半导体器件
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108417504A

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201710770379.8

    申请日:2017-08-31

    发明人: 朴洛圭

    IPC分类号: H01L21/66

    摘要: 半导体器件可以包括被配置为提供第一电压的第一焊盘。半导体器件可以包括第二焊盘。半导体器件可以包括:连接电路,其被配置为基于连接信号而将第一焊盘耦接至第二焊盘,或者基于连接信号而将第二焊盘与第一焊盘电分离。半导体器件可以包括:检测电路,其被配置为基于测试模式信号和从第二焊盘接收的第二电压来产生缺陷检测信号。