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公开(公告)号:WO2012132218A1
公开(公告)日:2012-10-04
申请号:PCT/JP2012/001284
申请日:2012-02-24
Applicant: ルネサスエレクトロニクス株式会社 , 金井 友明
Inventor: 金井 友明
IPC: G06F12/14
CPC classification number: G06F3/0622 , G06F3/0637 , G06F3/0679 , G06F12/0246 , G06F12/1425 , G06F2212/1052 , G06F2212/7209
Abstract: 本発明にかかるプロセッサシステムは、記憶部(10)と、許可側から禁止側に切り替えて設定可能なアクセス禁止フラグ(13)を格納する制御情報領域(12)と、記憶部(10)に対するアクセス要求と複写レジスタ(32)の書き換え要求とを発行するメインPEaと、複写レジスタ(32)の書き換え要求が正当であるか否かの判定を行うセキュリティPEと、アクセス禁止フラグ(13)が許可側に設定された場合に当該許可に応じた値を記憶し、アクセス禁止フラグ(13)が禁止側に設定された場合にセキュリティPEの判定結果に応じた値を記憶する複写レジスタ(32)と、複写レジスタ(32)の出力値に基づきメインPEaから記憶部(10)に対するアクセスを許可するか否かを制御するアクセス制御回路(21)と、を備える。
Abstract translation: 该处理器系统具有:存储单元(10); 控制信息区域(12),用于存储可以从许可方切换而设置到禁止侧的访问禁止标志(13); 用于向存储单元(10)发出访问请求的主PEa和复制寄存器(32)重写请求; 用于确定复制寄存器(32)重写请求是否被授权的安全PE; 如果访问禁止标志(13)被设置到许可方,则用于存储对应于该许可的值的复制寄存器(32),或者用于存储与安全性PE所做的确定结果相对应的值,如果访问禁止标志( 13)设置在禁止侧; 以及访问控制电路(21),用于根据来自复制寄存器(32)的输出值允许或禁止从主PEa访问存储单元(10)。
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32.
公开(公告)号:WO2012132217A1
公开(公告)日:2012-10-04
申请号:PCT/JP2012/001281
申请日:2012-02-24
Applicant: ルネサスエレクトロニクス株式会社 , 八ヶ代 雅高
Inventor: 八ヶ代 雅高
CPC classification number: H04J3/0638 , H04J3/0658 , H04L12/40013 , H04L12/413
Abstract: 本発明にかかるCAN通信システムは、それぞれが第1の論理値又は第1の論理値を反転した第2の論理値のいずれかをとる複数のビットが連続するビットデータを送信するときに、CANプロトコルに基づき、ビットデータにおいて同一の論理値が所定数連続するビットの次に、同一の論理値の反転値をとるスタッフビットを挿入した送信データを、ビットデータに代えて送信する送信装置と、CANプロトコルに基づき、送信データにおける第2の論理値から第1の論理値へのエッジの検出に応じて、送信装置との間で送信データの送受信の同期をとる受信装置を備える。送信装置は、ビットデータを送信するときに、ビットデータにおいて第1の論理値が所定数連続するビットの次のビットから連続して所定数-1ビットのうち、いずれかのビットを第1の論理値に書き換える。
Abstract translation: 本发明的CAN通信系统具有:发送装置,其中,在发送具有多个连续比特的比特数据时,每个比特具有作为第一逻辑值的反转的第一逻辑值或第二逻辑值 发送装置根据CAN协议来发送代替比特数据的发送数据,该发送数据包括在比特数据中具有相同逻辑值的预定数量的连续比特,并且具有相同值的填充比特 逻辑值并插入连续位后; 以及接收装置,其根据CAN协议,根据在发送数据中从第二逻辑值到第一逻辑值的边缘的检测,同步发送数据的发送/接收。 在发送比特数据时,发送装置将比特重写为第一逻辑值,该比特是从在比特数据中具有第一逻辑值的预定数量的比特之后的比特继续的预定的第1比特中选择的 。
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公开(公告)号:WO2012132215A1
公开(公告)日:2012-10-04
申请号:PCT/JP2012/001277
申请日:2012-02-24
