公开(公告)号：US08704320B2

公开(公告)日：2014-04-22

申请号：US13358694

申请日：2012-01-26

申请人： Xiaochun Zhu ,  Xia Li ,  Wei-Chuan Chen ,  Seung H. Kang

发明人： Xiaochun Zhu ,  Xia Li ,  Wei-Chuan Chen ,  Seung H. Kang

IPC分类号： H01L29/82 ,  H01L43/00

CPC分类号： H01L43/12 ,  G11C11/16 ,  G11C11/161 ,  G11C11/1675 ,  H01F10/3254 ,  H01F10/3286 ,  H01F41/325 ,  H01L27/222 ,  H01L41/12 ,  H01L43/08 ,  H01L43/10

摘要： Partial perpendicular magnetic anisotropy (PPMA) type magnetic random access memory cells are constructed using processes and structural configurations that induce a directed static strain/stress on an MTJ to increase the perpendicular magnetic anisotropy. Consequently, reduced switching current of the MTJ results. The directed static strain/stress on the MTJ is induced in a controlled direction and/or with a controlled magnitude during fabrication. The MTJ is permanently subject to a predetermined directed stress and permanently includes the directed static strain/strain that provides reduced switching current.

摘要翻译： 使用在MTJ上引起定向静态应变/应力以增加垂直磁各向异性的工艺和结构构造来构造部分垂直磁各向异性（PPMA）型磁性随机存取存储器单元。 因此，MTJ的开关电流降低。 在制造过程中，受控方向和/或受控幅度诱发MTJ上的定向静态应变/应力。 MTJ永久地受到预定的定向应力，并且永久地包括提供减小的开关电流的定向静态应变/应变。

公开(公告)号：US20130191048A1

公开(公告)日：2013-07-25

申请号：US13357417

申请日：2012-01-24

申请人： Xia Li ,  Wei-Chuan Chen ,  Seung H. Kang

发明人： Xia Li ,  Wei-Chuan Chen ,  Seung H. Kang

IPC分类号： G01R31/26 ,  G06F19/00

CPC分类号： G11C29/50008 ,  G01R33/098 ,  G11C11/16 ,  G11C2029/5002 ,  H01L43/08

摘要： A method of estimating damage to a magnetic tunnel junction (MTJ) element that includes providing an MTJ element having a magnetic barrier layer, the magnetic barrier layer having a periphery, a cross-sectional area and a thickness and comprising an inner region of undamaged magnetic barrier material and an outer region of damaged magnetic barrier material between the inner region and the periphery, determining a first value indicative of an electrical characteristic of the MTJ element, determining a second value indicative of the electrical characteristic that the MTJ element would have had if the outer region of damaged magnetic barrier material were not present and if the inner region of undamaged magnetic barrier material extended to the periphery, and calculating a value indicative of the size of the outer region of damaged magnetic barrier material from the first value and the second value. Also a computer configured to perform the method.

摘要翻译： 一种估计对磁性隧道结（MTJ）元件的损伤的方法，该方法包括提供具有磁性阻挡层的MTJ元件，所述磁性阻挡层具有周边，横截面积和厚度，并且包括未损坏磁性的内部区域 阻挡材料和在内部区域和外围之间的损坏的磁阻材料的外部区域，确定指示MTJ元件的电特性的第一值，确定指示MTJ元件将具有的电特性的第二值 损坏的磁阻材料的外部区域不存在，并且如果未损坏的磁性阻挡材料的内部区域延伸到周边，并且从第一值和第二值计算表示损坏的磁阻材料的外部区域的尺寸的值 值。 也是配置为执行该方法的计算机。

公开(公告)号：US20120012952A1

公开(公告)日：2012-01-19

申请号：US12837535

申请日：2010-07-16

申请人： Wei-Chuan Chen ,  Seung H. Kang ,  Xiaochun Zhu ,  Xia Li

发明人： Wei-Chuan Chen ,  Seung H. Kang ,  Xiaochun Zhu ,  Xia Li

IPC分类号： H01L29/82 ,  H01L21/02

CPC分类号： H01L43/08

摘要： A magnetic tunnel junction (MTJ) storage element may comprise a pinned layer stack and a first functional layer. The pinned layer stack is formed of a plurality of layers comprising a bottom pinned layer, a coupling layer, and a top pinned layer. The first functional layer is disposed in the bottom pinned layer or the top pinned layer.

