要： 本发明提供一种电磁环境电力芯片检测装置及系统，属于电磁特征采集领域，包括：室外电磁环境检测单元，设置在室外电磁环境中，用于检测电力设备的电磁环境，生成室外电磁信号；室内电磁环境复现单元，用于根据接收到的室外电磁信号在微波暗室内对室外电磁信号进行模拟；芯片电磁特征检测单元，包括电磁特征检测模块和高速采集卡，电磁特征检测模块用于检测设置在微波暗室内的样品芯片的电磁特征，生成电磁特征信号，高速采集卡与电磁特征检测模块连接，用于对接收到的电磁特征信号进行显示。通过本发明提供的装置，能够在实验室模拟真实环境的电磁场景，对芯片的电磁兼容性进行测试和评估，以确保设备能够在真实的电磁环境下正常工作。
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公开(公告)号：CN116298653B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310586457.4
申请日：2023-05-24
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 本发明提供一种瞬态电磁干扰注入装置、瞬态电磁干扰试验系统和方法，属于电磁干扰技术领域。瞬态电磁干扰注入装置包括：控制设备、有界波模拟器以及干扰信号耦合线；所述控制设备与所述有界波模拟器连接，用于控制所述有界波模拟器产生模拟电磁场；所述干扰信号耦合线设置在所述有界波模拟器的两极板的平行板段之间，且平行于所述有界波模拟器的平行板段产生的电场，用于将感应到的电磁场耦合成电磁干扰信号。该瞬态电磁干扰注入装置采用有界波模拟器作为干扰源，采用干扰信号耦合线将感应到的电磁场耦合成电磁干扰信号，以传导的形式将瞬态电磁干扰注入到待测设备的端口，能更接近设备实际应用过程中面临的严酷电磁环境。
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公开(公告)号：CN116231314B
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310464492.9
申请日：2023-04-27
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京航空航天大学
摘要： 本发明提供一种结合二维材料的电磁环境测量天线，属于无线电测量技术领域。所述结合二维材料的电磁环境测量天线，所述电磁环境测量天线包括：介质基板、微带馈线和辐射单元；所述辐射单元包括四个菱形环辐射贴片，四个菱形环辐射贴片呈阵列布置在所述介质基板上表面，每个菱形环辐射贴片与相邻的两个菱形环辐射贴片顶点相连；所述微带馈线设于介质基板上表面，与任意两个菱形环辐射贴片的连接处相连。该天线工作于太赫兹频段，天线的结构简单，该结构能产生双谐振频率，具有双频特性。
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公开(公告)号：CN116500348A
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202310792306.4
申请日：2023-06-30
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司
摘要： 本发明提供一种低频电磁测量装置及系统，属于低频电磁测量领域，包括：屏蔽舱，为密封的舱体结构，舱壁上开设有出线孔；连接件，设置在屏蔽舱的内壁的出线孔处；连接件由一体成型的第一连接部和第二连接部构成，第一连接部为片状结构，第二连接部为柱状结构，开设于第一连接部的贯穿孔与开设于第二连接部的轴向通孔共同作为连接件的连接孔，连接孔与出线孔构型匹配；低频电磁测量设备的测量设备本体设置在屏蔽舱内，线缆通过连接孔和出线孔通出屏蔽舱；第一屏蔽层，包覆在线缆表面且填充线缆与连接孔和出线孔之间的缝隙，第一屏蔽层由带状屏蔽膜呈螺旋状缠绕而成。通过本发明提供的装置，有效将低频电磁干扰引入地下，提高低频电磁屏蔽效果。
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公开(公告)号：CN117828482B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410239217.1
申请日：2024-03-04
申请人： 北京航空航天大学 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F18/2415 , G06N3/006 , G06F18/2411 , G06F18/214
摘要： 本发明涉及一种基于鸡群算法和马尔科夫法的灰色模型芯片寿命预测方法，涉及结构件寿命预测技术领域，解决了现有技术中的预测精度低、对原始序列的拟合程度差的问题。本发明的方法通过引入鸡群优化算法，在一个算法中以三类不同的寻优个体对灰色模型的参数进行寻优，保证预测效率高的同时，收敛速度快，计算量小，最大程度地降低了预测的平均相对误差；同时还引入干扰项保证了灰色模型最优拟合曲线在不一定经过历史数据中的某一点的情况下也能保证预测的精度。最后，引入马尔科夫法对灰色模型进行修正，有效地减小了传统灰色模型的残差累积效应，进一步地提高预测精度的基础上提高了预测数据对原始数据的拟合程度。
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