Applicant: ルネサスエレクトロニクス株式会社 , 石関 芳明
Inventor: 石関 芳明
IPC: H03K17/16 , H03K17/687 , H03K19/0175
CPC classification number: H04L25/03885 , H03K17/16 , H03K17/166 , H03K19/00361 , H03K19/017545 , H03K19/018507 , H03K19/018521 , H04L1/20
Abstract: 本発明の一態様であるシリアル通信装置(100)は、スルーレート制御回路(1)、出力回路(21)、ノイズ検出回路(31)及び切替回路(4)を有する。スルーレート制御回路(1)は、所定のインピーダンスを有し、入力信号(Vi)に応じて出力から一定の電流を供給する。出力回路(21)は、Nchトランジスタ(N2)のゲート-ソース間容量(Cgs)がスルーレート制御回路(1)からの一定の電流により充放電され、駆動電圧(Vg)に応じた通信ライン電圧(Vs)を出力端子(Tout)から出力する。ノイズ検出回路(31)は、出力端子(Tout)から伝搬する通信ラインノイズ(Vn)を検出し、検出結果に応じた切替信号(Vc)を出力する。切替回路(4)は、切替信号(Vc)に応じて、スルーレート制御回路(1)のインピーダンスを所定のインピーダンスよりも小さい値に切り替える。
Abstract translation: 作为本发明的实施例的串行通信装置(100)具有压摆率控制电路(1),输出电路(21),噪声检测电路(31)和开关电路(4)。 压摆率控制电路(1)响应于输入信号(Vi),指定阻抗并从输出端提供恒定电流。 输出电路(21)通过来自压摆率控制电路(1)的恒定电流对N沟道晶体管(N2)的栅极和源极之间的电容(Cgs)进行充电,并输出通信线路电压 Vs)对应于来自输出端子(Tout)的驱动电压(Vg)。 噪声检测电路(31)检测从输出端子(Tout)传播的通信线路噪声(Vn),并输出与检测结果对应的切换信号(Vc)。 开关电路(4)根据开关信号(Vc)将压摆率控制电路(1)的阻抗切换到小于规定阻抗的值。
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公开(公告)号:WO2012127956A1
公开(公告)日:2012-09-27
申请号:PCT/JP2012/053937
申请日:2012-02-20
Applicant: ルネサスエレクトロニクス株式会社 , 西村 浩一
Inventor: 西村 浩一
CPC classification number: H03F3/45183 , G09G3/3688 , H03F2203/45366 , H03F2203/45506 , H03F2203/45646 , H03F2203/45674
Abstract: 演算増幅器回路が、入力電圧を受け取る一対のPチャネルMOSトランジスタを含むPチャネル差動対と、入力電圧を受け取る一対のディプレッション型のNチャネルMOSトランジスタを含むNチャネル差動対と、スイッチ手段とを備える入力差動段と、Pチャネル差動対とNチャネル差動対に流れる電流に応答して出力電圧を出力する出力部とを具備する。スイッチ手段は、入力電圧の変化に同期した制御信号に応答してPチャネル差動対を流れるバイアス電流を遮断する。
Abstract translation: 一种计算放大器电路,包括:输入差分级,还包括P沟道差分对,其包括接收输入电压的一对P沟道MOS晶体管,N沟道差分对,其包括一对凹陷型N 接收输入电压的通道MOS晶体管,以及开关装置; 以及输出单元,其输出响应于流过P沟道差分对和N沟道差分对的电流的输出电压。 开关装置响应于与输入电压的变化同步的控制信号中断流过P沟道差分对的偏置电流。
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公开(公告)号:WO2012127781A1
公开(公告)日:2012-09-27
申请号:PCT/JP2012/001164
申请日:2012-02-21
Applicant: ルネサスエレクトロニクス株式会社 , 恩田 貴之
Inventor: 恩田 貴之
IPC: H01L21/8247 , H01L27/115 , H01L29/788 , H01L29/792
CPC classification number: H01L29/78 , G11C5/063 , G11C8/14 , H01L21/28008 , H01L27/11519 , H01L27/11524
