Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Laseranordnung, wobei in einer Laseranordnung ein Laserstrahl auf eine Bearbeitungs-/ Abbildungsebene fokussiert und der Laserstrahl mittels mindestens eines Strahlformers hinsichtlich seiner Intensitätsverteilung angepasst werden kann. Dabei ist vorgesehen, dass der Laserstrahl mittels eines Strahlteilers in mindestens einen weiteren zweiten Teilstrahl aufgeteilt und in einem ersten Teilstrahl Abweichungen des Strahlprofils von einem Sollstrahlprofil bestimmt und aus einer Differenz zum Sollstrahlprofil für den mindestens zweiten Teilstrahl ein Kompensationsstrahlprofil berechnet und mittels eines mindestens zweiten Strahlformers der zweite Teilstrahl moduliert wird, und anschließend der erste Teilstrahl und der mindestens zweite Teilstrahl mittels einer Strahlzusammenführung überlagert und auf die Bearbeitungs-/ Abbildungsebene fokussiert werden. Damit können störende Specklemuster zwar nicht beseitigt, aber dafür kompensiert werden, womit die Strahlqualität insbesondere für Laserbearbeitungsprozesse oder Laserprojektionen deutlich verbessert werden kann.
Abstract:
Ein Bestrahlungssystem (3) für eine Vorrichtung (1) zur laserbasierten generativen Fertigung weist eine ersten Strahlquelle (13) eines ersten Laserstrahls (13A) und eine zweiten Strahlquelle (15) eines zweiten Laserstrahls (15A) auf, wobei der zweite Laserstrahl (15A) eine Strahlgüte aufweist, die höher ist als die des ersten Laserstrahls (13A). Ferner weist das Bestrahlungssystem (3) eine gemeinsamen Scanneroptik (21) zur Fokussierung des ersten Laserstrahls (13A) und des zweiten Laserstrahls (13B) innerhalb eines Fertigungsraums (5) der Vorrichtung (1) und ein Strahlführungssystem mit einem ersten Strahlengang (13A') zur Führung des ersten Laserstrahls (13A) von der ersten Strahlquelle (13) zur Scanneroptik (21) und mit einem zweiten Strahlengang (15A') zur Führung des zweiten Laserstrahls (15A) von der zweiten Strahlquelle (15) zur Scanneroptik (21) auf, wobei das Strahlführungssystem einen Strahlenkombinierer (19) zur Überlagerung der Strahlengänge des ersten Strahlengangs (13A') und des zweiten Strahlengangs (15A') aufweist.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Bestimmung geometrischer Parameter eines Laserstrahls. Dazu wird eine Vorrichtung vorgeschlagen, welche ein optisches System, eine Einrichtung zur Auskopplung von Strahlung, eine Strahldiagnose-Einrichtung, und ein Reflektor-Element beinhaltet. Das optische System ist zur Fokussierung eines Laserstrahls in einen Bearbeitungs-Bereich ausgebildet. Die Einrichtung zur Auskopplung von Strahlung ist ausgebildet zur Auskopplung von Strahlung, die in einer dem Laserstrahl entgegengesetzten Richtung durch das optische System läuft. Das Reflektor-Element hat eine erste Fläche, die teilreflektierend und gekrümmt ist. Das Reflektor-Element ist positionierbar in einem Positionier-Bereich zwischen dem optischen System und dem Bearbeitungs-Bereich. Dabei ist die Krümmung der ersten Fläche des Reflektor-Elements gleich einer mittleren Krümmung einer Wellenfront des vom optischen System fokussierten Laserstrahls im Positionier-Bereich des Reflektor-Elements. Die Erfindung betrifft auch ein Verfahren zur Bestimmung geometrischer Parameter eines Laserstrahls.
