混成核心貫穿孔洞和通孔(二)
    7.
    发明专利
    混成核心貫穿孔洞和通孔(二) 审中-公开
    混成内核贯穿孔洞和通孔(二)

    公开(公告)号:TW201701435A

    公开(公告)日:2017-01-01

    申请号:TW105109477

    申请日:2011-11-22

    IPC分类号: H01L23/52 H01L23/535

    摘要: 一種包含前部及後部的半導體元件基體,該前部及該後部為配置於第一核心之前表面及後表面上的疊合核心。該第一核心有已鍍上金屬以及用空氣核心材料填滿的圓柱形鍍覆貫穿孔洞。該前部及該後部有用導電材料填滿以及耦合至該鍍覆貫穿孔洞的雷射鑽成錐形通孔。該後部包含傳遞至該前部的一整合電感線圈。該第一核心與該等疊合核心形成有整合電感線圈的混成核心半導體元件基體。

    简体摘要: 一种包含前部及后部的半导体组件基体,该前部及该后部为配置于第一内核之前表面及后表面上的叠合内核。该第一内核有已镀上金属以及用空气内核材料填满的圆柱形镀覆贯穿孔洞。该前部及该后部有用导电材料填满以及耦合至该镀覆贯穿孔洞的激光钻成锥形通孔。该后部包含传递至该前部的一集成电感线圈。该第一内核与该等叠合内核形成有集成电感线圈的混成内核半导体组件基体。