Abstract: 第1接続部(210)及び第2接続部(220)は、第1コントロールゲート(120)を第2コントロールゲート(150)に接続しており、かつ互いに離間している。第1コントロールゲート(120)は、第1接続部(210)と、第1接続部(210)に最近接のソース拡散層(180)との間に第1分断部(122)を有している。た第2コントロールゲート(150)は、第2接続部(220)と、第2接続部(220)に最近接のソース拡散層(180)との間に第2分断部(152)を有している。そして第1ワードゲート(110)及び第2ワードゲート(140)は、第1分断部(122)及び第2分断部(152)と重なる部分では分断していない。
Abstract translation: 在本发明中,第一连接部分(210)和第二连接部分(220)将第一控制栅极(120)连接到第二控制栅极(150)并且彼此分离。 第一控制栅极(120)在第一连接部分(210)和最接近第一连接部分(210)的源极扩散层(180)之间具有第一分离部分(122)。 第二控制栅极(150)在第二连接部分(220)和最接近第二连接部分(220)的源极扩散层(180)之间具有第二分离部分(152)。 此外,在与第一分离部分(122)和第二分离部分(152)重叠的部分处,第一字门(110)和第二字门(140)不分离。
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公开(公告)号:WO2012127614A1
公开(公告)日:2012-09-27
申请号:PCT/JP2011/056801
申请日:2011-03-22
Applicant: ルネサスエレクトロニクス株式会社 , 馬場 伸治 , 渡辺 正樹 , 徳永 宗治 , 中川 和之
IPC: H01L23/12 , H01L21/60 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: H01L24/17 , H01L21/563 , H01L23/291 , H01L23/3135 , H01L23/3142 , H01L23/3171 , H01L23/49811 , H01L23/49816 , H01L23/49822 , H01L23/49827 , H01L23/49838 , H01L24/14 , H01L24/16 , H01L24/32 , H01L24/81 , H01L2224/0401 , H01L2224/05548 , H01L2224/05567 , H01L2224/1134 , H01L2224/13007 , H01L2224/13022 , H01L2224/13024 , H01L2224/13075 , H01L2224/13082 , H01L2224/131 , H01L2224/13144 , H01L2224/13147 , H01L2224/14136 , H01L2224/14155 , H01L2224/14177 , H01L2224/16227 , H01L2224/16237 , H01L2224/16238 , H01L2224/32225 , H01L2224/73204 , H01L2224/81191 , H01L2224/81193 , H01L2224/81815 , H01L2224/83102 , H01L2924/00014 , H01L2924/01029 , H01L2924/014 , H01L2924/1306 , H01L2924/13091 , H01L2924/3512 , H01L2924/00012 , H01L2924/00 , H01L2224/05552
Abstract: 半導体装置の信頼性を向上できる技術を提供する。本発明では、半導体チップを搭載する配線基板として、ビルドアップ基板を使用せずに、貫通基板THWBを使用する。これにより、本発明では、コア層だけからなる貫通基板を使用することにより、ビルドアップ層とコア層との熱膨張係数の相違を考慮する必要がなく、さらには、ビルドアップ層が存在しないので、ビルドアップ層に形成される微細なビアの電気的な切断も考慮する必要がなくなる。この結果、本発明によれば、コスト低減を図りながら、半導体装置の信頼性向上を図ることができる。
Abstract translation: 提供了能够提高半导体器件的可靠性的技术。 在本发明中,使用通孔基板(THWB)来替代堆积基板作为要安装半导体芯片的布线基板。 因此,在本发明中,仅由芯层构成的通孔基板的使用将不需要考虑积层层与芯层之间的热膨胀系数的差异; 此外,由于不存在积聚层,因此考虑到不需要在形成层上形成的微通孔的电断开。 根据本发明,可以提高半导体器件的可靠性,同时降低成本。
