氮化硅薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN108389780A

    公开(公告)日:2018-08-10

    申请号:CN201810162625.6

    申请日:2018-02-26

    申请人: 清华大学

    摘要: 本发明涉及氮化硅薄膜及其制备方法,包括:提供一基底;将所述基底置于反应腔室内,向所述反应腔室通入反应气体;以及通过等离子体增强化学气相沉积法在所述基底上进行沉积得到氮化硅薄膜;其中,所述反应气体包括硅源和氮源,所述硅源的通入流量为2000标准毫升/分钟~3000标准毫升/分钟,所述氮源的通入流量为400标准毫升/分钟~500标准毫升/分钟,所述等离子体增强化学气相沉积法中的沉积温度为250℃~350℃,射频的高频功率为600W~900W,射频的低频功率为25W~100W。该方法具有沉积速率快、沉积温度低的优点,同时,采用该制备方法得到的氮化硅薄膜的本征应力为-150MPa~30MPa。

    一种氧化铪介电薄膜的低温液相制备方法

    公开(公告)号:CN106373865A

    公开(公告)日:2017-02-01

    申请号:CN201610821754.2

    申请日:2016-09-14

    发明人: 夏国栋 王素梅

    IPC分类号: H01L21/02

    CPC分类号: H01L21/02225 H01L21/02227

    摘要: 本发明属于新材料及半导体领域,特别涉及一种氧化铪介电薄膜的低温液相制备方法。包括如下步骤:称取可溶性的铪盐,量取溶剂,配置浓度为0.01-0.5摩尔/升的氧化铪前驱体溶液,经过0.1-3小时的磁力搅拌和超声分散形成澄清透明的氧化铪前驱体溶液;制备氧化铪薄膜:将氧化铪前驱体溶液涂覆到清洗好的衬底上形成氧化铪前驱体薄膜,进行50-150 ℃的预热处理,然后经过一定功率、时间和温度的光波退火,根据氧化铪薄膜的厚度要求可多次涂覆前驱体氧化铪溶液并退火处理,即得到氧化铪介电薄膜。本发明所得氧化铪薄膜介电性能高,在晶体管、电容器等微电子领域有重要应用前景。通过本发明的工艺可以避免通常的高温溶液工艺、工艺周期长或昂贵设备等,成本低,适合工业化大规模生产。

    一种在石墨基底上构筑金属有机框架薄膜的方法

    公开(公告)号:CN105826170A

    公开(公告)日:2016-08-03

    申请号:CN201610249178.9

    申请日:2016-04-20

    发明人: 王富 王传义 王熠

    IPC分类号: H01L21/02

    CPC分类号: H01L21/02112 H01L21/02225

    摘要: 本发明涉及一种在石墨基底上构筑金属有机框架薄膜的方法,该方法首先采用在石墨基底上由4,4’?二十四基?2,2’?联吡啶通过分子自组装法得到晶型结构Ⅰ的自组装膜,然后,分别采用醋酸锌和醋酸铜溶液,用原位滴加的方法得到晶型结构Ⅱ和晶型结构Ⅲ的金属有机框架薄膜,所用的4,4’?二十四基?2,2’?联吡啶溶液的浓度低;所用的高定向裂解石墨是由石墨烯层堆叠的,表面平整,用透明胶带按在表面剥离即可得到干净的石墨表面,易清洁可多次利用;温度条件温和;金属有机框架薄膜的晶型结构可按需求调节。通过本发明所述方法制备的石墨为基底的金属有机框架薄膜成膜均匀,缺陷少,操作简单,可用于光电分子传感器等领域。