可降低封裝應力之封裝構造 PACKAGE FOR REDUCING STRESS
    55.
    发明专利
    可降低封裝應力之封裝構造 PACKAGE FOR REDUCING STRESS 有权
    可降低封装应力之封装构造 PACKAGE FOR REDUCING STRESS

    公开(公告)号:TWI335654B

    公开(公告)日:2011-01-01

    申请号:TW096116028

    申请日:2007-05-04

    IPC分类号: H01L

    摘要: 一種可降低封裝應力之封裝構造,其主要包含一承載器、一中介基板、複數個導電元件、一第一密封膠、一晶片以及一第二密封膠。該中介基板係設置於該承載器,該些導電元件係電性連接該中介基板與該承載器,該第一密封膠係包覆該些導電元件,該晶片之複數個凸塊係接合至該中介基板,該第二密封膠係包覆該些凸塊,其中該第一密封膠之一第一玻璃轉化溫度係大於該第二密封膠之一第二玻璃轉化溫度。由於該第一密封膠與該第二密封膠二者間之玻璃轉化溫度不同,且該第一密封膠之該第一玻璃轉化溫度係大於該第二密封膠之該第二玻璃轉化溫度,使得封裝構造內之應力降低,進而提高產品良率。

    简体摘要: 一种可降低封装应力之封装构造,其主要包含一承载器、一中介基板、复数个导电组件、一第一密封胶、一芯片以及一第二密封胶。该中介基板系设置于该承载器,该些导电组件系电性连接该中介基板与该承载器,该第一密封胶系包覆该些导电组件,该芯片之复数个凸块系接合至该中介基板,该第二密封胶系包覆该些凸块,其中该第一密封胶之一第一玻璃转化温度系大于该第二密封胶之一第二玻璃转化温度。由于该第一密封胶与该第二密封胶二者间之玻璃转化温度不同,且该第一密封胶之该第一玻璃转化温度系大于该第二密封胶之该第二玻璃转化温度,使得封装构造内之应力降低,进而提高产品良率。

    一種具有導孔之多晶片封裝結構與方法 A PACKAGING STRUCTURE FOR MULTIPLE CHIPS AND A PACKAGING METHOD USING IN THE SAME
    59.
    发明专利
    一種具有導孔之多晶片封裝結構與方法 A PACKAGING STRUCTURE FOR MULTIPLE CHIPS AND A PACKAGING METHOD USING IN THE SAME 审中-公开
    一种具有导孔之多芯片封装结构与方法 A PACKAGING STRUCTURE FOR MULTIPLE CHIPS AND A PACKAGING METHOD USING IN THE SAME

    公开(公告)号:TW201017861A

    公开(公告)日:2010-05-01

    申请号:TW097140235

    申请日:2008-10-21

    发明人: 林孝忠 莊榮鎮

    IPC分类号: H01L

    摘要: 本案提出一種具有導孔之多晶片封裝結構與方法,包含:至少具有兩晶片之晶片組;其中,該些晶片係以堆疊方式結合於一起,且該些晶片中之任一者皆設置有複數個接合墊層;以及一基板,具有用以貫穿該基板板體之至少複數個導孔,且一導電材料充填並分佈於該些導孔中;其中,位於任一導孔中之導電材料,於靠近該基板之一上板體表面以及一下板體表面處分別凸出形成一接合凸塊,且位於該上板體表面處之該些接合凸塊,係與該些晶片中之至少一者的該些接合墊層直接對應連接。

    简体摘要: 本案提出一种具有导孔之多芯片封装结构与方法,包含:至少具有两芯片之芯片组;其中,该些芯片系以堆栈方式结合于一起,且该些芯片中之任一者皆设置有复数个接合垫层;以及一基板,具有用以贯穿该基板板体之至少复数个导孔,且一导电材料充填并分布于该些导孔中;其中,位于任一导孔中之导电材料,于靠近该基板之一上板体表面以及一下板体表面处分别凸出形成一接合凸块,且位于该上板体表面处之该些接合凸块,系与该些芯片中之至少一者的该些接合垫层直接对应连接。