摘要翻译： 磁性隧道结（MTJ）存储元件可以包括钉扎层堆叠和第一功能层。 钉扎层堆叠由包括底部钉扎层，耦合层和顶部钉扎层的多个层形成。 第一功能层设置在底部钉扎层或顶部钉扎层中。

公开(公告)号：US20110175181A1

公开(公告)日：2011-07-21

申请号：US12777529

申请日：2010-05-11

申请人： Seung H. Kang ,  Xia Li ,  Wei-Chuan Chen ,  Kangho Lee ,  Xiaochun Zhu ,  Wah Nam Hsu

发明人： Seung H. Kang ,  Xia Li ,  Wei-Chuan Chen ,  Kangho Lee ,  Xiaochun Zhu ,  Wah Nam Hsu

IPC分类号： H01L29/82 ,  H01L21/28

CPC分类号： H01L43/12 ,  H01L43/08

摘要： A magnetic tunnel junction (MTJ) with direct contact is manufactured having lower resistances, improved yield, and simpler fabrication. The lower resistances improve both read and write processes in the MTJ. The MTJ layers are deposited on a bottom electrode aligned with the bottom metal. An etch stop layer may be deposited adjacent to the bottom metal to prevent overetch of an insulator surrounding the bottom metal. The bottom electrode is planarized before deposition of the MTJ layers to provide a substantially flat surface. Additionally, an underlayer may be deposited on the bottom electrode before the MTJ layers to promote desired characteristics of the MTJ.

摘要翻译： 具有直接接触的磁性隧道结（MTJ）被制造成具有较低的电阻，提高的产量和更简单的制造。 较低的电阻提高了MTJ中的读取和写入过程。 MTJ层沉积在与底部金属对准的底部电极上。 蚀刻停止层可以沉积在底部金属附近，以防止围绕底部金属的绝缘体的过蚀刻。 在沉积MTJ层之前将底部电极平坦化以提供基本平坦的表面。 另外，可以在MTJ层之前的底部电极上沉​​积底层以促进MTJ的期望特性。

公开(公告)号：US08681536B2

公开(公告)日：2014-03-25

申请号：US12777529

申请日：2010-05-11

申请人： Seung H. Kang ,  Xia Li ,  Wei-Chuan Chen ,  Kangho Lee ,  Xiaochun Zhu ,  Wah Nam Hsu

发明人： Seung H. Kang ,  Xia Li ,  Wei-Chuan Chen ,  Kangho Lee ,  Xiaochun Zhu ,  Wah Nam Hsu

IPC分类号： G11C11/22

CPC分类号： H01L43/12 ,  H01L43/08

摘要： A magnetic tunnel junction (MTJ) with direct contact is manufactured having lower resistances, improved yield, and simpler fabrication. The lower resistances improve both read and write processes in the MTJ. The MTJ layers are deposited on a bottom electrode aligned with the bottom metal. An etch stop layer may be deposited adjacent to the bottom metal to prevent overetch of an insulator surrounding the bottom metal. The bottom electrode is planarized before deposition of the MTJ layers to provide a substantially flat surface. Additionally, an underlayer may be deposited on the bottom electrode before the MTJ layers to promote desired characteristics of the MTJ.