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公开(公告)号:WO2012124431A1
公开(公告)日:2012-09-20
申请号:PCT/JP2012/053761
申请日:2012-02-17
Applicant: ルネサスエレクトロニクス株式会社 , 清水 賢一 , 森田 敏弘 , 網 康裕
CPC classification number: G06F13/4063 , G06F13/122 , G06F2213/0026
Abstract: 種々のPCIeトポロジに対応したシステム構成を実現することが可能な半導体装置が提供される。RAM(14)は、PCIeデバイスのファンクション情報を定義するコンフィグレーションレジスタを記憶する。Link制御部(23)は、PCIeホスト(2)から受信したリクエストをデコードし、デコード結果をCPU(13)に出力する。CPU(13)は、Link制御部(23)から受けたデコード結果に応じて対応するコンフィグレーションレジスタをRAM(14)から読み出し、リクエストに対するレスポンスを生成してLink制御部(23)に送信させる。したがって、種々のPCIeトポロジに対応したシステム構成を実現することが可能となる。
Abstract translation: 提供了能够获得对应于各种PCIe拓扑的系统配置的半导体器件。 RAM(14)存储定义PCIe设备的功能信息的配置寄存器。 链路控制单元(23)对从PCIe主机(2)接收的请求进行解码,并将解码的结果输出到CPU(13)。 CPU(13)响应于从链路控制单元(23)接收的解码结果,从RAM(14)读取相应的配置寄存器,产生与该请求对应的响应,并且指示链路控制单元(23) 传送响应。 因此,可以获得对应于各种PCIe拓扑的系统配置。
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公开(公告)号:WO2012121087A1
公开(公告)日:2012-09-13
申请号:PCT/JP2012/055153
申请日:2012-03-01
Applicant: ルネサスエレクトロニクス株式会社 , 土 弘
Inventor: 土 弘
CPC classification number: G09G5/003 , G09G3/3291 , G09G3/3688 , G09G3/3696 , G09G5/00 , G09G2310/027 , G09G2310/0291 , H03M1/661 , H03M1/76
Abstract: 参照電圧の総数を削減するデジタルアナログ変換回路(DAC)を提供する。DACはN個の参照電圧とnビット(n≧4)のデジタル信号を入力し第1乃至第3の電圧を選択する第1のデコーダ(10)と、前記第1乃至第3の電圧を入力し(第1の電圧+第2の電圧+2×第3の電圧)/4の電圧レベルを出力する演算増幅器(60)を備える。演算増幅器(60)はnビットのデジタル信号の2^n通りの組み合わせのそれぞれに対して基準レベルとなる第Aレベルから第(A-1+2^n)レベルまでの2^n個の電圧レベルが出力可能とされ、N個の参照電圧は2^n個の出力電圧レベルである第Aレベル乃至第(A-1+2^n)レベルに対して第Aレベルから4レベル置きの電圧レベル:A+4k(但し、kは0から2^(n-2)までの整数)に対応する{1+2^(n-2)}個の参照電圧のうち第Aレベル、第(A+4)レベル、第(A-4+2^n)レベル、第(A+2^n)レベルの4個の参照電圧と、前記第Aレベルから4レベル置きの電圧レベルに対応する{1+2^(n-2)}個の参照電圧のうち前記4個の参照電圧以外の{-3+2^(n-2)}の参照電圧から予め定められた少なくとも1つの個数の参照電圧を間引いた、多くとも{-4+2^(n-2)}の参照電圧を含み、Nは4以上、2^(n-2)である(図1)。
Abstract translation: 提供了一种数字/模拟转换电路(DAC),从而降低了参考电压的总数。 DAC包括:第一解码器(10),其接收N个参考电压和n位数字信号(其中n = 4)并选择第一至第三电压(包括端值); 以及计算放大器(60),其接收第一至第三电压作为输入,并输出(第一电压+第二电压+ 2 *第三电压)/ 4的电压电平。计算放大器(60)被视为能够输出 从电平A到电平(A-1 + 2 ^ n)的2 ^ n个电压电平,这是n位数字信号的2 ^ n个组合中的每一个的参考电平。 N个参考电压包括:{1 + 2 ^(n - ))中的四个参考电压,A电平,(A + 4)电平,(A-4 + 2 ^ n)电平和(A + 2)}对应于A + 4k(其中k是从0-2 ^(n-2))的整数的参考电压是从A电平到(A-1 + 2 ^ n)电平,它们是2 ^ n个输出电压电平; 和至多一个参考电压,其中从{-3 + 2 ^(n-2)}个预定的参考电压除了四个参考电压以外的参考电压 对应于来自A电平的每个第四电压电平的{1 + 2 ^(n-2)}个参考电压被下采样。 N大于或等于4,并且为2 ^(n-2)。