Abstract:
Bei einem Verfahren und einer Vorrichtung zur Materialbearbeitung wird ein von einem Faserlaser erzeugter Laserpuls verwendet, bei dem ein im Strahlengang des Laserstrahls (L) angeordnetes optisches Schaltelement (16) frühestens dann geschlossen wird, wenn die Ausgangsleistung (P) des Laserstrahls (L)einen vorgegebenen Wert unterschreitet.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung, insbesondere Laserbearbeitungskopf (1), zur Fokussierung eines Laserstrahls (2) auf ein Werkstück (3), umfassend: mindestens ein transmissives optisches Element (4), insbesondere ein Schutzglas, welches bezüglich einer Ebene (X, Y) senkrecht zur Strahlachse (5) des Laserstrahls (2) unter einem Kippwinkel (α) angeordnet ist, sowie einen Detektor (6) zur Erfassung von an dem transmissiven optischen Element (4) rückreflektierter Laserstrahlung (8a, 8b). Die Erfindung betrifft auch ein zugehöriges Verfahren zum Überwachen einer Laserbearbeitung.
Abstract:
Tailored laser pulse shapes are used for processing workpieces. Laser dicing of semiconductor device wafers on die-attach film (DAF), for example, may use different tailored laser pulse shapes for scribing device layers down to a semiconductor substrate, dicing the semiconductor substrate, cutting the underlying DAF, and/or post processing of the upper die edges to increase die break strength. Different mono-shape laser pulse trains may be used for respective recipe steps or passes of a laser beam over a scribe line. In another embodiment, scribing a semiconductor device wafer includes only a single pass of a laser beam along a scribe line using a mixed-shape laser pulse train that includes at least two laser pulses that are different than one another. In addition, or in other embodiments, one or more tailored pulse shapes may be selected and provided to the workpiece on-the-fly. The selection may be based on sensor feedback.
Abstract:
The invention relates to a method for producing a three-dimensional component (1) by means of a laser melting process, in which the component (1) is produced by consecutively solidifying individual layers made of building material (4) by melting the building material (4), wherein said building material can be solidified by the action of radiation, wherein the melting area (5) produced by a punctiform and/or linear energy input is detected by a sensor device (6, 11, 12, 18) and sensor values are derived therefrom in order to evaluate the component quality. The sensor values detected in order to evaluate the component quality are stored together with the coordinate values that locate the sensor values in the component (1) and are displayed by means of a visualization unit (29) in two- and/or multi-dimensional representation with respect to the detection location of the sensor values in the component.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Qualitätssicherung des Bearbeitungsergebnisses bei der Bearbeitung eines Werkstückes (4) mittels Laser, insbesondere was die Positionierung und Leistungskontrolle der auf dem Werkstück (4) auftreffenden Energiemenge inklusive Selbstkalibrierung und Driftkompensation betrifft, was erst die zentrale Administrierung dezentral aufgestellter Geräte ermöglicht. Vor dem Bearbeiten des Werkstückes (4) wird wenigstens ein Laserlicht-Sensor (5.1) mit geringer räumlicher Ausdehnung mit der Maschine fest verbunden und seine Position im Maschinen-Koordinatensystem ermittelt, der wenigstens eine Laserlicht-Sensor (5.1) mit Laserlicht abgetastet, beim maximalen Sensor-Signal die Auftreffposition des Laserstrahls als übereinstimmend mit der Position des Laserlicht-Sensors (5.1) unterstellt und im Laser-Koordinatensystem bestimmt, aus der Differenz der Position des Sensors (5.1) im Maschinen-Koordinatensystem und der Auftreffposition des Laserstrahls im Laser-Koordinatensystem wenigstens ein Punkt-Korrekturwert automatisch errechnet zur Anpassung des Laser-Koordinatensystems an das Maschinen-Koordinatensystem und bei der anschließenden Bearbeitung des Werkstückes (4) der Laserstrahl nach dem Laser-Koordinatensystem unter Berücksichtigung des wenigstens einen Korrekturwertes ausgelenkt wird.
Abstract:
The present disclosure relates to a modular fiber laser system operative to controllably guide a beam which is launched from a feeding fiber into a process fiber so that the high-aperture component is coupled and guided in cladding of the process fiber, and a low-aperture component is coupled into the core of the fiber. The laser system further has a reflective element configured with light-reflecting and light-transmitting portions. The high-aperture component at least partially decouples from the cladding into the core so that the core radiates the high- aperture and low-aperture components. The high-aperture component is incident upon the light-reflecting portion and backreflected into the process fiber so that a sensor array, which is located between the feeding and process fibers, detects the reflected light. The laser system further includes an adjustment system operatively connected to the sensor array and configured to displace the fibers relative to one another to an alignment position after the sensor array detects a maximum signal of the reflected high-aperture component.