摘要翻译： 具有直接接触的磁性隧道结（MTJ）被制造成具有较低的电阻，提高的产量和更简单的制造。 较低的电阻提高了MTJ中的读取和写入过程。 MTJ层沉积在与底部金属对准的底部电极上。 蚀刻停止层可以沉积在底部金属附近，以防止围绕底部金属的绝缘体的过蚀刻。 在沉积MTJ层之前将底部电极平坦化以提供基本平坦的表面。 另外，可以在MTJ层之前的底部电极上沉​​积底层以促进MTJ的期望特性。

公开(公告)号：US20140048894A1

公开(公告)日：2014-02-20

申请号：US13589426

申请日：2012-08-20

申请人： Xia Li ,  Kangho Lee ,  Jung Pill Kim ,  Taehyun Kim ,  Wah Nam Hsu ,  Seung H. Kang ,  Xiaochun Zhu ,  Wei-Chuan Chen ,  Sungryul Kim

发明人： Xia Li ,  Kangho Lee ,  Jung Pill Kim ,  Taehyun Kim ,  Wah Nam Hsu ,  Seung H. Kang ,  Xiaochun Zhu ,  Wei-Chuan Chen ,  Sungryul Kim

IPC分类号： H01L43/12 ,  H01L43/02

CPC分类号： H01L43/12 ,  G11C11/005 ,  G11C11/161 ,  G11C11/1675 ,  G11C11/1693 ,  G11C11/5607 ,  G11C17/02 ,  G11C17/165 ,  H01L27/222 ,  H01L27/228 ,  H01L43/02 ,  H01L43/08

摘要： Systems and methods for multiple-time programmable (MTP) devices. An MTP device includes a magnetic tunnel junction (MTJ) device programmable to a plurality of states based on voltage applied across the MTJ device. The plurality of states include a first resistance state corresponding to a first binary value stored in the MTJ device based on a first voltage, a second resistance state corresponding to a second binary value stored in the MTJ device based on a second voltage, a third resistance state corresponding to a breakdown of a barrier layer of the MTJ device based on a third voltage, and a fourth resistance state corresponding to an open fuse based on a fourth voltage.

摘要翻译： 多时间可编程（MTP）设备的系统和方法。 MTP设备包括基于跨越MTJ设备施加的电压而可编程为多个状态的磁隧道结（MTJ）设备。 多个状态包括基于第一电压而存储在MTJ装置中的第一二进制值的第一电阻状态，基于第二电压存储在MTJ装置中的与第二二进制值对应的第二电阻状态，第三电阻 状态对应于基于第三电压的MTJ装置的势垒层的击穿，以及对应于基于第四电压的开路保险丝的第四电阻状态。

公开(公告)号：US20120205764A1

公开(公告)日：2012-08-16

申请号：US13026320

申请日：2011-02-14

申请人： Wei-Chuan Chen ,  Xia Li ,  Seung H. Kang

发明人： Wei-Chuan Chen ,  Xia Li ,  Seung H. Kang

IPC分类号： H01L29/82 ,  H01L21/02

CPC分类号： G11C11/16 ,  G11C11/161 ,  H01L23/552 ,  H01L27/11502 ,  H01L27/11507 ,  H01L27/228 ,  H01L43/02 ,  H01L43/08 ,  H01L43/12 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

摘要： Methods and apparatus for shielding a shielding a non-volatile memory, such as shielding a magnetic tunnel junction (MTJ) device from a magnetic flux are provided. In an example, a shielding layer is formed adjacent to an electrode of an MTJ device, such that the shielding layer substantially surrounds a surface of the electrode, and a metal line is coupled to the shielding layer. The metal line can be coupled to the shielding layer by a via.

摘要翻译： 提供了用于屏蔽屏蔽非易失性存储器的方法和装置，例如屏蔽磁性隧道结（MTJ）装置与磁通量。 在一个示例中，屏蔽层邻近MTJ器件的电极形成，使得屏蔽层基本上围绕电极的表面，并且金属线耦合到屏蔽层。 金属线可以通过通孔耦合到屏蔽层。

公开(公告)号：US08923044B2

公开(公告)日：2014-12-30

申请号：US13589426

申请日：2012-08-20

申请人： Xia Li ,  Kangho Lee ,  Jung Pill Kim ,  Taehyun Kim ,  Wah Nam Hsu ,  Seung H. Kang ,  Xiaochun Zhu ,  Wei-Chuan Chen ,  Sungryul Kim

发明人： Xia Li ,  Kangho Lee ,  Jung Pill Kim ,  Taehyun Kim ,  Wah Nam Hsu ,  Seung H. Kang ,  Xiaochun Zhu ,  Wei-Chuan Chen ,  Sungryul Kim