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公开(公告)号:WO2012120591A1
公开(公告)日:2012-09-13
申请号:PCT/JP2011/055059
申请日:2011-03-04
Applicant: ルネサスエレクトロニクス株式会社 , 鶴田 環 , 加藤 多実結
IPC: G11C16/02
CPC classification number: G06F12/0246 , G11C16/225
Abstract: 内部レジスタ(41)には、フラッシュメモリ(11)の動作を制御するための値が格納される。電源遮断検出用レジスタ(47)は、電源遮断が発生したときに保持する値が変化するものであり、特定のメモリセル(36)に記憶されるデータが書込まれる。そして、EX-OR回路(48)は、特定のメモリセル(36)に記憶されるデータと、電源遮断検出用レジスタ(47)の値とを比較して電源遮断を検出する。電源遮断が検出されたときに、内部レジスタ(41)の値が再設定される。したがって、電源遮断が発生したときにフラッシュメモリ(11)が誤動作するのを防止することができる。
Abstract translation: 在本发明中,在内部寄存器(41)中存储有用于控制闪速存储器(11)的操作的值。 电源中断检测使用寄存器(47)使得当发生电源中断时保持的值变化,从而将存储在特定存储单元(36)中的数据写入其中。 然后,异或电路(48)将要存储在特定存储单元(36)中的数据与电源中断检测用寄存器(47)中的值进行比较,以检测电源中断。 当检测到电源中断时,内部寄存器(41)的值被重新设置。 因此,当发生电源中断时,可以防止闪存(11)的故障。
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公开(公告)号:WO2012107998A1
公开(公告)日:2012-08-16
申请号:PCT/JP2011/052635
申请日:2011-02-08
Applicant: ルネサスエレクトロニクス株式会社 , 寺田 隆司
Inventor: 寺田 隆司
IPC: H01L29/78 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7816 , H01L29/0653 , H01L29/0692 , H01L29/086 , H01L29/0878 , H01L29/0882 , H01L29/1087 , H01L29/4238
Abstract: 半導体基板(SUB)の主表面において、n + ソース領域(NSR)の周囲をn + ドレイン領域(NDR)が取り囲んでいる。n型ドリフト領域(DRI)の内周側端縁(DRII)および素子分離構造(IS1)の内周側端縁(IS1I)の各々は、平面視にて互いに直交する長軸方向と短軸方向とにおいて短軸方向よりも長軸方向に長く延びる平面形状を有している。平面視においてn型ドリフト領域(DRI)の内周側端縁(DRII)は、長軸方向の両端部の少なくとも一部で素子分離構造(IS1)の内周側端縁(IS1I)よりも外周側に位置し、かつ両端部に挟まれる長軸方向の中央部で素子分離構造(IS1)の内周側端縁(IS1I)よりも内周側に位置している。これにより、オン抵抗を低減しつつ、オフ耐圧を向上させることができる。
Abstract translation: 在半导体衬底(SUB)的主表面上,n +漏极区域(NDR)围绕n +源极区域(NSR)。 n型漂移区域(DRI)的内周侧端缘(DRII)和元件隔离结构(IS1)的内周侧端缘(IS1I)各自具有沿长轴方向延伸的平面形状 与短轴方向相比,长轴方向和短轴方向在平面图中彼此垂直。 在俯视图中,n型漂移区域(DRI)的内周侧端缘(DRII)配置在从元件隔离结构体(IS1)的内周侧端缘(IS1I)的外周侧 沿长轴方向的两端部的至少一部分配置在长轴方向的中心部的从元件隔离结构体(IS1)的内周侧端缘(IS1I)的内周侧, 夹在两端部之间。 利用这种结构,可以在降低导通电阻的同时提高截止击穿电压。
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