IPC分类号： G11C11/14 ,  G11C17/16 ,  H01L27/22 ,  G11C11/16 ,  H01L43/02 ,  H01L43/12

CPC分类号： H01L43/12 ,  G11C11/005 ,  G11C11/161 ,  G11C11/1675 ,  G11C11/1693 ,  G11C11/5607 ,  G11C17/02 ,  G11C17/165 ,  H01L27/222 ,  H01L27/228 ,  H01L43/02 ,  H01L43/08

摘要： Systems and methods for multiple-time programmable (MTP) devices. An MTP device includes a magnetic tunnel junction (MTJ) device programmable to a plurality of states based on voltage applied across the MTJ device. The plurality of states include a first resistance state corresponding to a first binary value stored in the MTJ device based on a first voltage, a second resistance state corresponding to a second binary value stored in the MTJ device based on a second voltage, a third resistance state corresponding to a breakdown of a barrier layer of the MTJ device based on a third voltage, and a fourth resistance state corresponding to an open fuse based on a fourth voltage.

摘要翻译： 多时间可编程（MTP）设备的系统和方法。 MTP设备包括基于跨越MTJ设备施加的电压而可编程为多个状态的磁隧道结（MTJ）设备。 多个状态包括基于第一电压而存储在MTJ装置中的第一二进制值的第一电阻状态，基于第二电压存储在MTJ装置中的与第二二进制值对应的第二电阻状态，第三电阻 状态对应于基于第三电压的MTJ装置的势垒层的击穿，以及对应于基于第四电压的开路保险丝的第四电阻状态。

公开(公告)号：US08564080B2

公开(公告)日：2013-10-22

申请号：US12837535

申请日：2010-07-16

申请人： Wei-Chuan Chen ,  Seung H. Kang ,  Xiaochun Zhu ,  Xia Li

发明人： Wei-Chuan Chen ,  Seung H. Kang ,  Xiaochun Zhu ,  Xia Li

IPC分类号： H01L29/82 ,  G11C11/02

CPC分类号： H01L43/08

摘要： A magnetic tunnel junction (MTJ) storage element may comprise a pinned layer stack and a first functional layer. The pinned layer stack is formed of a plurality of layers comprising a bottom pinned layer, a coupling layer, and a top pinned layer. The first functional layer is disposed in the bottom pinned layer or the top pinned layer.

摘要翻译： 磁性隧道结（MTJ）存储元件可以包括钉扎层堆叠和第一功能层。 钉扎层堆叠由包括底部钉扎层，耦合层和顶部钉扎层的多个层形成。 第一功能层设置在底部钉扎层或顶部钉扎层中。

公开(公告)号：US08557610B2

公开(公告)日：2013-10-15

申请号：US13026320

申请日：2011-02-14

申请人： Wei-Chuan Chen ,  Xia Li ,  Seung H. Kang

发明人： Wei-Chuan Chen ,  Xia Li ,  Seung H. Kang

IPC分类号： H01L21/00 ,  H01L29/82

CPC分类号： G11C11/16 ,  G11C11/161 ,  H01L23/552 ,  H01L27/11502 ,  H01L27/11507 ,  H01L27/228 ,  H01L43/02 ,  H01L43/08 ,  H01L43/12 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

摘要： Methods and apparatus for shielding a shielding a non-volatile memory, such as shielding a magnetic tunnel junction (MTJ) device from a magnetic flux are provided. In an example, a shielding layer is formed adjacent to an electrode of an MTJ device, such that the shielding layer substantially surrounds a surface of the electrode, and a metal line is coupled to the shielding layer. The metal line can be coupled to the shielding layer by a via.

摘要翻译： 提供了用于屏蔽屏蔽非易失性存储器的方法和装置，例如屏蔽磁性隧道结（MTJ）装置与磁通量。 在一个示例中，屏蔽层邻近MTJ器件的电极形成，使得屏蔽层基本上围绕电极的表面，并且金属线耦合到屏蔽层。 金属线可以通过通孔耦合到屏蔽层。